導(dǎo)讀

在工業(yè)制造邁向高精度、智能化的進(jìn)程中，聚焦離子束(FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。在此背景下，廣電計(jì)量攜手南京大學(xué)、中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)、上海交通大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)的科研精英共同編寫《聚焦離子束：失效分析》新書(下稱“專著”)，填補(bǔ)了國內(nèi)聚焦離子束領(lǐng)域?qū)嵺`性專業(yè)書籍的空白，為聚焦離子束技術(shù)發(fā)展與知識(shí)傳播提供了重要助力。

4月25日下午，由廣電計(jì)量、專著編著團(tuán)隊(duì)聯(lián)合主辦，無錫廣電計(jì)量承辦的工業(yè)FIB發(fā)展研討會(huì)暨新書發(fā)布儀式在廣電計(jì)量華東檢測基地舉辦。來自半導(dǎo)體制造、材料研發(fā)、儀器儀表等領(lǐng)域的近百位行業(yè)專家、企業(yè)代表共聚一堂，圍繞FIB電鏡在顯微分析領(lǐng)域的應(yīng)用展開交流，共同探討FIB技術(shù)應(yīng)用方向和最新的發(fā)展趨勢。

江南大學(xué)智能制造學(xué)院院長李可，南京大學(xué)亞原子電鏡中心主任鄧昱，國儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司董事長賀羽，復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系教授鄭長林，東南大學(xué)教授尹奎波，上海交通大學(xué)研究員王英，哈爾濱工業(yè)大學(xué)分析測試中心副主任鄒永純，中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)微納研究與制造中心主任助理汪林俊，江蘇省產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院高級(jí)工程師谷雨，廣電計(jì)量黨委副書記、總經(jīng)理明志茂，廣電計(jì)量副總經(jīng)理吳乃林、黃英齡、陸裕東等嘉賓出席會(huì)議。會(huì)議由廣電計(jì)量總經(jīng)理助理、無錫廣電計(jì)量總經(jīng)理儲(chǔ)程晨主持。

行業(yè)大咖共話FIB

技術(shù)發(fā)展新方向

陸裕東表示，設(shè)備國產(chǎn)化、技術(shù)能力、工程實(shí)操經(jīng)驗(yàn)是制約技術(shù)大規(guī)模應(yīng)用的“卡脖子”三大因素，亟需行業(yè)各方共同努力。值專著發(fā)布之際，廣電計(jì)量搭建技術(shù)交流平臺(tái)，共同探討如何讓FIB技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室走向生產(chǎn)線，從“技術(shù)優(yōu)勢”轉(zhuǎn)化為“產(chǎn)業(yè)勝勢”。未來，廣電計(jì)量將繼續(xù)推動(dòng) FIB 技術(shù)從單點(diǎn)突破到系統(tǒng)創(chuàng)新、從可用到好用，成為 FIB 技術(shù)領(lǐng)域的實(shí)踐者與推動(dòng)者。

賀羽表示，國儀量子在過去一年在高端儀器設(shè)備領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)多項(xiàng)技術(shù)能力突破，與企業(yè)、高校合作推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)落地。未來，國儀量子將以開放合作、技術(shù)賦能、人才共育的方式繼續(xù)助力FIB技術(shù)發(fā)展。

鄧昱表示，在行業(yè)爆發(fā)式發(fā)展態(tài)勢下，專著和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布將進(jìn)一步完善技術(shù)規(guī)范，賦能行業(yè)更高效、科學(xué)地發(fā)展;與此同時(shí)，行業(yè)亟需高端設(shè)備和操作技術(shù)普及，以學(xué)術(shù)界與產(chǎn)業(yè)界的深度融合為紐帶，推動(dòng)FIB新技術(shù)、新成果的轉(zhuǎn)化應(yīng)用，為現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)升級(jí)提供更強(qiáng)勁的創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)力。

權(quán)威專著首發(fā)

凝聚產(chǎn)學(xué)研用智慧結(jié)晶

《聚焦離子束：失效分析》是FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域的權(quán)威著作，由知名高?？蒲薪淌诼?lián)合廣電計(jì)量博士專家共同編撰，內(nèi)容涵蓋了設(shè)備原理、制樣工藝、典型案例等全流程技術(shù)解析以及大量鮮活的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，凝聚了編者們對(duì)目前FIB技術(shù)應(yīng)用的實(shí)踐總結(jié)，為從業(yè)者提供可落地的實(shí)操指南。

