剖析 FDS9934C 互補(bǔ)晶體管:特性、參數(shù)與應(yīng)用考量
在當(dāng)今的電子設(shè)備中,功率場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)在電能轉(zhuǎn)換和管理方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。今天我們要深入探討的是 Fairchild Semiconductor(現(xiàn)已并入 ON Semiconductor)的 FDS9934C 互補(bǔ)晶體管,它在低電壓和電池供電應(yīng)用中展現(xiàn)出卓越的性能。
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產(chǎn)品概述
FDS9934C 是一款雙 N 溝道和 P 溝道增強(qiáng)模式功率場(chǎng)效應(yīng)晶體管,采用了 Fairchild 先進(jìn)的 PowerTrench 工藝。這種工藝經(jīng)過(guò)精心調(diào)整,能夠在最小化導(dǎo)通電阻的同時(shí),保持出色的開關(guān)性能,因此非常適合那些需要低在線功率損耗和快速開關(guān)的低電壓、電池供電應(yīng)用。
關(guān)鍵特性
電氣參數(shù)
- Q1(N 溝道):具有 6.5 A 的連續(xù)漏極電流和 20 V 的漏源電壓。在不同的柵源電壓下,導(dǎo)通電阻表現(xiàn)出色,例如在 (V{GS} = 4.5 V) 時(shí),(R{DS(ON)} = 30 mΩ);在 (V{GS} = 2.5 V) 時(shí),(R{DS(ON)} = 43 mΩ)。
- Q2(P 溝道):漏極電流為 -5 A,漏源電壓為 -20 V。同樣,在不同柵源電壓下有不同的導(dǎo)通電阻,如 (V{GS} = -4.5 V) 時(shí),(R{DS(ON)} = 55 mΩ);(V{GS} = -2.5 V) 時(shí),(R{DS(ON)} = 90 mΩ)。
絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | Q1 | Q2 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 (V_{DSS}) | 20 | -20 | V |
| 柵源電壓 (V_{GSS}) | ±10 | ±12 | V |
| 連續(xù)漏極電流 (I_{D}) | 6.5 | -5 | A |
| 脈沖漏極電流 | 20 | -30 | A |
| 雙路工作功率耗散 (P_{D}) | 2 | W | |
| 單路工作功率耗散 | 1.6(注 1a) 1(注 1b) 0.9(注 1c) |
W | |
| 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 (T{J}, T{STG}) | -55 至 +150 | °C |
熱特性
- 結(jié)到環(huán)境的熱阻 (R_{θJA})(注 1a)為 78 °C/W。
- 結(jié)到外殼的熱阻 (R_{θJC})(注 1)為 40 °C/W。
電氣特性詳解
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓 (BV_{DSS}):Q1 為 20 V,Q2 為 -20 V。
- 擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta BV{DSS}/Delta T{J}):Q1 為 14 mV/°C,Q2 為 -14 mV/°C。
- 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):Q1 最大為 1 μA,Q2 最大為 -1 μA。
- 柵體泄漏電流 (I_{GSS}):Q1 和 Q2 最大為 ±100 nA。
- 柵閾值電壓溫度系數(shù) (Delta V{GS(th)}/Delta T{J}):Q1 為 -0.9 mV/°C 至 -0.6 mV/°C,Q2 為 -3 mV/°C 至 -1.2 mV/°C。
導(dǎo)通特性
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在不同的柵源電壓和漏極電流條件下,Q1 和 Q2 有不同的導(dǎo)通電阻值,具體數(shù)值可參考文檔中的表格。
- 導(dǎo)通狀態(tài)漏極電流 (I_{D(on)}):Q1 為 15 A,Q2 為 -16 A。
- 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):Q1 為 22 S,Q2 為 14 S。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容 (C_{iss}):Q1 為 650 pF,Q2 為 955 pF。
- 輸出電容 (C_{oss}):Q1 為 150 pF,Q2 為 215 pF。
- 反向傳輸電容 (C_{rss}):Q1 為 85 pF,Q2 為 115 pF。
- 柵電阻 (R_{G}):Q1 為 1.4 Ω,Q2 為 4.9 Ω。
開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間 (t_{d(on)}):Q1 為 8 ns 至 16 ns,Q2 為 16 ns 至 29 ns。
- 導(dǎo)通上升時(shí)間 (t_{r}):Q1 和 Q2 均為 9 ns 至 17 ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間 (t_{d(off)}):Q1 為 15 ns 至 26 ns,Q2 為 25 ns 至 41 ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間 (t_{f}):Q1 為 4 ns 至 9 ns,Q2 為 9 ns 至 19 ns。
- 總柵電荷 (Q_{g}):Q1 為 6.2 nC 至 9 nC,Q2 為 8.7 nC 至 12 nC。
- 柵源電荷 (Q_{gs}):Q1 為 1.2 nC,Q2 為 2.1 nC。
- 柵漏電荷 (Q_{gd}):Q1 為 1.7 nC,Q2 為 2.1 nC。
漏源二極管特性和最大額定值
- 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I_{S}):Q1 為 1.3 A,Q2 為 -1.3 A。
- 漏源二極管正向電壓 (V_{SD}):Q1 為 0.73 V 至 1.2 V,Q2 為 -0.8 V 至 -1.2 V。
- 二極管反向恢復(fù)時(shí)間 (t_{rr}):Q1 為 15 ns 至 20 ns。
- 二極管反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}):Q1 為 5 nC 至 7 nC。
典型特性曲線
文檔中提供了豐富的典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、柵電荷特性、電容特性、最大安全工作區(qū)和單脈沖最大功率耗散等。這些曲線對(duì)于工程師在設(shè)計(jì)過(guò)程中評(píng)估晶體管的性能和可靠性非常有幫助。
應(yīng)用注意事項(xiàng)
命名變更
由于 Fairchild 并入 ON Semiconductor,部分 Fairchild 可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改以符合 ON Semiconductor 的系統(tǒng)要求。Fairchild 零件編號(hào)中的下劃線 (_) 將改為短橫線 (-),使用時(shí)需在 ON Semiconductor 網(wǎng)站上驗(yàn)證更新后的設(shè)備編號(hào)。
安全使用
ON Semiconductor 產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA 3 類醫(yī)療設(shè)備或類似分類的醫(yī)療設(shè)備,以及用于人體植入的設(shè)備。如果購(gòu)買或使用這些產(chǎn)品用于未授權(quán)的應(yīng)用,買方需承擔(dān)相應(yīng)的責(zé)任。
參數(shù)驗(yàn)證
“典型”參數(shù)在不同應(yīng)用中可能會(huì)有所變化,實(shí)際性能也可能隨時(shí)間變化。因此,所有工作參數(shù),包括“典型”參數(shù),都必須由客戶的技術(shù)專家針對(duì)每個(gè)客戶應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證。
總結(jié)
FDS9934C 互補(bǔ)晶體管憑借其出色的性能和先進(jìn)的工藝,為低電壓和電池供電應(yīng)用提供了可靠的解決方案。在設(shè)計(jì)過(guò)程中,工程師需要充分考慮其電氣參數(shù)、熱特性和開關(guān)特性,同時(shí)注意命名變更和安全使用等問(wèn)題。通過(guò)合理的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證,能夠充分發(fā)揮 FDS9934C 的優(yōu)勢(shì),提高電子設(shè)備的性能和可靠性。
你在實(shí)際設(shè)計(jì)中是否使用過(guò)類似的互補(bǔ)晶體管?遇到過(guò)哪些問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。
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