11月25日,安森美(onsemi)采用TOLL封裝的 5mOhm /750V SiC Combo JFET UG4SC075005L8S憑借卓越的性能和創(chuàng)新的設(shè)計,榮獲2025年全球電子成就獎(World Electronics Achievement Awards, 簡稱WEAA)年度功率半導(dǎo)體/驅(qū)動器產(chǎn)品獎,彰顯了安森美在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)地位和市場優(yōu)勢。
隨著AI算力芯片功耗的持續(xù)飆升,服務(wù)器電源供應(yīng)單元(PSU)在功率密度方面面臨嚴峻挑戰(zhàn),必須在有限空間內(nèi)實現(xiàn)更大的功率輸出,這要求PSU在功率器件選型與系統(tǒng)拓撲架構(gòu)上尋求根本性的突破。
UG4SC075005L8S將一顆750V SiC JFET 和一顆低壓Si MOSFET集成在單個TOLL封裝中,形成獨特的Combo JFET結(jié)構(gòu)。與標準共源共柵結(jié)構(gòu)相比,SiC Combo JFET通過驅(qū)動實現(xiàn)更低的導(dǎo)通電阻 RDS(ON)、可完全控制開關(guān)速度,以及具備結(jié)溫檢測能力。
UG4SC075005L8S在AI PSU設(shè)計中廣受青睞,有力支持下一代20 kW系統(tǒng)。其創(chuàng)新的Combo架構(gòu)、高能效、高可靠性及系統(tǒng)友好性,可精準應(yīng)對AI領(lǐng)域大電流、高功率場景的核心需求。
UG4SC075005L8S具有多個優(yōu)勢:
超低導(dǎo)通電阻RDS(ON):得益于先進的SiC JFET技術(shù),UG4SC075005L8S的導(dǎo)通電阻低至5mOhm,可顯著降低導(dǎo)通損耗,提高能效。
更高的峰值電流Idm:該器件具備高峰值電流,這對于要求高穩(wěn)健性和大電流穿越能力的電路保護應(yīng)用至關(guān)重要,是實現(xiàn)相關(guān)保護功能的理想選擇。
低熱阻RθJC:采用銀燒結(jié)裸片貼裝技術(shù),其界面導(dǎo)熱性能比多數(shù)焊接材料提高了六倍,即使在更小的裸片尺寸下,也實現(xiàn)了相同甚至更低的結(jié)至外殼熱阻RθJC。這對于保持較低的結(jié)溫,進而確保更高的可靠性至關(guān)重要。
此外,該產(chǎn)品具備出色的速度可控性,通過調(diào)節(jié)關(guān)斷速度有效減少電壓過沖,強化短路保護能力,并適用于多路并聯(lián)應(yīng)用,在開關(guān)損耗與動態(tài)電流之間實現(xiàn)良好平衡。其結(jié)構(gòu)簡單、壽命長且無參數(shù)漂移問題,同時兼容成熟的硅基晶體管驅(qū)動器,無需專用驅(qū)動電路,大大簡化系統(tǒng)設(shè)計并加速產(chǎn)品開發(fā)進程。
展望未來,安森美將始終以技術(shù)創(chuàng)新為核心驅(qū)動力,深耕寬禁帶半導(dǎo)體等關(guān)鍵賽道,不斷突破性能極限與應(yīng)用邊界。
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原文標題:安森美硬核SiC Combo JFET產(chǎn)品榮獲全球電子成就獎
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