本次會(huì)議特別邀請(qǐng)鄧昱、王英、鄒永純、汪林俊、陸裕東、陳振等5位編著者與特邀嘉賓共同登臺(tái)揭曉這本凝聚產(chǎn)學(xué)研智慧的重磅著作。

具身智能研究院揭牌

護(hù)航產(chǎn)品全生命周期

2025 年《政府工作報(bào)告》首次將 “具身智能” 明確列為未來產(chǎn)業(yè)。這一重磅部署，不僅標(biāo)志著我國人工智能發(fā)展從虛擬算法向物理世界深度融合的重大轉(zhuǎn)向，更預(yù)示著具身智能將成為重構(gòu)全球產(chǎn)業(yè)競爭格局的核心力量。

廣電計(jì)量瞄準(zhǔn)國家戰(zhàn)略需求，加速具身智能產(chǎn)業(yè)布局，揭牌成立《具身智能產(chǎn)業(yè)先進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)用研究院》。該研究院由江南大學(xué)與廣電計(jì)量聯(lián)合建設(shè)，延續(xù)廣電計(jì)量FIB技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化、國產(chǎn)化探索，通過融合 AI 算法，推動(dòng)傳統(tǒng)分析技術(shù)從“單點(diǎn)檢測” 跨越至“全鏈路智能診斷”。未來，廣電計(jì)量將構(gòu)建覆蓋“芯片-算法-系統(tǒng)-裝備”全鏈條的綜合服務(wù)體系，為具身智能產(chǎn)品在復(fù)雜場景下的穩(wěn)定性與可靠性提供全生命周期技術(shù)護(hù)航。

前沿技術(shù)分享

探索 FIB 應(yīng)用多元場景

本次會(huì)議邀請(qǐng)了5位來自編著團(tuán)隊(duì)和高校的科研專家教授，聚焦先進(jìn)制程芯片解剖、微納加工技術(shù)及發(fā)展趨勢、半導(dǎo)體材料與器件電鏡表征、納米器件、材料表界面與原位表征等領(lǐng)域的前沿應(yīng)用，結(jié)合技術(shù)應(yīng)用分享技術(shù)難點(diǎn)解決方案，展現(xiàn)了FIB技術(shù)在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈從設(shè)計(jì)研發(fā)、制造封測到失效分析的全生命周期賦能，加速FIB技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室走向產(chǎn)業(yè)應(yīng)用的 “最后一公里”。

五場干貨滿滿的技術(shù)報(bào)告后，由鄧昱老師主持開放論壇環(huán)節(jié)。嘉賓們圍繞行業(yè)熱點(diǎn)展開深度思辨，聚焦AI智能在FIB技術(shù)中的應(yīng)用現(xiàn)狀和實(shí)際場景、FIB技術(shù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布對(duì)于半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展的指導(dǎo)意義、FIB、SEM、TEM等技術(shù)在先進(jìn)制程集成電路應(yīng)用中的發(fā)展趨勢等話題進(jìn)行踴躍交流。

此外，論壇還組織了實(shí)驗(yàn)室參觀環(huán)節(jié)，帶領(lǐng)與會(huì)嘉賓走進(jìn)廣電計(jì)量無錫實(shí)驗(yàn)室，零距離體驗(yàn)先進(jìn)檢測技術(shù)和設(shè)備，與一線技術(shù)人員進(jìn)行互動(dòng)交流。

錨定產(chǎn)業(yè)新機(jī)遇

共繪 FIB 技術(shù)發(fā)展藍(lán)圖

在 “十四五” 規(guī)劃對(duì)先進(jìn)制造與具身智能的戰(zhàn)略布局下，F(xiàn)IB 技術(shù)作為支撐 “中國智造” 的核心底層技術(shù)，已成突破高端裝備 “卡脖子” 難題的必爭之地。廣電計(jì)量作為國內(nèi)半導(dǎo)體一站式測試分析技術(shù)解決方案提供商，將以專著發(fā)布及研究院成立為起點(diǎn)，持續(xù)推進(jìn) FIB 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化及國產(chǎn)化，攜手產(chǎn)業(yè)鏈上下游深化技術(shù)研發(fā)、設(shè)備迭代、生態(tài)共建合作，為高端制造產(chǎn)業(yè)升級(jí)注入更強(qiáng)動(dòng)力!