衍射光學(xué)元件(DOE)因其在波前調(diào)制和色差校正方面的優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于紅外光學(xué)系統(tǒng)等領(lǐng)域。然而,其非連續(xù)面形結(jié)構(gòu)(如相位突變點和臺階高度)使得傳統(tǒng)檢測方法難以滿足精度要求。費曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測量解決方案,Flexfilm探針式臺階儀可以實現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測量,精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚,為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效率提升提供數(shù)據(jù)支撐。
本文采用探針式臺階儀對口徑120 mm的衍射光學(xué)元件進行檢測,分析了探針圓?。ò霃?–5 μm)、刀具“過切”和探針跳躍等誤差源,并通過數(shù)據(jù)濾波、微分處理和擬合算法,提取了臺階高度誤差(0.1 μm)和位置誤差(1 μm)。最終,將處理后的誤差數(shù)據(jù)反饋至補償加工過程,實現(xiàn)了面形誤差0.539 μm的精密制造,為DOE的高精度加工提供了有效的檢測與數(shù)據(jù)處理方法。
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衍射光學(xué)元件特征
flexfilm

光學(xué)設(shè)計的衍射面形示意圖
工作原理:基于光的衍射效應(yīng),通過微浮雕結(jié)構(gòu)調(diào)制波前。
數(shù)學(xué)模型:CODE V中的衍射面方程,包含非球面基底與衍射疊加部分。
結(jié)構(gòu)特點:衍射結(jié)構(gòu)疊加于非球面基底,相位突變由取整函數(shù)控制。
2
檢測原理及分類
flexfilm

衍射臺階檢測微區(qū)示意圖
接觸式測量:臺階儀,X向光柵尺定位,Z向壓電陶瓷記錄,精度納米級。
非接觸式測量:干涉儀,適用于連續(xù)面形,但對突變點檢測困難。
選擇理由:臺階儀能捕捉突變信號,但需處理探針誤差和程序“死區(qū)”。
3
面形誤差與臺階高度分析
flexfilm

臺階儀自帶程序處理圖

去除非球面基底后面形及臺階高度計算圖例
通過臺階儀檢測獲取的原始數(shù)據(jù)經(jīng)基底去除后,得到衍射面形誤差分布。進一步通過擬合突變點兩側(cè)平臺高度差,計算臺階高度誤差為0.1 μm,面形總誤差為0.539 μm。結(jié)果表明,臺階儀能有效捕捉高度信息,但需通過算法補償探針圓弧引起的測量偏差。
4
突變點位置誤差分析
flexfilm

衍射突變點位置數(shù)據(jù)

補償加工后面形
為獲取影響衍射效率的關(guān)鍵位置參數(shù),對濾波后的數(shù)據(jù)進行微分處理,提取相位突變點位置。結(jié)果顯示,位置誤差控制在1 μm以內(nèi),滿足光學(xué)設(shè)計對相位突變點的精度要求。該方法克服了干涉儀在突變點檢測中的局限性,凸顯了臺階儀在非連續(xù)面形檢測中的優(yōu)勢。
臺階儀在光學(xué)元件衍射面檢測中發(fā)揮了關(guān)鍵作用,通過數(shù)據(jù)處理有效提取了臺階高度與位置誤差,支撐了面形誤差0.539 μm的高精度加工。該方法為衍射光學(xué)元件的精密制造提供了可靠的檢測與補償依據(jù)。
Flexfilm探針式臺階儀
flexfilm

在半導(dǎo)體、光伏、LED、MEMS器件、材料等領(lǐng)域,表面臺階高度、膜厚的準(zhǔn)確測量具有十分重要的價值,尤其是臺階高度是一個重要的參數(shù),對各種薄膜臺階參數(shù)的精確、快速測定和控制,是保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率的重要手段。
- 配備500W像素高分辨率彩色攝像機
- 亞埃級分辨率,臺階高度重復(fù)性1nm
- 360°旋轉(zhuǎn)θ平臺結(jié)合Z軸升降平臺
- 超微力恒力傳感器保證無接觸損傷精準(zhǔn)測量
費曼儀器作為國內(nèi)領(lǐng)先的薄膜厚度測量技術(shù)解決方案提供商,Flexfilm探針式臺階儀可以對薄膜表面臺階高度、膜厚進行準(zhǔn)確測量,保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率。
原文參考:《衍射光學(xué)元件檢測及數(shù)據(jù)處理》
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