揭秘 Sensofar CSI 白光干涉是如何運(yùn)作的？
為了測(cè)量超光滑的表面及中等粗糙表面的表面高度，通過干涉技術(shù)，可在任何放大倍率下實(shí)現(xiàn)相同的系統(tǒng)噪聲，它可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于 0.01 nm 的系統(tǒng)噪聲。
干涉工作原理
干涉技術(shù)的工作原理是：將光分成光學(xué)傳播路徑不同的兩個(gè)光束，然后再合并，從而產(chǎn)生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)后，可在樣本上觀察到條紋。
CSI （白光干涉）使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度，任何放大倍率下均達(dá)到 1 nm 的高度分辨率。
采用干涉法，3D 測(cè)量能以高精度進(jìn)行。可沿 Z 軸掃描，在整個(gè)樣本上獲得條紋，用獲取的不同像素的高度重新構(gòu)建 3D 圖像。
如需了解詳細(xì)情況，請(qǐng)咨詢邱經(jīng)理17701039158（同微信）。
審核編輯 黃宇
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干涉儀
優(yōu)可測(cè)
發(fā)布于 :2025年08月07日 09:12:38
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