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德思特方案 | 研發(fā)量產(chǎn)一機搞定,德思特脈沖發(fā)生器TS-PG1072為激光芯片測試降本增效

Sophia_wff ? 來源:Sophia_wff ? 作者:Sophia_wff ? 2025-12-23 17:54 ? 次閱讀
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?方案背景

當前激光芯片在激光雷達、工業(yè)傳感等領(lǐng)域的應(yīng)用,對驅(qū)動觸發(fā)信號提出:納秒級窄脈寬 + 高精度調(diào)節(jié) + 強抗干擾的三大核心驅(qū)動需求 ,以精準驗證芯片 “脈寬 - 光功率 - 響應(yīng)速度” 的關(guān)聯(lián)特性。

傳統(tǒng)脈沖發(fā)生器存在明顯技術(shù)短板:最小脈寬雖可達 300ps,但分辨率 > 50ps,無法實現(xiàn)精細化調(diào)節(jié);僅支持單端輸出,工業(yè)環(huán)境電磁干擾(EMI)下觸發(fā)信號畸變率高;且缺乏遠程控制功能,難以適配批量測試。而德思特脈沖發(fā)生器TS-PG1072(PulseRider PG1000 系列窄脈沖發(fā)生器)憑借 10ps 分辨率、差分輸出、超低邊沿時間三大核心特性,成為解決激光芯片 “精準觸發(fā)” 難題的關(guān)鍵設(shè)備。

方案優(yōu)勢

激光芯片測試的核心痛點,本質(zhì)是傳統(tǒng)觸發(fā)設(shè)備無法匹配 “高精度、高穩(wěn)定、高效率” 需求,而這些痛點恰是德思特脈沖發(fā)生器 TS-PG1072 的核心優(yōu)勢所在。

激光芯片測試的核心痛點

? 脈寬調(diào)節(jié)精度不足,無法驗證芯片線性特性

激光芯片需 5ns±0.2ns 脈寬驅(qū)動以測試 “脈寬 - 光功率” 線性關(guān)系,但傳統(tǒng)發(fā)生器分辨率 > 50ps,調(diào)節(jié)誤差超 ±5%,導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失真。TS-PG1072 的 10ps 分辨率可實現(xiàn) “ns 級脈寬的 ps 級微調(diào)”,精準匹配芯片測試需求。

? 抗干擾能力弱,觸發(fā)信號畸變影響測試結(jié)果

工業(yè)場景中 EMI 易導(dǎo)致傳統(tǒng)單端觸發(fā)信號振鈴幅度 > 15%,進而使 EPC9181 輸出電流波動 ±10%,無法準確捕捉芯片真實響應(yīng)。TS-PG1072 支持差分輸出(±1V@100Ω),可有效抑制共模干擾,降低信號畸變率。

? 手動操作效率低,無法適配批量量產(chǎn)場景

傳統(tǒng)發(fā)生器需手動調(diào)節(jié)脈寬、頻率等參數(shù),單顆芯片測試耗時 > 10 分鐘,且無數(shù)據(jù)自動記錄功能。TS-PG1072 支持以太網(wǎng)遠程控制與腳本編程,可實現(xiàn)參數(shù)一鍵切換、數(shù)據(jù)自動存儲,大幅提升批量測試效率。

解決方案

德思特脈沖發(fā)生器TS-PG1072 作為整個測試方案的主要模塊,其功能配置直接決定測試精度與效率,需圍繞 TS-PG1072 的技術(shù)特性,實現(xiàn)與 EPC9181、激光芯片的深度適配:

1.TS-PG1072 的核心功能適配邏輯

?脈寬精準控制:匹配激光芯片 5ns 級驅(qū)動需求

TS-PG1072 支持 300ps-1s 脈寬調(diào)節(jié),分辨率 10ps,結(jié)合 EPC9181 的窄脈沖發(fā)生器(NPG)功能,可實現(xiàn) “輸入脈寬 16ns→輸出脈寬 5.5ns” 的精準轉(zhuǎn)換(因 EPC9181 NPG 需輸入脈寬比目標脈寬長 10ns);

通過 TS-PG1072 的 “脈寬微調(diào)旋鈕” 或遠程指令,可將輸出脈寬誤差控制在 ±0.2ns 內(nèi),滿足激光芯片 “脈寬 - 光功率” 線性測試的精度要求。

?差分觸發(fā)輸出:解決 EMI 干擾問題

將 TS-PG1072 設(shè)置為 “差分輸出模式”,通過專用差分線纜連接至 EPC9181 的 J11 差分觸發(fā)接口(J10 跳線切換至差分檔),相比傳統(tǒng)單端觸發(fā),電流波形振鈴幅度從 > 15% 降至 < 5%;

