CMOS圖像傳感器(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Image Sensor 簡稱CIS)是一種將光信號轉換為電信號，并進一步處理為數(shù)字圖像信號的半導體器件，是攝像頭的核心元件，被廣泛應用于相機、手機、車載視覺等各領域攝像頭中。

近日，廣立微(Semitronix)與中國本土CMOS圖像傳感器的先進供應商思特威(SmartSens，股票代碼688213)，在良率數(shù)據(jù)管理分析業(yè)務領域達成合作一周年。過去一年，廣立微DE-YMS系統(tǒng)在良率提升及良率數(shù)據(jù)管理分析領域為思特威提供助力，在其消費電子及汽車電子控等多產(chǎn)品線中，深度賦能其良率管控體系，實現(xiàn)顯著加速工藝優(yōu)化周期，推動良率從量產(chǎn)初期快速爬升至目標水平。

DE-YMS半導體全流程數(shù)據(jù)分析

DE-YMS 系統(tǒng)：wafer 分區(qū)分析

DE-YMS系統(tǒng)的zonal analysis模塊為思特威工程師提供了快速在wafer上分區(qū)域分析，支持多種靈活的分區(qū)管理，其結果也是秒級刷新，尤其是在 4-cut PH process for process window check，need check 4 cut CP variation場景下，為用戶提供了強大的分析工具。

DE-G 通用半導體數(shù)據(jù)分析

DE-G 搭建 Die to Die 分析模板

思特威工程師利用DE-G自主搭建了Die to Die分析模板，通過執(zhí)行新機校準流程，利用標準晶圓(Golden Wafer)采集新舊測試機測試數(shù)據(jù)集，基于標準化分析模板驗證數(shù)據(jù)分布的一致性及統(tǒng)計顯著性差異，建立客觀評估體系以規(guī)避人為主觀判斷偏差。

1、相同Die相同測試項的精細化對比分析

2、多參數(shù)多準則的跨機臺測試的協(xié)同驗證

3、通過多機臺交叉測試同一晶圓的Bin的結果對比

用戶反饋

DE-G 靈活的模板設計為多種場合的數(shù)據(jù)分析處理提供了便利，用戶可以根據(jù)實際需求定制模板;YMS dashboard則能輕松實現(xiàn)長期/大批量的數(shù)據(jù)監(jiān)測，二者搭配使用顯著提升了我們的工作效率。

——From 思特威產(chǎn)品工程師

廣立微的系統(tǒng)化解決方案將與思特威的像素創(chuàng)新技術緊密合作，助力其高端產(chǎn)品良率提升、降低邊際制造成本;同時，思特威的海量生產(chǎn)數(shù)據(jù)反哺也將推動廣立微的AI分析引擎持續(xù)進化。

雙向賦能的合作，不僅為雙方創(chuàng)造技術突破與商業(yè)增長的雙贏空間，更將加速國產(chǎn)CIS產(chǎn)業(yè)鏈升級，為全球半導體競爭格局注入新動能。

關于思特威

思特威(上海)電子科技股份有限公司是一家從事CMOS圖像傳感器芯片產(chǎn)品研發(fā)、設計和銷售的高新技術企業(yè)，總部設立于中國上海，在多個城市及國家設有研發(fā)中心。

自成立以來，思特威始終專注于高端成像技術的創(chuàng)新與研發(fā)，憑借自身性能優(yōu)勢得到了眾多客戶的認可和青睞。作為致力于提供多場景應用、全性能覆蓋的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品企業(yè)，公司產(chǎn)品已覆蓋了智能手機、智能車載電子、機器視覺等多場景應用領域的全性能需求。

思特威將秉持“以前沿智能成像技術，讓人們更好地看到和認知世界”的愿景，以客戶需求為核心動力，持續(xù)推動前沿成像技術升級，拓展產(chǎn)品應用領域，與合作伙伴一起助推未來智能影像技術的深化發(fā)展。