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利用深入洞察分析來測(cè)試軟件

工程師兵營(yíng) ? 來源:互聯(lián)網(wǎng) ? 作者:佚名 ? 2018-06-27 09:29 ? 次閱讀
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嵌入式系統(tǒng)現(xiàn)在變得更加智能,互連程度更高,當(dāng)然也比以前要復(fù)雜。要讓嵌入式系統(tǒng)保持穩(wěn)健并盡可能接近無錯(cuò)誤,開發(fā)團(tuán)隊(duì)需要有效的方法來進(jìn)行測(cè)試,驗(yàn)證系統(tǒng)能否按預(yù)期的方式工作。測(cè)試工作中最關(guān)鍵,通常也是難度最高的方面,就是在微控制器上運(yùn)行軟件。

由于在資源受限的器件上使用最新測(cè)試技術(shù)存在困難,微控制器軟件測(cè)試通常落后于在基于應(yīng)用處理器的器件上執(zhí)行的測(cè)試。但是,由于我們?cè)谂c傳統(tǒng)測(cè)試工具設(shè)計(jì)技術(shù)配合使用的調(diào)試技術(shù)方面取得了新進(jìn)展,嵌入式系統(tǒng)開發(fā)人員現(xiàn)在能夠更加有效地測(cè)試系統(tǒng)軟件。

本文將向開發(fā)人員介紹如何使用這些新技術(shù),以及新技術(shù)實(shí)施所需的設(shè)備和工具。

嵌入式測(cè)試的要求變化

現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具要求開發(fā)人員采用以下四種主要組件,才能完全測(cè)試他們的系統(tǒng)(圖 1):

測(cè)試嵌入式系統(tǒng)所需的各種接口和工具的框圖

圖 1: 測(cè)試嵌入式系統(tǒng)所需的各種接口和工具,包括調(diào)試器、通信轉(zhuǎn)換器、邏輯分析儀和模數(shù)轉(zhuǎn)換器。(圖片來源:Beningo Embedded Group)

使用這四個(gè)組件,開發(fā)人員能夠在系統(tǒng)級(jí)別和微控制器級(jí)別上測(cè)試嵌入式軟件,還可向下深入到由微處理器執(zhí)行的指令。在當(dāng)今的開發(fā)環(huán)境中,這一點(diǎn)非常關(guān)鍵,旨在確保構(gòu)建的系統(tǒng)不僅能夠滿足需求,還能夠可靠地運(yùn)行。

初看起來,圖 1 可能類似于非常傳統(tǒng)的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具,但它的進(jìn)步和新功能真正源于一種分析微控制器中運(yùn)行情況的全新方式,稱為“深入洞察分析”(Deep Insight Analysis)。

利用深入洞察分析來測(cè)試軟件

深入洞察分析讓開發(fā)人員能夠在運(yùn)行時(shí)分析系統(tǒng)。深入洞察分析有三個(gè)關(guān)鍵組成部分:

  • RTOS 感知的調(diào)試

  • 運(yùn)行時(shí)分析

  • 剖析和代碼覆蓋分析

開發(fā)人員通常在設(shè)計(jì)應(yīng)用之后,使用基本調(diào)試技術(shù)(例如斷點(diǎn)調(diào)試)嘗試了解系統(tǒng)的工作情況,隨后立即開始測(cè)試。在存在斷點(diǎn)的情況下進(jìn)行測(cè)試只流于表面,無法讓開發(fā)人員真正了解微控制器中的運(yùn)行情況。使用深入洞察分析,開發(fā)人員能夠在基本測(cè)試和調(diào)試之外更深入地挖掘 RTOS、運(yùn)行時(shí)行為、執(zhí)行分析和覆蓋(圖 2)。

深入洞察分析不僅限于基本測(cè)試和調(diào)試的圖片

圖 2: 深入洞察分析能夠在基本測(cè)試和調(diào)試之外更深入地挖掘 RTOS、運(yùn)行時(shí)行為、執(zhí)行分析和覆蓋。(圖片來源: Beningo Embedded Group)

要為測(cè)試工具添加深入洞察分析功能,開發(fā)人員必須使用專業(yè)調(diào)試工具,例如 Segger Microcontroller Systems、J-Trace 或 J-Link Ultra+(圖 3)。J-Link Ultra+ 使用標(biāo)準(zhǔn)的 JTAG 或 SWD 接口,從板載調(diào)試模塊提取跟蹤數(shù)據(jù)。這些信息可用于執(zhí)行多種不同分析,例如 RTOS 感知的調(diào)試。

圖 3: Segger 的 J-Link Ultra+ 使用標(biāo)準(zhǔn)的 JTAG 或 SWD 接口,從板載調(diào)試模塊提取跟蹤數(shù)據(jù)。(圖片來源: Segger Microcontroller Systems)

