如何通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)計(jì)算和消除增益和偏移誤差
本章節(jié)介紹了誤差分析背后的統(tǒng)計(jì)學(xué)知識(shí)。它涵蓋數(shù)據(jù)手冊(cè)規(guī)格指標(biāo)里的典型值和最大值統(tǒng)計(jì)學(xué)含義，以及如何使用它們來(lái)進(jìn)行最壞情況分析和統(tǒng)計(jì)分析。我們討論了如何通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)計(jì)算和消除增益和偏移誤差，以及介紹了數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器系統(tǒng)的偏移和增益誤差計(jì)算示例。同時(shí)我們還介紹了如何使用稱為蒙特卡洛分析的SPICE分析選項(xiàng)來(lái)確定統(tǒng)計(jì)有效的增益誤差估算值。它涵蓋了使用TINASPICE進(jìn)行蒙特卡羅分析的分步方法，并解釋如何理解結(jié)果。本視頻介紹如何使用數(shù)據(jù)手冊(cè)規(guī)格指標(biāo)以及SPICE仿真，來(lái)計(jì)算包括ADC、放大器和參考的整個(gè)系統(tǒng)的噪聲。這個(gè)動(dòng)手實(shí)驗(yàn)展示了ADC前端的運(yùn)放電路如何受到電阻器熱噪聲的影響。
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
放大器
+關(guān)注
關(guān)注
146文章
14362瀏覽量
222536 -
ti
+關(guān)注
關(guān)注
114文章
8085瀏覽量
220091 -
SPICE
+關(guān)注
關(guān)注
6文章
199瀏覽量
44716
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
納芯微磁編碼器全角度誤差建模與自適應(yīng)校準(zhǔn)
傳統(tǒng)磁編碼器校準(zhǔn)方法依賴離線固定參數(shù)，無(wú)法應(yīng)對(duì)工作環(huán)境溫度漂移、磁場(chǎng)老化及機(jī)械振動(dòng)引起的動(dòng)態(tài)誤差變化。本文針對(duì)納芯微磁編碼器，建立涵蓋零位偏移、幅度不對(duì)稱、正交誤差及高次諧波的全角度
納芯微磁編碼器校準(zhǔn)機(jī)制與信號(hào)鏈設(shè)計(jì)：自校準(zhǔn)流程、延時(shí)與多接口兼容性
。其核心競(jìng)爭(zhēng)力在于 全維度閉環(huán)校準(zhǔn)機(jī)制 與 低延時(shí)高兼容設(shè)計(jì) ：通過(guò)出廠校準(zhǔn)、客戶端勻速自校準(zhǔn)、實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)溫補(bǔ)三重補(bǔ)償，系統(tǒng)性消除固有
如何校準(zhǔn)斯坦福鎖相放大器的增益
Systems）生產(chǎn)的鎖相放大器因其高穩(wěn)定性與精準(zhǔn)性而備受科研人員青睞。然而，為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，定期對(duì)儀器進(jìn)行增益校準(zhǔn)至關(guān)重要。本文將介紹校準(zhǔn)斯坦福鎖相放大器增益的基本步驟與注
校準(zhǔn)后矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀跡線噪聲大的原因分析
在高頻測(cè)量領(lǐng)域，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)是評(píng)估射頻與微波器件性能的核心工具。盡管經(jīng)過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)?b class='flag-5'>校準(zhǔn)流程，用戶仍可能遇到跡線噪聲偏大的問(wèn)題，影響測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性和精度。校準(zhǔn)雖能有效消除系統(tǒng)誤差
