據(jù)報道，Tokyo Tech（日本東京工業(yè)大學(xué)）的研究人員基于化學(xué)“可調(diào)”碳納米管材料開發(fā)出了一種柔性太赫茲成像儀。其研究發(fā)現(xiàn)大大拓展了太赫茲應(yīng)用，包括環(huán)繞式、可穿戴技術(shù)，以及大面積光子學(xué)器件等。

圖1：（a）基于碳納米管（CNT）的柔性太赫茲成像儀；（b）環(huán)繞在指尖上的CNT太赫茲成像儀，可以方便地環(huán)繞在各種曲面上，僅需通過插入并旋轉(zhuǎn)指尖上的柔性太赫茲成像儀，就能清晰地探測管子上的破損碳納米管（CNT）應(yīng)用正席卷電子產(chǎn)品世界，現(xiàn)在，它們在太赫茲技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用實現(xiàn)了跨越。憑借其優(yōu)異的導(dǎo)電性和獨特的物理特性，CNT對于下一代電子器件來說極具吸引力。

在太赫茲器件中的應(yīng)用，便是其最有前景的方向之一。太赫茲成像儀正成為傳統(tǒng)成像系統(tǒng)的安全和可行的替代方案，它適用于從機場安全、食品檢測和藝術(shù)品鑒定，到醫(yī)療和環(huán)境傳感技術(shù)等廣泛的應(yīng)用。