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探索DS4550:I2C與JTAG接口的9位非易失性I/O擴(kuò)展器

h1654155282.3538 ? 2026-05-11 16:20 ? 次閱讀
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探索DS4550:I2C與JTAG接口的9位非易失性I/O擴(kuò)展器

一、引言

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,對于I/O擴(kuò)展和非易失性存儲的需求日益增長。DS4550作為一款具備I2C和JTAG接口的9位非易失性I/O擴(kuò)展器,同時(shí)還帶有64字節(jié)的非易失性用戶存儲器,為工程師們提供了一種靈活且強(qiáng)大的解決方案。今天,我們就來深入了解這款芯片的特性、應(yīng)用及使用方法。

文件下載:DS4550.pdf

二、DS4550的概述

2.1 基本功能

DS4550具有9個雙向、非易失性的輸入/輸出(I/O)引腳,以及64字節(jié)的EEPROM用戶存儲器。這些I/O引腳和用戶存儲器既可以通過I2C兼容的串行總線訪問,也能通過JTAG接口進(jìn)行操作。它為硬件跳線和機(jī)械開關(guān)提供了數(shù)字化可編程的替代方案,每個I/O引腳都能獨(dú)立配置,輸出為開漏形式且?guī)в锌蛇x上拉電阻。

2.2 應(yīng)用場景

  • RAM-Based FPGA Bank Switching for Multiple Profiles:用于多配置文件的基于RAM的FPGA銀行切換。
  • Selecting Between Boot Flash:在啟動閃存之間進(jìn)行選擇。
  • Setting ASIC Configurations/Profiles Servers:設(shè)置ASIC配置/配置文件服務(wù)器。
  • Network Storage Routers:網(wǎng)絡(luò)存儲路由器。
  • Telecom Equipment:電信設(shè)備。
  • PC Peripherals:PC外設(shè)。

三、關(guān)鍵特性

3.1 可編程替代方案

DS4550可替代機(jī)械跳線和開關(guān),提供更靈活的數(shù)字控制方式。

3.2 非易失性I/O和存儲器

  • 9個非易失性輸入/輸出引腳,確保設(shè)備在掉電后能保持設(shè)定狀態(tài)。
  • 64字節(jié)的非易失性用戶存儲器(EEPROM),可存儲重要數(shù)據(jù)。

    3.3 接口兼容性

    支持I2C兼容的串行接口和JTAG接口,方便與不同的系統(tǒng)進(jìn)行通信。

    3.4 多設(shè)備連接

    在同一I2C總線上最多可進(jìn)行8個設(shè)備的多節(jié)點(diǎn)連接。

    3.5 電氣特性

  • 開漏輸出,帶有可配置的上拉電阻。
  • 輸出能夠吸收高達(dá)16mA的電流
  • 低功耗設(shè)計(jì),寬工作電壓范圍(2.7V - 5.5V)和工作溫度范圍(-40°C - +85°C)。

四、電氣參數(shù)

4.1 絕對最大額定值

  • (VCC)、SDA和SCL引腳相對于地的電壓范圍為 -0.5V 至 +6.0V。
  • A0、A1、A2、TCK、TMS、TDI和I/O_n [n = 0 to 8]引腳相對于地的電壓范圍為 -0.5V 至 (VCC + 0.5V),但不超過 +6.0V。
  • 工作溫度范圍為 -40°C 至 +85°C,EEPROM編程溫度范圍為 0°C 至 +70°C,存儲溫度范圍為 -55°C 至 +125°C。

4.2 推薦直流工作條件

  • 電源電壓 (VCC) 范圍為 +2.7V 至 +5.5V。
  • 輸入邏輯1的電壓 (VIH) 為 0.7 x (VCC),輸入邏輯0的電壓 (VIL) 為 -0.3V 至 0.3 x (VCC)。

4.3 直流電氣特性

參數(shù) 符號 條件 最小值 典型值 最大值 單位
待機(jī)電流 (I_{STBY}) 2 10 (mu A)
輸入泄漏電流 (I_{L}) -1.0 +1.0 (mu A)
每個I/O引腳的輸入電流 (I_{I/O}) 0.4 < (V{I/O}) < 0.9 x (V{CC}) -1.0 +1.0 (mu A)
低電平輸出電壓(SDA) (V_{OL SDA}) 3mA灌電流 0.4 V
低電平輸出電壓(SDA) (V_{OL SDA}) 6mA灌電流 0.6 V
I/O引腳低電平輸出電壓 (V_{OL I/O}) 16mA灌電流 0.4 V
低電平輸出電壓(TDO) (V_{OL TDO}) 4mA灌電流 0.4 V
高電平輸出電壓(TDO) (V_{OH TDO}) 1mA源電流 2.4 V
I/O引腳的上拉電阻 (R_{PU}) 4.0 5.5 7.5
TMS、TDI的上拉電阻 (R_{JPU}) 7.5 10 12.5
I/O電容 (C_{I/O}) 10 pF
上電復(fù)位電壓 (V_{POR}) 1.6 V