使用 RTOS 感知的調(diào)試,開發(fā)人員能夠在執(zhí)行測(cè)試案例時(shí)監(jiān)控任務(wù)的執(zhí)行情況。例如開發(fā)人員能夠深入了解以下情況:

  • 最大堆棧使用

  • 任務(wù)運(yùn)行計(jì)數(shù)

  • 任務(wù)狀態(tài)

圖 4 顯示了結(jié)合使用 Segger 的 embOS RTOS 和 Embedded Studio 的測(cè)試會(huì)話示例。此視圖可以讓開發(fā)人員深入了解 RTOS 的運(yùn)行情況,但無法提供應(yīng)用運(yùn)行情況的完整信息。

Segger 的 embOS RTOS 和 Embedded Studio IDE 的圖片

圖 4: 使用 Segger 的 embOS RTOS 和 Embedded Studio IDE 的 RTOS 感知調(diào)試的示例(圖片來源:Beningo Embedded Group)

開發(fā)人員可以使用 Segger 的免費(fèi) SystemView 實(shí)用工具或 Percepio 的 Tracealyzer 工具,進(jìn)一步增強(qiáng)測(cè)試工具。這些工具為開發(fā)人員提供運(yùn)行時(shí)分析,以便他們?cè)谶\(yùn)行測(cè)試套件時(shí),直觀地查看和分析應(yīng)用的執(zhí)行情況。為了采集這些跟蹤數(shù)據(jù),開發(fā)人員需要配置他們的應(yīng)用,以便在 IDE 內(nèi)部進(jìn)行跟蹤,或者使用配置工具進(jìn)行跟蹤。如果沒有使用工具,他們可以手動(dòng)集成低級(jí)別庫。

運(yùn)行時(shí)分析可為開發(fā)人員提供有關(guān)應(yīng)用運(yùn)行情況的豐富信息(圖 5)。例如,開發(fā)人員能夠:

  • 跟蹤事件的時(shí)間和順序

  • 獲取最大、最小和平均的執(zhí)行時(shí)間

  • 直觀地查看任務(wù)執(zhí)行,以及任務(wù)何時(shí)切換

  • 監(jiān)控 CPU 負(fù)載

  • 分析任務(wù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

  • 識(shí)別潛在問題,例如優(yōu)先級(jí)反轉(zhuǎn)、任務(wù)抖動(dòng)和死鎖

使用跟蹤工具 SystemView 進(jìn)行的運(yùn)行時(shí)分析的圖片

圖 5: 使用跟蹤工具 SystemView 進(jìn)行的運(yùn)行時(shí)分析。(圖片來源:Beningo Embedded Group)

雖然為測(cè)試工具添加了 RTOS 感知的調(diào)試和運(yùn)行時(shí)分析功能,但這可能還不足夠。在很多實(shí)例中,錯(cuò)誤可能隱藏在測(cè)試過程中從不執(zhí)行的代碼中。對(duì)于開發(fā)人員而言,了解哪些代碼行已經(jīng)執(zhí)行過可能非常困難。在這一方面,J-Trace 等工具為我們帶來了很多便利。

如何跟蹤已執(zhí)行代碼

J-Trace 使用微控制器中的嵌入式跟蹤宏單元 (ETM) 端口來執(zhí)行指令跟蹤。通過指令跟蹤,J-Trace 能夠“看到”在處理器上執(zhí)行的每一個(gè) CPU 指令,以及代碼的準(zhǔn)確路徑。

在測(cè)試工具中使用這種分析,開發(fā)人員能夠確定測(cè)試案例是否達(dá)到了 80%、90% 或 100% 的代碼覆蓋率。如果測(cè)試覆蓋率只有 95%,但又必須達(dá)到 100% 的覆蓋率才能交付產(chǎn)品,他們可以使用類似于 Ozone 的免費(fèi)實(shí)用工具,查看哪些代碼行已經(jīng)執(zhí)行,更重要的是查看哪些代碼行尚未執(zhí)行(圖 6)。然后可以添加新的測(cè)試案例,確保這些遺漏的代碼行在測(cè)試中得到執(zhí)行。

使用 Ozone 執(zhí)行代碼分析的圖片

圖 6: 使用 Ozone 執(zhí)行代碼分析。(圖片來源:Beningo Embedded Group)

借助深入洞察分析提供的強(qiáng)大工具,開發(fā)人員現(xiàn)在能夠自由專注于構(gòu)建有效測(cè)試工具所必需的其他組件。測(cè)試工具的另一個(gè)至關(guān)重要的組件是在測(cè)試過程中用于與微控制器通信并控制其行為的工具。

命令和控制嵌入式系統(tǒng)

