春潮涌動啟新程,聚力同行向未來。3月27日,CFMS|MemoryS 2026全球存儲產(chǎn)業(yè)峰會在深圳寶安前?!W萬豪酒店圓滿落幕。本次峰會以“穿越周期,釋放價值”為核心主旨,匯聚全球存儲產(chǎn)業(yè)精英力量,共探AI時代下產(chǎn)業(yè)轉型的突圍路徑與發(fā)展新機。作為半導體測試燒錄領域的領軍者,昂科技術攜全套存儲測試一站式解決方案驚艷亮相L5展位,憑借深厚的技術積淀、全方位的服務能力以及精準的行業(yè)洞察,成為展會焦點,收獲了來自全球行業(yè)伙伴的廣泛關注與高度贊譽。
展會現(xiàn)場,昂科技術展位始終人頭攢動、人氣爆棚,成為全場最具吸引力的展位之一。來自全球存儲芯片、AI服務器、智能駕駛、工業(yè)自動化等多個領域的專業(yè)觀眾絡繹不絕,紛紛駐足咨詢、深度洽談,近距離感受昂科存儲測試一站式解決方案的硬核實力與獨特價值。從芯片研發(fā)階段的技術驗證,到量產(chǎn)落地后的效率提升,昂科技術全方位、全流程的服務能力,精準契合了當下存儲企業(yè)應對成本壓力、提升核心競爭力的迫切需求,成為眾多企業(yè)尋求深度合作的優(yōu)選伙伴。
作為深耕行業(yè)多年的技術引領者,昂科技術始終與全球存儲產(chǎn)業(yè)趨勢同頻共振,精準捕捉AI時代存儲需求的爆發(fā)式增長態(tài)勢,持續(xù)加大研發(fā)投入,構建起覆蓋全品類、全場景的存儲測試一站式解決方案,全方位滿足不同企業(yè)的多元化測試需求。
展會期間,昂科技術副總裁傅國先生受邀接受采訪,圍繞存儲測試一站式解決方案的核心價值、技術優(yōu)勢及實踐應用展開深度解讀,重點分享了昂科在NAND、SSD全自動化測試領域的創(chuàng)新成果與成熟經(jīng)驗,為行業(yè)伙伴提供了可落地、高效率、高價值的轉型思路,引發(fā)現(xiàn)場嘉賓的強烈共鳴與廣泛探討。
區(qū)別于單一產(chǎn)品的局限與短板,昂科的存儲測試一站式解決方案,實現(xiàn)了從硅后驗證到量產(chǎn)測試、從手動操作到全自動化運行的全流程閉環(huán)覆蓋,既能精準匹配智能駕駛、工業(yè)自動化、AI服務器等多元場景的測試需求,又能通過高效并行技術與穩(wěn)定可靠的產(chǎn)品性能,幫助企業(yè)大幅提升產(chǎn)能利用率、降低運營成本,最大化挖掘資產(chǎn)價值、提升核心競爭力。無論是極端環(huán)境下的穩(wěn)定運行表現(xiàn),還是多場景的靈活適配能力,昂科的一站式解決方案都彰顯出行業(yè)領先的專業(yè)水準,成為助力企業(yè)穿越產(chǎn)業(yè)周期、實現(xiàn)高質(zhì)量發(fā)展的核心引擎。
昂科LPDDR-SLT高質(zhì)、高效測試依托V9000系列測試機展開,具備全自動化可追溯優(yōu)勢,全程實現(xiàn)自動化操作,有效減少人工失誤,同時關鍵操作留痕并完成批次綁定記錄,保障測試流程規(guī)范可控;在測試效率上實現(xiàn)超大同測、超高效率,可支持1200+ DUT同測,高效產(chǎn)出突破UPH行業(yè)標準,大幅提升測試產(chǎn)能;擁有獨立溫控與壓控能力,溫度覆蓋范圍廣泛,壓力可靈活調(diào)節(jié);在適配性與靈活性上表現(xiàn)突出,采用并列堆疊式設計可按需擴容,治具兼容性高,實現(xiàn)小時級換線,同時支持多品種、小批量產(chǎn)品同測,全方位滿足不同場景下的測試需求。
此次參展,既是昂科展示自身技術實力與服務優(yōu)勢的重要窗口,更是與產(chǎn)業(yè)鏈伙伴深化溝通、凝聚共識、共探未來的重要契機。展會期間,昂科與眾多行業(yè)龍頭企業(yè)、優(yōu)質(zhì)合作伙伴達成深度合作意向,進一步鞏固了自身在存儲測試領域的核心地位,也更精準地把握了全球存儲產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢與未來方向。
未來,昂科將繼續(xù)堅守技術創(chuàng)新初心,深耕存儲測試領域,不斷優(yōu)化完善存儲測試一站式解決方案,以更專業(yè)的技術、更全面的服務、更務實的態(tài)度,賦能全球存儲產(chǎn)業(yè)突破發(fā)展瓶頸、釋放核心價值,與產(chǎn)業(yè)鏈各界伙伴攜手并肩、聚力前行,共筑智能時代存儲產(chǎn)業(yè)新生態(tài)、共繪產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展新藍圖。
昂科技術簡介
昂科技術是研發(fā)、生產(chǎn)和銷售半導體芯片測試及燒錄設備的國家級專精特新“小巨人”企業(yè),公司致力于通過創(chuàng)新的半導體測試技術及解決方案,賦能Fabless、IDM、OSAT、晶圓Fab和終端設備企業(yè)等全產(chǎn)業(yè)鏈客戶。昂科首創(chuàng)的全自動老化測試ABI(Auto Burn-In)系統(tǒng)極大地提升了客戶芯片的老化測試效率和降低Per DUT測試成本。同時還為客戶提供從PSV、CP、FT、ABI、SLT、燒錄各個階段的設備產(chǎn)品及方案,我們將產(chǎn)品技術的領先優(yōu)勢、系統(tǒng)級專業(yè)知識、和全球布局的研發(fā)及銷售服務網(wǎng)絡完美融合,為客戶在市場競爭中取得領先創(chuàng)造價值。
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