探索 onsemi N 溝道 QFET：FQB4N80 MOSFET 深度解析

在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中，MOSFET 是不可或缺的關(guān)鍵器件，它廣泛應(yīng)用于各種電源和開(kāi)關(guān)電路中。今天，我們將聚焦 onsemi 推出的 N 溝道增強(qiáng)型功率 MOSFET——FQB4N80，深入探討其特性、性能參數(shù)以及實(shí)際應(yīng)用中的關(guān)注點(diǎn)。

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產(chǎn)品概述

FQB4N80 采用 onsemi 專(zhuān)有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)制造。這種先進(jìn)技術(shù)旨在降低導(dǎo)通電阻，同時(shí)提供卓越的開(kāi)關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。該器件適用于開(kāi)關(guān)電源、有源功率因數(shù)校正（PFC）和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

關(guān)鍵特性

電氣性能

• 高耐壓與大電流：具備 800V 的漏源電壓（(V{DSS})）和 3.9A 的連續(xù)漏極電流（(I{D})，(T_{C}=25^{circ}C)），能夠滿足高電壓、大電流的應(yīng)用需求。
• 低導(dǎo)通電阻：在 (V{GS}=10V)、(I{D}=1.95A) 條件下，(R_{DS(on)}) 最大為 3.6Ω，典型值為 2.8Ω，可有效降低導(dǎo)通損耗。
• 低柵極電荷：典型柵極電荷（(Q_{g})）為 19nC，有助于減少開(kāi)關(guān)損耗，提高開(kāi)關(guān)速度。
• 低反饋電容：反向傳輸電容（(C_{rss})）典型值為 8.6pF，可降低米勒效應(yīng)的影響，提升開(kāi)關(guān)性能。

可靠性

• 雪崩測(cè)試：經(jīng)過(guò) 100% 雪崩測(cè)試，單脈沖雪崩能量（(E{AS})）為 460mJ，重復(fù)雪崩能量（(E{AR})）為 13mJ，保證了器件在惡劣環(huán)境下的可靠性。
• 無(wú)鉛無(wú)鹵：符合環(huán)保要求，滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)綠色環(huán)保的需求。

最大額定值

需要注意的是，超過(guò)最大額定值可能會(huì)損壞器件，影響其功能和可靠性。

熱特性

• 結(jié)到外殼熱阻（(R_{θJC})）：最大值為 0.96°C/W，良好的熱傳導(dǎo)性能有助于將芯片產(chǎn)生的熱量快速傳遞到外殼。
• 結(jié)到環(huán)境熱阻（(R_{θJA})）：最小 2oz 銅焊盤(pán)時(shí)最大值為 62.5°C/W，1in2 2oz 銅焊盤(pán)時(shí)最大值為 40°C/W。在設(shè)計(jì)散熱方案時(shí)，需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇合適的焊盤(pán)尺寸，以確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)。

電氣特性

關(guān)斷特性

• 漏源擊穿電壓（(B_{V DSS})）：在 (V{GS}=0V)、(I{D}=250mu A) 條件下，最小值為 800V。
• 擊穿電壓溫度系數(shù)（(Delta B{V DSS}/Delta T{J})）：在 (I_{D}=250mu A) 時(shí)，典型值為 0.95V/°C。
• 零柵壓漏極電流（(I_{DSS})）：在 (V{DS}=800V)、(V{GS}=0V) 時(shí)，最大值為 10μA；在 (V{DS}=640V)、(T{C}=125^{circ}C) 時(shí)，最大值為 100μA。
• 柵體正向和反向泄漏電流（(I{GSSF})、(I{GSSR})）：在 (V{GS}=pm30V)、(V{DS}=0V) 時(shí)，最大值分別為 100nA 和 -100nA。

導(dǎo)通特性

• 柵極閾值電壓（(V_{GS(th)})）：在 (V{DS}=V{GS})、(I_{D}=250mu A) 條件下，最小值為 3.0V，最大值為 5.0V。
• 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻（(R_{DS(on)})）：在 (V{GS}=10V)、(I{D}=1.95A) 時(shí)，典型值為 2.8Ω，最大值為 3.6Ω。
• 正向跨導(dǎo)（(g_{fs})）：在 (V{DS}=50V)、(I{D}=1.95A) 時(shí)，典型值為 3.8S。

動(dòng)態(tài)特性

• 輸入電容（(C_{iss})）：在 (V{DS}=25V)、(V{GS}=0V)、(f = 1.0MHz) 條件下，典型值為 680pF，最大值為 880pF。
• 輸出電容（(C_{oss})）：典型值為 75pF，最大值為 100pF。
• 反向傳輸電容（(C_{rss})）：典型值為 8.6pF，最大值為 12pF。

開(kāi)關(guān)特性

• 開(kāi)啟延遲時(shí)間（(t_{d(on)})）：在 (V{DD}=400V)、(I{D}=3.9A)、(R_{G}=25Omega) 條件下，典型值為 40ns，最小值為 16ns。
• 開(kāi)啟上升時(shí)間（(t_{r})）：典型值為 100ns，最小值為 45ns。
• 關(guān)斷延遲時(shí)間（(t_{d(off)})）：典型值為 80ns，最小值為 35ns。
• 關(guān)斷下降時(shí)間（(t_{f})）：典型值為 80ns，最小值為 35ns。
• 總柵極電荷（(Q_{g})）：在 (V{DS}=640V)、(I{D}=3.9A)、(V_{GS}=10V) 時(shí)，典型值為 25nC，最小值為 19nC。
• 柵源電荷（(Q_{gs})）：典型值為 4.2nC。
• 柵漏電荷（(Q_{gd})）：典型值為 9.1nC。

漏源二極管特性

• 最大連續(xù)和脈沖漏源二極管正向電流（(I{S})、(I{SM})）：分別為 3.9A 和 15.6A。
• 漏源二極管正向電壓（(V_{SD})）：在 (V{GS}=0V)、(I{S}=3.9A) 時(shí)，典型值為 1.4V。
• 反向恢復(fù)時(shí)間（(t_{rr})）：在 (V{GS}=0V)、(I{S}=3.9A)、(dI_{F}/dt = 100A/mu s) 條件下，典型值為 575ns。
• 反向恢復(fù)電荷（(Q_{rr})）：典型值為 3.65μC。

典型特性曲線

文檔中提供了一系列典型特性曲線，包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化、瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師深入了解器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn)，從而優(yōu)化電路設(shè)計(jì)。

封裝與訂購(gòu)信息

FQB4N80 采用 D2PAK - 3（TO - 263，3 引腳）封裝，訂購(gòu)型號(hào)為 FQB4N80TM，每盤(pán) 800 個(gè)，采用卷帶包裝。在使用時(shí)，需要注意封裝的尺寸和引腳定義，確保正確安裝和焊接。

總結(jié)與思考

FQB4N80 作為 onsemi 推出的高性能 N 溝道 MOSFET，在高電壓、大電流應(yīng)用中具有顯著優(yōu)勢(shì)。其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷和良好的開(kāi)關(guān)性能，能夠有效降低功耗，提高電路效率。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，我們還需要根據(jù)具體的電路需求和工作條件，合理選擇器件，并注意其最大額定值和熱特性，以確保器件的可靠性和穩(wěn)定性。

作為電子工程師，你在使用 MOSFET 時(shí)遇到過(guò)哪些挑戰(zhàn)？又是如何解決的呢？歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。