對(duì)于如何與外界進(jìn)行交互,每個(gè)嵌入式都有不同的需求。有些器件可能通過簡(jiǎn)單的 UART 進(jìn)行通信,而其他器件則可能使用 CAN 或 TCP/IP。為了成功地構(gòu)建能夠與系統(tǒng)進(jìn)行通信并讓其執(zhí)行命令的測(cè)試工具,開發(fā)人員必須在測(cè)試工具中增加通信硬件和軟件。

雖然嵌入式系統(tǒng)使用了大量不同的通信接口,但其中一種接口比其他任何接口都更加常用,那就是 UART。嵌入式軟件開發(fā)人員習(xí)慣使用 UART,將這種接口包括在測(cè)試工具中很重要,原因有幾個(gè),其中包括:

  • 為了調(diào)試信息,例如打印消息(雖然這些信息應(yīng)該通過調(diào)試器發(fā)送)

  • 設(shè)備發(fā)出命令

  • 監(jiān)控多個(gè)器件之間的內(nèi)部通信

  • 易于使用

每個(gè)開發(fā)人員都應(yīng)在實(shí)驗(yàn)室常備的一種通用 UART 工具是由 SparkFun Electronics 提供的 BOB-12731 FT232R, USB-to-UART 評(píng)估板(圖 7)。

圖 7: 來自 SparkFun Electronics 的 BOB-12731 FT232R, USB-to-UART 評(píng)估板在任何實(shí)驗(yàn)室中都非常實(shí)用,因?yàn)樗梢暂p松連接到任何嵌入式系統(tǒng)。(圖片來源: SparkFun Electronics)

這些價(jià)格低廉的評(píng)估板可以輕松連接到任何嵌入式系統(tǒng),并在 PC 上作為簡(jiǎn)單的通信端口。它不需要任何特殊驅(qū)動(dòng)程序或軟件就能與嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行通信。開發(fā)人員只需打開 COM 端口即可開始發(fā)送和接收測(cè)試消息。

驗(yàn)證每個(gè)邏輯狀態(tài)

要對(duì)嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行完全測(cè)試,就需要開發(fā)人員驗(yàn)證微控制器的內(nèi)部工作情況,以及它產(chǎn)生的外部邏輯。這種邏輯可能是簡(jiǎn)單的輸入和輸出狀態(tài),以及低級(jí)別通信,例如 I2C 或 SPI。

但是,如果開發(fā)人員使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 和數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 板,則監(jiān)控輸入/輸出狀態(tài)和低級(jí)別通信可能成本高昂。開發(fā)人員可以利用一些技巧來降低成本,以便監(jiān)控這些信號(hào)和改進(jìn)測(cè)試功能。

第一個(gè)技巧是使用來自系統(tǒng)上的微控制器的開發(fā)板,來監(jiān)控微控制器引腳。例如,如果開發(fā)人員使用 STMicroelectronics STM32F767 或 STM32L4 微控制器,則他們應(yīng)該首先購買 STM32F767 Nucleo 板 或 STM32L476RGT6 Nucleo 板(圖 8)。

圖 8: STM32L476RGT6 Nucleo 板可用于監(jiān)控 STM32L4 微控制器上的引腳。(圖片來源:STMicroelectronics)

然后,他們應(yīng)該使用板上的針座,直接將每個(gè) I/O 引腳跳轉(zhuǎn)到系統(tǒng)上的相應(yīng)引腳。由于他們已經(jīng)為微控制器開發(fā)了低級(jí)別驅(qū)動(dòng)程序,因此可以輕松地調(diào)節(jié)這些驅(qū)動(dòng)程序,以便監(jiān)控微控制器的輸入和輸出狀態(tài)。

開發(fā)人員還可以添加少量額外代碼,例如 USB 驅(qū)動(dòng)程序,這樣開發(fā)板就能夠直接插入到測(cè)試主機(jī)。USB 可用于接收輸入/輸出樣本狀態(tài)數(shù)據(jù),隨后這些數(shù)據(jù)可以關(guān)聯(lián)至從系統(tǒng)發(fā)出和接收命令,以確定工作情況是否完全符合預(yù)期。

除了使用開發(fā)板之外,測(cè)試工具也可以使用邏輯探頭,例如同樣來自 SparkFun 的 Logic Pro 8(圖 9)。

圖 9: Logic Pro 8 是來自 SparkFun Electronics 的多功能邏輯探頭,讓開發(fā)人員能夠針對(duì)要監(jiān)控的對(duì)象,對(duì)每個(gè)輸入進(jìn)行編程。(圖片來源: SparkFun Electronics)

