ADI研討會(huì)：數(shù)據(jù)采樣的特定設(shè)計(jì)問題及解決方法
我們理所當(dāng)然地認(rèn)為在我們的信號(hào)鏈設(shè)計(jì)中要實(shí)現(xiàn)最佳的結(jié)果需要十分了解如何與傳感器接口以及如何處理元件噪聲、寄生、熱漂移等問題，但有時(shí)我們忽略的恰恰是從模擬到數(shù)字(或者從數(shù)字到模擬)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換本身引起的很多錯(cuò)誤。量化噪聲、幻像信號(hào)、偽影及失真只是眾多必須認(rèn)真考慮的與轉(zhuǎn)換相關(guān)的異常問題中的一部分。濾波器、PCB 接地及支持轉(zhuǎn)換器的元器件如時(shí)鐘、電壓基準(zhǔn)和電源，也會(huì)直接影響性能。在這個(gè)由兩部分組成的在線研討會(huì)系列中，我們將深入探討數(shù)據(jù)采樣及很多與之相關(guān)的特定設(shè)計(jì)問題，更重要的是，我們將闡述如何解決這些問題。
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