近日，NEPCON China 2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測試、功率半導體測試等關鍵領域的熱門測試需求，以頂尖測試產品和解決方案為支點，為展會增添了濃墨重彩的一筆。

我司的展位前人頭攢動、熱鬧非凡，新老客戶、圈層同仁及海外觀眾紛至沓來。SPEA團隊精神飽滿、熱情洋溢，與觀眾深度互動，盡顯公司在電性能測試、半導體測試領域的強大品牌影響力和卓越技術底蘊。在ICPF半導體封測示范區(qū)，DOT800T功率半導體測試儀成為全場焦點。它是功率半導體測試“全能多面手”，契合晶圓、KGD、分立器件、IPM、DBC、IGBT模塊等主流功率半導體產品廣泛的測試要求。不僅贏得行業(yè)頭部企業(yè)的廣泛青睞與大規(guī)模應用，更助力眾多獨角獸企業(yè)打破測試效率桎梏，實現(xiàn)跨越式提升。

在LED測試技術革新浪潮中，SPEA的T100L測試設備無疑是耀眼新星，多項原創(chuàng)技術引發(fā)行業(yè)震動，其獨特的無光纖測試夾具為LED產品測試帶來更高靈活性；飛行掃描測試技術堪稱“質效加速器”，全面覆蓋燈光強度、顏色特性、光譜等核心測試項目,有望樹立LED產品批量生產測試新典范。

4080飛針測試儀、3030Rack等經典機型同樣備受矚目,這些早已歷經市場驗證的標桿產品，憑借其卓越的穩(wěn)定性和廣泛的適用性，持續(xù)賦能電子制造領域多樣化的測試場景，吸引了眾多新老客戶駐足交流，進一步夯實了SPEA在業(yè)界的領先地位。

功率半導體技術及應用大會上，SPEA蘇州總經理孫媛麗女士以產業(yè)需求為導向，分享《SPEA KGD Testing Turnkey solution》，詳細闡述了我司在KGD測試領域的創(chuàng)新成果與技術優(yōu)勢，為功率半導體良率提升提供了可復制路徑。

轉眼間，三天的盛會已經落幕。SPEA與全球數(shù)百家優(yōu)秀企業(yè)共同見證了智慧碰撞激發(fā)的創(chuàng)新活力，深切感受到產業(yè)協(xié)同釋放的強勁動能。感謝每一位到訪觀眾的關注，期待與更多伙伴攜手同行、共拓新機遇！