利用PADS可測(cè)試性設(shè)計(jì)優(yōu)化PCB測(cè)試點(diǎn)和DFT審核
PADS 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時(shí)間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測(cè)試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
pcb
+關(guān)注
關(guān)注
4418文章
23979瀏覽量
426393 -
設(shè)計(jì)
+關(guān)注
關(guān)注
4文章
829瀏覽量
71497 -
PADS
+關(guān)注
關(guān)注
83文章
821瀏覽量
111840
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
11：如何在 Allegro 中添加自定義的測(cè)試點(diǎn) I Allegro PCB 設(shè)計(jì)小訣竅
背景介紹： 為了對(duì)加工后的PCB性能進(jìn)行測(cè)試，我們?cè)谶M(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí)，通常會(huì)在PCB上一些關(guān)鍵位置添加測(cè)試點(diǎn)，Allegro
發(fā)表于 04-16 17:07
08. 如何在 Allegro中設(shè)置禁止添加測(cè)試點(diǎn)區(qū)域？| 芯巧Allegro PCB 設(shè)計(jì)小訣竅
背景介紹： 我們?cè)谶M(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí)，為了方便對(duì)加工后的PCB進(jìn)行測(cè)試，通常會(huì)為關(guān)鍵性元件添加測(cè)試點(diǎn)，但是在
發(fā)表于 04-10 10:56
PCB焊接質(zhì)量對(duì)比測(cè)試怎么做？推拉力測(cè)試機(jī)應(yīng)用實(shí)測(cè)
力測(cè)試機(jī)來(lái)進(jìn)行不同PCB板同位置焊點(diǎn)推力對(duì)比測(cè)試，幫助大家在鍵合工藝優(yōu)化、質(zhì)量一致性管控和失效分析中提供有效參考。 一、
技術(shù)資訊 I PCB設(shè)計(jì)的可測(cè)試性：初學(xué)者實(shí)用指南
第一次設(shè)計(jì)PCB電路板時(shí)，設(shè)計(jì)者很容易將全部精力投入到功能實(shí)現(xiàn)、布局設(shè)計(jì)和元器件選型中。而可測(cè)試性（Testability，PCB設(shè)計(jì)核心指
芯片測(cè)試覆蓋率99%就夠了嗎？給DFT設(shè)計(jì)提個(gè)醒
充分。必須將硅后驗(yàn)證向量導(dǎo)入ATPG工具進(jìn)行覆蓋率分析，否則會(huì)形成測(cè)試盲區(qū)。
二、從測(cè)試困境到DFT設(shè)計(jì)反饋
測(cè)試工程師的挑戰(zhàn)應(yīng)前置于設(shè)計(jì)階段解決。
發(fā)表于 02-06 11:06
【「龍芯之光 自主可控處理器設(shè)計(jì)解析」閱讀體驗(yàn)】+可測(cè)試性設(shè)計(jì)章節(jié)閱讀與自己的一些感想
，也分享下 自己的一些感想。 先介紹了兩個(gè)術(shù)語(yǔ)DFT可測(cè)試性 設(shè)計(jì)，ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，DFT目
發(fā)表于 01-15 23:30
嵌入式可測(cè)試性軟件設(shè)計(jì)
什么是可測(cè)試性？就是你這個(gè)軟件模塊/函數(shù)接口寫完之后，可以較為方便、較為全面地進(jìn)行自測(cè) 。
這里舉個(gè)簡(jiǎn)單的例子，認(rèn)識(shí)一下可測(cè)試
發(fā)表于 12-02 06:06
測(cè)試點(diǎn)氧化或污濁時(shí)的應(yīng)急技巧：點(diǎn)對(duì)點(diǎn)對(duì)地電阻測(cè)試如何獲得真實(shí)數(shù)據(jù)
在點(diǎn)對(duì)點(diǎn)對(duì)地電阻測(cè)試中，測(cè)試點(diǎn)的氧化、生銹或附著油污、灰塵等污濁物，會(huì)在接觸表面形成額外電阻層，導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)虛高或波動(dòng)頻繁，難以反映真實(shí)的接地電阻狀態(tài)。面對(duì)這類突發(fā)情況，無(wú)需依賴專業(yè)清潔設(shè)備，通過(guò)
廚房電器EMC整改：從測(cè)試到優(yōu)化的系統(tǒng)性解決方案
南柯電子｜廚房電器EMC整改：從測(cè)試到優(yōu)化的系統(tǒng)性解決方案
Texas Instruments TPS22991EVM評(píng)估模塊數(shù)據(jù)手冊(cè)
進(jìn)出被測(cè)器件的低電阻路徑。測(cè)試點(diǎn)連接使用戶能夠利用用戶定義的測(cè)試條件控制TI TPS22991EVM和進(jìn)行精確的R~ON~ 測(cè)量。
高壓繼電器如何提升安規(guī)與線纜測(cè)試的效率和安全性？
一過(guò)程中扮演著至關(guān)重要的角色。在多點(diǎn)高壓掃描測(cè)試中，高壓繼電器的快速切換能力能夠?qū)崿F(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)之間的快速切換，提高測(cè)試效率。高壓繼電器在線纜測(cè)試中的應(yīng)用線纜
PCB的十大可靠性測(cè)試
PCB板的可靠性測(cè)試流程為了確保PCB板的可靠性，必須經(jīng)過(guò)一系列嚴(yán)格的測(cè)試。以下是一些常見的
標(biāo)準(zhǔn)電阻器不接PCB的地，電阻測(cè)量結(jié)果就波動(dòng)大
標(biāo)準(zhǔn)電阻器不接PCB的地，電阻測(cè)量結(jié)果就波動(dòng)大，需要電阻箱上面的接地和PCB接地測(cè)試點(diǎn)連一起，這個(gè)是因?yàn)槭裁矗且驗(yàn)?b class='flag-5'>PCB接地不能用測(cè)試點(diǎn)裸
發(fā)表于 06-17 13:08
通信設(shè)備EMC整改：從測(cè)試到優(yōu)化的系統(tǒng)性解決方案
深圳南柯電子｜通信設(shè)備EMC整改：從測(cè)試到優(yōu)化的系統(tǒng)性解決方案
借助DFT技術(shù)實(shí)現(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)力最大化
通過(guò)改進(jìn)和優(yōu)化設(shè)計(jì)與制造的各個(gè)方面，半導(dǎo)體行業(yè)已經(jīng)能夠?qū)崿F(xiàn) IC 能力的巨大進(jìn)步。可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT)——涵蓋從在 RTL 中插入
評(píng)論