這些邏輯分析儀具有多功能性,在要監(jiān)控的對(duì)象方面,可通過軟件對(duì)每個(gè)輸入進(jìn)行修改。例如,開發(fā)人員可設(shè)置前兩個(gè)輸入來監(jiān)控開關(guān)輸入,同時(shí)使用接著的兩個(gè)輸入來監(jiān)控 I2C 通信,并使用剩余的輸入來監(jiān)控 SPI。數(shù)據(jù)可以輕松采集,然后與測(cè)試工具的剩余組件進(jìn)行同步,從而讓我們?nèi)媪私馇度胧较到y(tǒng)的工作情況。

構(gòu)建測(cè)試工具的技巧和訣竅

顯而易見,測(cè)試工具對(duì)于很多現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)是必不可少的。獲得認(rèn)證有時(shí)可能非常困難,但認(rèn)證產(chǎn)生的回報(bào)和帶來的系統(tǒng)穩(wěn)健性提升的價(jià)值會(huì)數(shù)倍于投資成本。在首次構(gòu)建測(cè)試工具時(shí),甚至在升級(jí)測(cè)試工具時(shí),開發(fā)人員可以利用多種技巧,確保構(gòu)建最有效的測(cè)試工具。其中包括:

  • 使用與主要目標(biāo)相同的處理器的開發(fā)套件,來監(jiān)控微控制器的數(shù)字輸入和輸出

  • 在支持跟蹤功能的調(diào)試器上進(jìn)行投資,并利用免費(fèi)的軟件包,以最深入地了解系統(tǒng)運(yùn)行情況

  • 運(yùn)行軟件跟蹤時(shí),請(qǐng)務(wù)必使用最壞情況測(cè)試,以確保您能夠獲取最壞情況場(chǎng)景

  • 如果沒有足夠的資金來構(gòu)建完善的測(cè)試工具,首先構(gòu)建較小的測(cè)試工具,然后隨著時(shí)間推移加以完善。哪怕只進(jìn)行一部分測(cè)試,也強(qiáng)于沒有進(jìn)行測(cè)試。

  • 花費(fèi)必要的時(shí)間掌握要在測(cè)試工具中使用的不同工具和組件

  • 不要害怕構(gòu)建您自己的接口,要充分利用現(xiàn)有軟件來監(jiān)控系統(tǒng)運(yùn)行情況

  • 不要做出任何假設(shè)!如果您沒有監(jiān)控輸出或觸發(fā)輸入,則很可能讓錯(cuò)誤乘虛而入。

總結(jié)

為嵌入式系統(tǒng)開發(fā)測(cè)試工具,是一種改進(jìn)嵌入式系統(tǒng)可靠性的低成本方法。精心選擇測(cè)試工具的組件,可以讓開發(fā)人員輕松監(jiān)控軟件的外部行為。測(cè)試的最關(guān)鍵而又經(jīng)常易于忽略的環(huán)節(jié)是檢查跟蹤數(shù)據(jù),現(xiàn)在這些數(shù)據(jù)可從微控制器輕松訪問。使用這些跟蹤數(shù)據(jù),開發(fā)人員能夠執(zhí)行深入洞察分析,同時(shí)執(zhí)行他們的測(cè)試案例,以確保其軟件即使針對(duì)個(gè)別指令也能按預(yù)期工作。

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    的頭像 發(fā)表于 08-27 17:33 ?1948次閱讀
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    MTA Studio:從測(cè)量測(cè)試執(zhí)行到數(shù)據(jù)價(jià)值洞察,全程賦能

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    的頭像 發(fā)表于 08-21 11:34 ?1024次閱讀
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    是德Infiniium UXR 示波器:以高帶寬、低噪聲與智能分析重塑測(cè)試精準(zhǔn)度

    Infiniium UXR 系列示波器以出色的寬帶毫米波測(cè)量 EVM 性能、時(shí)域與頻域多功能測(cè)量模式,以及可升級(jí)特性實(shí)現(xiàn)資源高效利用,成為科研與工程領(lǐng)域可靠且靈活的得力測(cè)試工具,為復(fù)雜設(shè)計(jì)提供深入
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    如何利用EPR分析USB PD?

    /ref_xdps2222_240w1/)。 我想知道是否有適用于 CY4500 或任何其他分析儀的新固件可以用于進(jìn)行一些測(cè)試。 或者,您建議我們?nèi)绾?b class='flag-5'>利用 EPR 分析 USB PD?
    發(fā)表于 05-21 06:40

    PanDao:制造成本影響分析軟件工具

    設(shè)計(jì)出 最佳的制造流程。這樣一,在光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)階段就能將制造成本降至最低。 圖1. 擬生產(chǎn)500片平面-非球面BK7透鏡,用PanDao軟件工具分析 圖2. PanDao分析
    發(fā)表于 05-12 08:55
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