4.4 交流電氣特性

4.4.1 I2C接口

參數(shù) 符號 條件 最小值 典型值 最大值 單位
SCL時(shí)鐘頻率 (f_{SCL}) 0 400 kHz
停止和啟動條件之間的總線空閑時(shí)間 (t_{BUF}) 1.3 (mu s)
(重復(fù))啟動條件的保持時(shí)間 (t_{HD:STA}) 0.6 (mu s)
SCL的低電平周期 (t_{LOW}) 1.3 (mu s)
SCL的高電平周期 (t_{HIGH}) 0.6 (mu s)
數(shù)據(jù)保持時(shí)間 (t_{HD:DAT}) 0 0.9 (mu s)
數(shù)據(jù)建立時(shí)間 (t_{SU:DAT}) 100 ns
啟動建立時(shí)間 (t_{SU:STA}) 0.6 (mu s)
SDA和SCL的上升時(shí)間 (t_{R}) 20 + 0.1(C_{B}) 300 ns
SDA和SCL的下降時(shí)間 (t_{F}) 20 + 0.1(C_{B}) 300 ns
停止建立時(shí)間 (t_{SU:STO}) 0.6 (mu s)
SDA和SCL的電容負(fù)載 (C_{B}) 400 pF
EEPROM寫入時(shí)間 (t_{WR}) I2C EEPROM寫入 10 20 ms

4.4.2 JTAG接口

參數(shù) 符號 條件 最小值 典型值 最大值 單位
TCK時(shí)鐘周期 (t_{1}) 1000 ns
TCK時(shí)鐘高/低時(shí)間 (t{2})、(t{3}) 50 500 ns
TCK到TDI、TMS的建立時(shí)間 (t_{4}) 15 ns
TCK到TDI、TMS的保持時(shí)間 (t_{5}) 10 ns
TCK到TDO的延遲 (t_{6}) 50 ns
TCK到TDO高阻態(tài)的延遲 (t_{7}) 50 ns
EEPROM寫入時(shí)間 (t_{WR}) JTAG EEPROM寫入 10 20 ms

五、引腳描述

引腳 名稱 功能
1 (I/O_0) 輸入/輸出0,雙向I/O引腳
2 (I/O_1) 輸入/輸出1,雙向I/O引腳
3 (I/O_2) 輸入/輸出2,雙向I/O引腳
4 (I/O_3) 輸入/輸出3,雙向I/O引腳
5 (I/O_4) 輸入/輸出4,雙向I/O引腳
6 A0 I2C地址輸入,與A1、A2共同確定設(shè)備的I2C從地址
7 A1 I2C地址輸入,與A0、A2共同確定設(shè)備的I2C從地址
8 TCK JTAG測試時(shí)鐘,用于在上升沿將數(shù)據(jù)移入TDI,在下降沿將數(shù)據(jù)移出TDO
9 TMS JTAG測試模式選擇,在TCK上升沿采樣,用于將TAP置于不同的JTAG狀態(tài),該引腳有內(nèi)部上拉電阻
10 (V_{CC}) 電源電壓
11 SDA I2C串行數(shù)據(jù)開漏輸入/輸出
12 SCL I2C串行時(shí)鐘輸入
13 TDI JTAG測試數(shù)據(jù)輸入,測試指令和數(shù)據(jù)在TCK上升沿時(shí)鐘輸入該引腳,該引腳有內(nèi)部上拉電阻
14 TDO JTAG測試數(shù)據(jù)輸出,測試指令和數(shù)據(jù)在TCK下降沿時(shí)鐘輸出該引腳,若不使用應(yīng)開路
15 A2 I2C地址輸入,與A0、A1共同確定設(shè)備的I2C從地址
16 (I/O_5) 輸入/輸出5,雙向I/O引腳
17 (I/O_6) 輸入/輸出6,雙向I/O引腳
18 (I/O_7) 輸入/輸出7,雙向I/O引腳
19 (I/O_8) 輸入/輸出8,雙向I/O引腳
20 GND

六、內(nèi)存映射和類型

DS4550的內(nèi)存分為三種類型:EEPROM、SRAM-shadowed EEPROM和SRAM。

6.1 EEPROM

地址范圍為 00h 至 3Fh,是64字節(jié)的通用用戶EEPROM,寫入這些位置會觸發(fā)EEPROM寫入周期。

6.2 SRAM-shadowed EEPROM

地址范圍為 E8h 至 EFh、F0h、F1h、F2h、F3h、F4h,可通過配置寄存器中的SEE位設(shè)置為兩種模式。當(dāng) (SEE = 0) 時(shí),像EEPROM一樣工作;當(dāng) (SEE = 1) 時(shí),寫入影子SRAM,避免了EEPROM寫入時(shí)間和磨損問題。