TS-PG1072 上升沿 < 70ps,可減少觸發(fā)信號延遲,確保 EPC9181 柵極驅(qū)動的快速響應(yīng),使電流上升沿 < 1ns,同時使得最終脈寬完整性更好,匹配激光芯片的快響應(yīng)特性。

?多通道同步與遠程控制:提升測試效率

若測試多通道激光芯片,啟用 TS-PG1072 的 “多通道同步輸出” 功能,通道間同步誤差 < 10ps,可同時驅(qū)動 2-4 塊 EPC9181,實現(xiàn)多芯片并行測試;

通過TS-PG1072 的以太網(wǎng)接口,編寫 PythonLabVIEW 自動化腳本,可實現(xiàn) “脈沖參數(shù)設(shè)置→觸發(fā)輸出→數(shù)據(jù)采集→報告生成” 全流程自動化,單顆芯片測試耗時從 10 分鐘縮短至 < 3 分鐘。

2.TS-PG1072 與 EPC9181 的參數(shù)協(xié)同配置

(以單通道測試為例)

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方案優(yōu)勢

1.精度高:10ps 分辨率實現(xiàn) ns 級脈寬的 ps 級控制

相比傳統(tǒng)發(fā)生器 > 50ps 的分辨率,TS-PG1072 的 10ps 調(diào)節(jié)精度可將脈寬誤差控制在 ±0.2ns 內(nèi),實測激光芯片驅(qū)動脈寬 5.48ns(誤差 0.4%),為 “脈寬 - 光功率” 線性分析提供精準數(shù)據(jù)支撐。

2.抗干擾能力:差分輸出解決工業(yè) EMI 痛點

TS-PG1072 的差分輸出模式可抑制共模干擾,使 EPC9181 輸出電流波動從傳統(tǒng)方案的 ±10% 降至 ±2%,確保測試數(shù)據(jù)的真實性。

3.自動化效率:遠程控制適配量產(chǎn)場景

依托 TS-PG1072 的以太網(wǎng)遠程功能,可實現(xiàn) 1 人同時管控 10 臺測試系統(tǒng),日均測試量從 50 顆提升至 200 顆,人力成本降低 ;且支持測試數(shù)據(jù)自動歸檔,減少人工記錄誤差。

4.兼容性拓展:多模式適配不同測試需求

TS-PG1072 支持單端 / 差分輸出、單脈沖 / 多脈沖序列、內(nèi)觸發(fā) / 外觸發(fā)等多種模式,可適配單通道 / 多通道、低功率 / 高功率激光芯片測試,無需更換觸發(fā)設(shè)備,方案復(fù)用率提升。

方案價值

1.技術(shù)價值:助力高規(guī)格芯片研發(fā)突破

憑借 TS-PG1072 的精準觸發(fā)控制,可驗證激光芯片的 “極限性能”(如雙脈沖響應(yīng)、長時穩(wěn)定性),幫助研發(fā)團隊優(yōu)化芯片結(jié)構(gòu)設(shè)計,縮短研發(fā)周期 ,尤其適配車規(guī)級激光雷達芯片的高可靠性測試需求。

2. 成本價值:降低設(shè)備投入與運營成本

TS-PG1072 集成 “高精度觸發(fā) + 遠程控制” 功能,無需額外采購脈沖調(diào)理模塊與自動化控制器,設(shè)備投入成本減少 ;同時批量測試效率提升,運營成本顯著降低

3.生態(tài)價值:構(gòu)建可拓展的測試平臺

TS-PG1072 可兼容 EPC 系列不同型號驅(qū)動板(如 EPC9179、EPC9181),也可適配不同品牌激光芯片(如 OSRAM、ams),形成 “以 TS-PG1072 為核心的模塊化測試平臺”,滿足客戶從研發(fā)到量產(chǎn)的全生命周期測試需求。

德思特脈沖信號發(fā)生器

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德思特ps級脈沖信號發(fā)生器提供多達 4 個通道,每個通道提供單脈沖、雙脈沖、三脈沖或四脈沖,每個脈沖與觸發(fā)信號的周期、寬度和延遲無關(guān)??梢陨删哂?strong>不同寬度、周期和幅度的脈沖,可以非??焖?、輕松地設(shè)置單個脈沖,使儀器等待外部觸發(fā)或以連續(xù)方式生成脈沖,非常適合大物理應(yīng)用中的讀數(shù)測試、激光驅(qū)動器、速調(diào)管控制同步等。

審核編輯 黃宇

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