FQB19N20L N - 通道QFET? MOSFET深度解析
一、引言
在電子工程領(lǐng)域,MOSFET作為重要的功率器件,廣泛應(yīng)用于各種電源和電路設(shè)計中。今天我們要深入探討的是FQB19N20L這款N - 通道QFET? MOSFET,它由Fairchild Semiconductor(現(xiàn)屬于ON Semiconductor)生產(chǎn),具有獨(dú)特的性能和應(yīng)用優(yōu)勢。
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二、產(chǎn)品背景與變更說明
Fairchild Semiconductor已被ON Semiconductor整合。由于ON Semiconductor產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線(_)的零件命名,原Fairchild零件編號中的下劃線將改為破折號(-)。所以大家在使用時,要通過ON Semiconductor網(wǎng)站核實(shí)更新后的器件編號,最新的訂購信息可在www.onsemi.com查詢。若對系統(tǒng)集成有疑問,可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。
三、FQB19N20L MOSFET詳細(xì)介紹
3.1 產(chǎn)品描述
FQB19N20L是一款N - 通道增強(qiáng)型功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)技術(shù)能有效降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度,適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。
3.2 產(chǎn)品特性
- 高電流與耐壓能力:能夠承受21 A的電流,耐壓達(dá)到200 V,在VGS = 10 V、ID = 9.7 A時,最大導(dǎo)通電阻RDS(on)為140 mΩ。
- 低柵極電荷:典型柵極電荷僅為31 nC,有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
- 低Crss:典型Crss值為30 pF,能降低米勒效應(yīng)的影響,改善開關(guān)性能。
- 100%雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性。
- 符合RoHS標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),環(huán)保無污染。
3.3 絕對最大額定值
| 參數(shù) | 符號 | FQB19N20LTM | 單位 |
|---|---|---|---|
| 結(jié)到外殼的熱阻(最大) | RθJC | 0.89 | °C/W |
| 結(jié)到環(huán)境的熱阻(2盎司銅最小焊盤,最大) | RθJA | 62.5 | °C/W |
| 結(jié)到環(huán)境的熱阻(1平方英寸2盎司銅焊盤,最大) | RθJA | 40 | °C/W |
| 焊接時離外殼1/8英寸處5秒的最大引腳溫度 |
3.4 電氣特性
3.4.1 關(guān)斷特性
| 參數(shù) | 描述 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BVdss | 漏源擊穿電壓 | VGs = 0V,ID = 250μA | 200 | V | ||
| ΔBVdss /ΔT | 擊穿電壓溫度系數(shù) | ID = 250 μA,參考25°C | 0.16 | V/°C | ||
| IDss | 零柵壓漏極電流 | Vds = 200 V,Vgs = 0V | - | - | 1 | μA |
| Vds = 160 V,Tc = 125°C | - | 10 | μA | |||
| IGSSF | 柵 - 體正向漏電流 | Vgs = 20V,Vds = 0V | 100 | nA | ||
| IGSSR | 柵 - 體反向漏電流 | Vgs = -20 V,Vds = 0V | -100 | nA |
3.4.2 導(dǎo)通特性
| 參數(shù) | 描述 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| gFs | 正向跨導(dǎo) | VDs = 30V,ID = 10.5A | 0.12 | 0.15 | S | |
| RDs(on) | 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 | VGs = 5V,ID = 10.5A | 0.11 | 0.14 | Ω | |
| VGs(th) | 柵極閾值電壓 | VDs = VGs,ID = 250 μA | 1.0 | 2.0 | V |
3.4.3 動態(tài)特性
| 參數(shù) | 描述 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Crss | 反向傳輸電容 | f = 1.0MHz | 30 | 40 | pF | |
| Coss | 輸出電容 | Vds = 25V,Vgs = 0V | 1700 | 2200 | pF | |
| Ciss | 輸入電容 | pF |
3.4.4 開關(guān)特性
| 參數(shù) | 描述 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 導(dǎo)通延遲時間 | ||||||
| tr | ||||||
| 關(guān)斷下降時間 | VDS = 160 V,ID = 21 A | 180 | ns | |||
| 27 | ns | |||||
| 柵源電荷 | 5.8 | nC | ||||
| Qgd |
3.4.5 漏源二極管特性和最大額定值
| 參數(shù) | 描述 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Is | 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 | 21 | A | |||
| ISM | 最大脈沖漏源二極管正向電流 | 84 | A | |||
| VSD | 漏源二極管正向電壓 | VGs = 0V,Is = 21A | 1.5 | V | ||
| trr | 反向恢復(fù)時間 | VGs = 0V,Is = 21A,dip / dt = 100 A/μs | 140 | ns | ||
| Qrr | 反向恢復(fù)電荷 | 0.66 | μC |
3.5 典型特性曲線
文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流與外殼溫度的關(guān)系、瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線對于工程師理解器件在不同條件下的性能非常有幫助。
3.6 機(jī)械尺寸
FQB19N20L采用TO263(D2PAK)封裝,為模制、2引腳、表面貼裝形式。需要注意的是,封裝圖紙可能會隨時更改,大家要留意圖紙的版本和日期,并聯(lián)系Fairchild Semiconductor代表核實(shí)或獲取最新版本。
四、商標(biāo)與免責(zé)聲明
文檔中列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司擁有的眾多商標(biāo),同時也包含了ON Semiconductor的相關(guān)商標(biāo)信息。此外,還強(qiáng)調(diào)了ON Semiconductor對產(chǎn)品的免責(zé)聲明,如對產(chǎn)品適用性不做保證,不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用產(chǎn)生的任何責(zé)任等。
五、產(chǎn)品狀態(tài)定義
| 數(shù)據(jù)手冊標(biāo)識 | 產(chǎn)品狀態(tài) | 定義 |
|---|---|---|
| 提前信息 | 形成/設(shè)計中 | 數(shù)據(jù)手冊包含產(chǎn)品開發(fā)的設(shè)計規(guī)格,規(guī)格可能隨時更改。 |
| 初步 | 首次生產(chǎn) | 數(shù)據(jù)手冊包含初步數(shù)據(jù),后續(xù)會發(fā)布補(bǔ)充數(shù)據(jù),F(xiàn)airchild Semiconductor有權(quán)隨時更改設(shè)計。 |
| 無需標(biāo)識 | 全面生產(chǎn) | 數(shù)據(jù)手冊包含最終規(guī)格,F(xiàn)airchild Semiconductor有權(quán)隨時更改設(shè)計。 |
| 過時 | 停產(chǎn) | 數(shù)據(jù)手冊包含已停產(chǎn)產(chǎn)品的規(guī)格,僅供參考。 |
六、總結(jié)
FQB19N20L N - 通道QFET? MOSFET憑借其先進(jìn)的技術(shù)和出色的性能,在開關(guān)模式電源、PFC和電子燈鎮(zhèn)流器等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。作為電子工程師,在設(shè)計相關(guān)電路時,要充分考慮其各項(xiàng)特性和參數(shù),結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需求進(jìn)行合理選擇。同時,也要關(guān)注產(chǎn)品的變更信息和相關(guān)的免責(zé)聲明,確保設(shè)計的可靠性和安全性。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過哪些關(guān)于MOSFET的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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