6.3 SRAM

地址范圍為 F8h、F9h、FAh 至 FFh,包括I/O狀態(tài)寄存器和6字節(jié)的通用SRAM。

七、I2C和JTAG操作

7.1 I2C操作

7.1.1 基本概念

  • 主設(shè)備:控制總線上的從設(shè)備,生成SCL時(shí)鐘脈沖、起始和停止條件。
  • 從設(shè)備:根據(jù)主設(shè)備的請求發(fā)送和接收數(shù)據(jù)。
  • 總線空閑:SDA和SCL都處于高電平的時(shí)間段。
  • 起始條件:主設(shè)備在SCL為高電平時(shí)將SDA從高電平拉低。
  • 停止條件:主設(shè)備在SCL為高電平時(shí)將SDA從低電平拉高。
  • 重復(fù)起始條件:用于在一次數(shù)據(jù)傳輸結(jié)束后立即開始新的數(shù)據(jù)傳輸。
  • 位寫入:SDA在SCL低電平時(shí)進(jìn)行轉(zhuǎn)換,數(shù)據(jù)在SCL高電平期間保持有效。
  • 位讀取:主設(shè)備在讀取位之前需要釋放SDA總線。
  • 確認(rèn)(ACK和NACK):數(shù)據(jù)傳輸?shù)牡?位用于確認(rèn),0表示ACK,1表示NACK。

7.1.2 通信方式

  • 單字節(jié)寫入:主設(shè)備生成起始條件,寫入從地址字節(jié)( (R / bar{W}=0) )、內(nèi)存地址、數(shù)據(jù)字節(jié),最后生成停止條件。
  • 多字節(jié)寫入:主設(shè)備生成起始條件,寫入從地址字節(jié)( (R / bar{W}=0) )、內(nèi)存地址,最多寫入8個數(shù)據(jù)字節(jié),最后生成停止條件。
  • 單字節(jié)讀取:主設(shè)備生成起始條件,寫入從地址字節(jié)( (R / bar{W}=1) ),讀取數(shù)據(jù)字節(jié)并發(fā)送NACK,最后生成停止條件。
  • 多字節(jié)讀取:主設(shè)備在讀取每個字節(jié)后發(fā)送ACK,直到讀取最后一個字節(jié)時(shí)發(fā)送NACK,然后生成停止條件。

7.2 JTAG操作

DS4550的JTAG端口包含測試訪問端口(TAP)控制器狀態(tài)機(jī)。TAP控制器是一個有限狀態(tài)機(jī),根據(jù)TCK上升沿時(shí)TMS的邏輯電平進(jìn)行狀態(tài)轉(zhuǎn)換。

7.2.1 指令寄存器

指令寄存器包含一個4位的移位寄存器和鎖存并行輸出。DS4550支持多種指令,如SAMPLE/PRELOAD、BYPASS、EXTEST等,每種指令有對應(yīng)的操作和功能。

7.2.2 測試數(shù)據(jù)寄存器

  • 旁路寄存器:1位移位寄存器,用于BYPASS、CLAMP和HIGHZ指令。
  • 邊界掃描寄存器:33位寄存器,包含移位寄存器路徑和鎖存并行輸出。
  • 識別寄存器:32位寄存器,用于IDCODE指令。
  • 內(nèi)存地址寄存器:8位寄存器,用于存儲要讀寫的內(nèi)存地址。
  • 內(nèi)存讀取寄存器:8位只讀寄存器,用于讀取內(nèi)存數(shù)據(jù)。
  • 內(nèi)存寫入寄存器:8位只寫寄存器,用于寫入內(nèi)存數(shù)據(jù)。

八、應(yīng)用注意事項(xiàng)

8.1 電源去耦

為了獲得最佳性能,建議在IC電源引腳使用去耦電容,典型值為0.01uF和0.1uF,使用高質(zhì)量的陶瓷表面貼裝電容,并盡可能靠近IC的 (VCC) 和GND引腳安裝,以減少引線電感。

8.2 EEPROM寫入

使用I2C或JTAG接口進(jìn)行EEPROM寫入時(shí),即使只修改一頁中的一個字節(jié),DS4550也會寫入整個EEPROM內(nèi)存頁。在寫入EEPROM后,需要等待EEPROM寫入時(shí)間( (t_{WR}) ),可以通過確認(rèn)輪詢的方式在設(shè)備準(zhǔn)備好后繼續(xù)通信。

九、總結(jié)

DS4550作為一款功能強(qiáng)大的I/O擴(kuò)展器,提供了I2C和JTAG兩種接口,具有非易失性I/O和64字節(jié)的用戶存儲器,適用于多種應(yīng)用場景。通過深入了解其電氣參數(shù)、引腳功能、內(nèi)存映射和操作方式,工程師們可以更好地利用這款芯片進(jìn)行電子設(shè)計(jì)。你在使用DS4550的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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