FDS6681Z P溝道MOSFET:高效功率管理的理想之選
在電子設計領域,MOSFET作為關鍵的功率開關元件,其性能直接影響著整個系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。今天要為大家介紹的是安森美(onsemi)的FDS6681Z P溝道MOSFET,它采用先進的PowerTrench工藝,專為降低導通電阻而設計,在筆記本電腦和便攜式電池組等應用中表現出色。
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1. 產品概述
FDS6681Z是一款P溝道MOSFET,利用安森美的先進PowerTrench工藝制造。該工藝經過特別優(yōu)化,能有效降低導通電阻,非常適合用于筆記本電腦和便攜式電池組中的電源管理和負載開關應用。
2. 產品特性
2.1 電氣性能優(yōu)越
- 電流與電壓規(guī)格:具備 -20 A的連續(xù)漏極電流和 -30 V的漏源電壓,能滿足大多數應用的功率需求。
- 低導通電阻:在VGS = -10 V時,RDS(ON)低至4.6 mΩ;在VGS = -4.5 V時,RDS(ON)為6.5 mΩ,有效降低了功率損耗。
2.2 電池應用適配
- 擴展的VGSS范圍:具備 -25 V的擴展VGSS范圍,適用于電池應用。
- 高ESD保護:典型的HBM ESD保護水平達到8 kV,增強了器件的可靠性。
2.3 工藝與環(huán)保特性
- 高性能溝槽技術:采用高性能溝槽技術,實現極低的RDS(ON),提高了功率轉換效率。
- 環(huán)保設計:引腳無鉛,符合RoHS標準,是一款無鉛和無鹵化物的器件。
3. 絕對最大額定值
| 在設計應用時,必須嚴格遵守器件的絕對最大額定值,以確保器件的安全和可靠性。FDS6681Z的主要絕對最大額定值如下: | 參數 | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓(VDSS) | -30 | V | |
| 柵源電壓(VGSS) | ±25 | V | |
| 連續(xù)漏極電流(ID) | -20 | A | |
| 脈沖漏極電流 | -105 | A | |
| 單操作功率耗散(PD) | 2.5(不同條件下有不同值) | W | |
| 工作和存儲結溫范圍(TJ, TSTG) | -55 至 +150 | °C |
超過這些額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。
4. 熱特性
熱特性對于MOSFET的性能和可靠性至關重要。FDS6681Z的熱阻參數如下:
- 結到環(huán)境熱阻(RJA):在特定條件下為50 °C/W 。
- 結到外殼熱阻(RJC):為25 °C/W 。
需要注意的是,RJA是結到外殼和外殼到環(huán)境熱阻的總和,其中外殼熱參考定義為漏極引腳的焊接安裝表面。RJC由設計保證,而RCA則由用戶的電路板設計決定。
5. 電氣特性
5.1 關斷特性
- 漏源擊穿電壓(BVDSS):在VGS = 0 V,ID = -250 μA時,為 -30 V 。
- 擊穿電壓溫度系數(BVDSS TJ):在ID = -250 μA,參考溫度為25 °C時,為 -26 mV/°C 。
- 零柵壓漏極電流(IDSS):在VDS = -24 V,VGS = 0 V時,為 -1 μA 。
- 柵體泄漏電流(IGSS):在VGS = ±25 V,VDS = 0 V時,為 ±10 μA 。
5.2 導通特性
- 柵極閾值電壓(VGS(th)):在VDS = VGS,ID = -250 μA時,范圍為 -1 至 -3 V 。
- 柵極閾值電壓溫度系數(VGS(th) TJ):在ID = -250 μA,參考溫度為25 °C時,為 6 mV/°C 。
- 靜態(tài)漏源導通電阻(RDS(on)):在不同的VGS和ID條件下有不同的值,如VGS = -10 V,ID = -20 A時,典型值為3.8 mΩ,最大值為4.6 mΩ 。
- 正向跨導(gFS):在VDS = -5 V,ID = -20 A時,典型值為79 S 。
5.3 動態(tài)特性
- 輸入電容(Ciss):在VDS = -15 V,VGS = 0 V,f = 1.0 MHz時,典型值為7540 pF 。
- 輸出電容(Coss):典型值為1400 pF 。
- 反向傳輸電容(Crss):典型值為1120 pF 。
5.4 開關特性
- 導通延遲時間(td(on)):在VDD = -15 V,ID = -1 A,VGS = -10 V,RGEN = 6 Ω時,范圍為20 至 35 ns 。
- 導通上升時間(tr):范圍為9 至 18 ns 。
- 關斷延遲時間(td(off)):范圍為660 至 1060 ns 。
- 關斷下降時間(tf):范圍為380 至 610 ns 。
- 總柵極電荷(Qg(TOT)):在VGS = -10 V,VDS = -15 V,ID = -20 A時,范圍為185 至 260 nC 。
5.5 漏源二極管特性
- 最大連續(xù)漏源二極管正向電流(IS):為 -2.1 A 。
- 漏源二極管正向電壓(VSD):在VGS = 0 V,IS = -2.1 A時,范圍為 -0.7 至 -1.2 V 。
- 反向恢復時間(tRR):在IF = -20 A,dIF/dt = 100 A/μs時,為 125 ns 。
- 反向恢復電荷(QRR):為 94 nC 。
6. 典型特性曲線
文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導通區(qū)域特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、導通電阻隨溫度的變化、轉移特性、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、柵極電荷特性、電容特性、最大安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散和瞬態(tài)熱響應曲線等。這些曲線有助于工程師更好地理解器件在不同條件下的性能,從而進行更優(yōu)化的設計。
7. 總結
FDS6681Z P溝道MOSFET憑借其低導通電阻、高ESD保護、擴展的VGSS范圍等特性,成為筆記本電腦和便攜式電池組等電源管理和負載開關應用的理想選擇。在設計過程中,工程師需要根據實際應用需求,合理選擇器件的工作條件,并嚴格遵守其絕對最大額定值和熱特性要求,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。大家在實際應用中是否遇到過類似MOSFET的選型和設計問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經驗和見解。
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