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）校準(zhǔn)與測(cè)試方法
一、校準(zhǔn)的必要性與誤區(qū) VNA校準(zhǔn)是精確測(cè)量的前提，其本質(zhì)是建立誤差模型并求解誤差項(xiàng)，從而消除測(cè)試系統(tǒng)（電纜、連接器等）對(duì)結(jié)果的影響。然而，
晶振的頻率誤差可以修正嗎
的頻率產(chǎn)生影響，因此可以通過(guò)添加溫度補(bǔ)償電路來(lái)減小溫度對(duì)晶振頻率的影響。例如，可以采用熱敏電阻等元件來(lái)對(duì)晶振的頻率進(jìn)行溫度補(bǔ)償。
2.數(shù)字校準(zhǔn)：數(shù)字
發(fā)表于 12-12 06:20
減小RTC誤差的措施分享
硬件校準(zhǔn)?：通過(guò)硬件校準(zhǔn)RTC晶振的頻率來(lái)降低偏差?？梢允褂猛獠康臉?biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘源或者其他準(zhǔn)確的時(shí)鐘來(lái)參考進(jìn)行
發(fā)表于 11-17 08:30
如何校準(zhǔn)電能質(zhì)量在線監(jiān)測(cè)裝置以確保其誤差在允許范圍內(nèi)？
、電流、諧波、暫降等核心參數(shù)，通過(guò) “標(biāo)準(zhǔn)源模擬→誤差計(jì)算→參數(shù)修正” 的步驟，確保裝置誤差在允許范圍（A 級(jí)≤±0.2%、S 級(jí)≤±1%）內(nèi)。以下是具體實(shí)施方法，覆蓋從
聚徽揭秘工業(yè)觸控一體機(jī)電容屏觸控精度偏移校準(zhǔn)實(shí)操指南
在工業(yè)自動(dòng)化場(chǎng)景中，觸控一體機(jī)的電容屏因長(zhǎng)期運(yùn)行、環(huán)境變化或機(jī)械應(yīng)力可能導(dǎo)致觸控精度偏移，表現(xiàn)為點(diǎn)擊位置與實(shí)際響應(yīng)點(diǎn)存在偏差。本文結(jié)合技術(shù)原理與實(shí)操案例，提供一套系統(tǒng)化的校準(zhǔn)解決方案。 一、觸控精度
技術(shù)干貨 | DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算全解析：從偏移誤差到總未調(diào)整誤差
上一期我們?cè)斀饬薉AC的核心術(shù)語(yǔ)，本期繼續(xù)深入探討DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算！從偏移誤差、增益誤差到INL/DNL，再到未調(diào)整總
技術(shù)干貨 | 從偏移誤差到電源抑制比，DAC核心術(shù)語(yǔ)全解析
偏移誤差、增益誤差、INL/DNL、轉(zhuǎn)換時(shí)間……這些關(guān)鍵指標(biāo)如何定義？如何影響DAC性能？本文DAC核心術(shù)語(yǔ)全解析帶您一文掌握關(guān)鍵參數(shù)！
從偏移誤差到電源抑制比，DAC核心術(shù)語(yǔ)全解析
本文介紹了DAC術(shù)語(yǔ)，包括偏移誤差、滿刻度誤差、增益誤差、積分非線性誤差、差分非線性
AD7745在使用中，需要進(jìn)行偏移校準(zhǔn)和系統(tǒng)校準(zhǔn)嗎？
①AD7745在使用中，需要進(jìn)行偏移校準(zhǔn)和系統(tǒng)校準(zhǔn)嗎，規(guī)格書上面有描述，但不確定是否需要校準(zhǔn)，目前是差分測(cè)量電容，能提供一份校準(zhǔn)示例代碼嗎，
發(fā)表于 06-17 06:22
ADC靜態(tài)參數(shù)全解析：從偏移誤差到未調(diào)整總誤差，一文掌握核心計(jì)算！
ADC性能評(píng)估的關(guān)鍵指標(biāo)如何計(jì)算？本文用ADC實(shí)例，詳解偏移/增益/INL/DNL/TUE六大參數(shù)的計(jì)算方法，帶您掌握從跳變點(diǎn)提取到誤差分析
PGA308 具有可編程增益和偏移的單電源自動(dòng)置零傳感器放大器技術(shù)手冊(cè)
PGA308是一款可編程模擬傳感器信號(hào)調(diào)節(jié)器。模擬信號(hào)路徑放大傳感器信號(hào)，并為偏移和增益提供數(shù)字校準(zhǔn)。校準(zhǔn)是通過(guò)1W引腳、數(shù)字單線UART兼
評(píng)論