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FQB19N20L N - 通道QFET? MOSFET深度解析

lhl545545 ? 2026-04-14 17:25 ? 次閱讀
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FQB19N20L N - 通道QFET? MOSFET深度解析

一、引言

在電子工程領(lǐng)域,MOSFET作為重要的功率器件,廣泛應(yīng)用于各種電源電路設(shè)計中。今天我們要深入探討的是FQB19N20L這款N - 通道QFET? MOSFET,它由Fairchild Semiconductor(現(xiàn)屬于ON Semiconductor)生產(chǎn),具有獨(dú)特的性能和應(yīng)用優(yōu)勢。

文件下載:FQB19N20L-D.pdf

二、產(chǎn)品背景與變更說明

Fairchild Semiconductor已被ON Semiconductor整合。由于ON Semiconductor產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線(_)的零件命名,原Fairchild零件編號中的下劃線將改為破折號(-)。所以大家在使用時,要通過ON Semiconductor網(wǎng)站核實(shí)更新后的器件編號,最新的訂購信息可在www.onsemi.com查詢。若對系統(tǒng)集成有疑問,可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。

三、FQB19N20L MOSFET詳細(xì)介紹

3.1 產(chǎn)品描述

FQB19N20L是一款N - 通道增強(qiáng)型功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)技術(shù)能有效降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度,適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

3.2 產(chǎn)品特性

  • 高電流與耐壓能力:能夠承受21 A的電流,耐壓達(dá)到200 V,在VGS = 10 V、ID = 9.7 A時,最大導(dǎo)通電阻RDS(on)為140 mΩ。
  • 低柵極電荷:典型柵極電荷僅為31 nC,有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
  • 低Crss:典型Crss值為30 pF,能降低米勒效應(yīng)的影響,改善開關(guān)性能。
  • 100%雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性。
  • 符合RoHS標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),環(huán)保無污染。

3.3 絕對最大額定值

參數(shù) 符號 FQB19N20LTM 單位
結(jié)到外殼的熱阻(最大) RθJC 0.89 °C/W
結(jié)到環(huán)境的熱阻(2盎司銅最小焊盤,最大) RθJA 62.5 °C/W
結(jié)到環(huán)境的熱阻(1平方英寸2盎司銅焊盤,最大) RθJA 40 °C/W
焊接時離外殼1/8英寸處5秒的最大引腳溫度

3.4 電氣特性

3.4.1 關(guān)斷特性

參數(shù) 描述 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
BVdss 漏源擊穿電壓 VGs = 0V,ID = 250μA 200 V
ΔBVdss /ΔT 擊穿電壓溫度系數(shù) ID = 250 μA,參考25°C 0.16 V/°C
IDss 零柵壓漏極電流 Vds = 200 V,Vgs = 0V - - 1 μA
Vds = 160 V,Tc = 125°C - 10 μA
IGSSF 柵 - 體正向漏電流 Vgs = 20V,Vds = 0V 100 nA
IGSSR 柵 - 體反向漏電流 Vgs = -20 V,Vds = 0V -100 nA

3.4.2 導(dǎo)通特性

參數(shù) 描述 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
gFs 正向跨導(dǎo) VDs = 30V,ID = 10.5A 0.12 0.15 S
RDs(on) 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 VGs = 5V,ID = 10.5A 0.11 0.14 Ω
VGs(th) 柵極閾值電壓 VDs = VGs,ID = 250 μA 1.0 2.0 V

3.4.3 動態(tài)特性

參數(shù) 描述 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
Crss 反向傳輸電容 f = 1.0MHz 30 40 pF
Coss 輸出電容 Vds = 25V,Vgs = 0V 1700 2200 pF
Ciss 輸入電容 pF

3.4.4 開關(guān)特性

參數(shù) 描述 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
導(dǎo)通延遲時間
tr
關(guān)斷下降時間 VDS = 160 V,ID = 21 A 180 ns
27 ns
柵源電荷 5.8 nC
Qgd

3.4.5 漏源二極管特性和最大額定值

參數(shù) 描述 最小值 典型值 最大值 單位
Is 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 21 A
ISM 最大脈沖漏源二極管正向電流 84 A
VSD 漏源二極管正向電壓 VGs = 0V,Is = 21A 1.5 V
trr 反向恢復(fù)時間 VGs = 0V,Is = 21A,dip / dt = 100 A/μs 140 ns
Qrr 反向恢復(fù)電荷 0.66 μC

3.5 典型特性曲線

文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流與外殼溫度的關(guān)系、瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線對于工程師理解器件在不同條件下的性能非常有幫助。

3.6 機(jī)械尺寸

FQB19N20L采用TO263(D2PAK)封裝,為模制、2引腳、表面貼裝形式。需要注意的是,封裝圖紙可能會隨時更改,大家要留意圖紙的版本和日期,并聯(lián)系Fairchild Semiconductor代表核實(shí)或獲取最新版本。

四、商標(biāo)與免責(zé)聲明

文檔中列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司擁有的眾多商標(biāo),同時也包含了ON Semiconductor的相關(guān)商標(biāo)信息。此外,還強(qiáng)調(diào)了ON Semiconductor對產(chǎn)品的免責(zé)聲明,如對產(chǎn)品適用性不做保證,不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用產(chǎn)生的任何責(zé)任等。

五、產(chǎn)品狀態(tài)定義

數(shù)據(jù)手冊標(biāo)識 產(chǎn)品狀態(tài) 定義
提前信息 形成/設(shè)計中 數(shù)據(jù)手冊包含產(chǎn)品開發(fā)的設(shè)計規(guī)格,規(guī)格可能隨時更改。
初步 首次生產(chǎn) 數(shù)據(jù)手冊包含初步數(shù)據(jù),后續(xù)會發(fā)布補(bǔ)充數(shù)據(jù),F(xiàn)airchild Semiconductor有權(quán)隨時更改設(shè)計。
無需標(biāo)識 全面生產(chǎn) 數(shù)據(jù)手冊包含最終規(guī)格,F(xiàn)airchild Semiconductor有權(quán)隨時更改設(shè)計。
過時 停產(chǎn) 數(shù)據(jù)手冊包含已停產(chǎn)產(chǎn)品的規(guī)格,僅供參考。

六、總結(jié)

FQB19N20L N - 通道QFET? MOSFET憑借其先進(jìn)的技術(shù)和出色的性能,在開關(guān)模式電源、PFC和電子燈鎮(zhèn)流器等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。作為電子工程師,在設(shè)計相關(guān)電路時,要充分考慮其各項(xiàng)特性和參數(shù),結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需求進(jìn)行合理選擇。同時,也要關(guān)注產(chǎn)品的變更信息和相關(guān)的免責(zé)聲明,確保設(shè)計的可靠性和安全性。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過哪些關(guān)于MOSFET的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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