金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 氬離子拋光技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域2025-11-03 11:56

  

  氬離子拋光技術(shù)作為一項(xiàng)前沿的材料表面處理手段，憑借其高效能與精細(xì)加工的結(jié)合，為多個(gè)科研與工業(yè)領(lǐng)域帶來突破性解決方案。該技術(shù)通過低能量離子束對(duì)材料表面進(jìn)行精準(zhǔn)處理，不僅能快速實(shí)現(xiàn)拋光還能在微觀尺度上保留樣品的原始結(jié)構(gòu)和特性。一、拋光系統(tǒng)核心氬離子拋光系統(tǒng)的核心在于其先進(jìn)的離子槍設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)配備了兩個(gè)低能量聚集能力的離子槍，能夠在極低的能量水平（低至100eV）

  光電 拋光 445瀏覽量

• 為什么電子產(chǎn)品必須采用RoHS無鉛工藝？2025-11-03 11:55

  

  RoHS無鉛工藝概述RoHS無鉛工藝是為符合歐盟環(huán)保指令，在電子制造中使用錫銀銅等無鉛焊料，替代傳統(tǒng)鉛錫焊料，以限制電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)的技術(shù)。RoHS指令的環(huán)保要求RoHS指令的核心目標(biāo)在于減少電子電氣廢棄物對(duì)生態(tài)環(huán)境和人體健康的危害。它規(guī)定，在全球市場(chǎng)范圍內(nèi)，各受限物質(zhì)的均質(zhì)材料中的濃度不得超過規(guī)定的閾值（如鉛的限值為0.1%）。這意味著一件電子產(chǎn)品的任何

  RoHS 焊料 電子產(chǎn)品 1020瀏覽量

• 氬離子拋光制樣：精準(zhǔn)解析內(nèi)部結(jié)構(gòu)2025-10-31 12:02

  

  氬離子拋光技術(shù)是一種前沿的表面處理工藝，它通過精確調(diào)控氬離子束的多種參數(shù)，如電壓、電流、入射角度等，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的精細(xì)化拋光處理。氬離子拋光技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景，尤其是在制備用于掃描電子顯微鏡（SEM）、透射電子顯微鏡（TEM）、能量色散X射線光譜（EDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極發(fā)光（CL）、電子束誘導(dǎo)電流（EBIC）等高級(jí)分析

  顯微鏡 材料 離子束 421瀏覽量

• 透射電鏡在氮化鎵器件研發(fā)中的關(guān)鍵作用分析2025-10-31 12:00

  

  在半導(dǎo)體材料的研究領(lǐng)域中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為一種不可或缺的分析工具。它能夠讓我們直接觀察到氮化鎵（GaN）外延片中原子級(jí)別的排列細(xì)節(jié)——這種第三代半導(dǎo)體材料，正是現(xiàn)代快充設(shè)備、5G通信基站乃至電動(dòng)汽車動(dòng)力系統(tǒng)的核心組成部分。TEM技術(shù)的應(yīng)用，為科研人員提供了深入探索納米世界的視覺能力。透射電子顯微鏡利用電子束穿透超薄樣品，通過電子與樣品原子的相互

  半導(dǎo)體材料 氮化鎵 透射電鏡 8551瀏覽量

• EBSD樣品制備指南2025-10-30 21:06

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是現(xiàn)代材料微觀分析的關(guān)鍵手段，其分析成功率與數(shù)據(jù)質(zhì)量直接取決于樣品制備水平。一、EBSD樣品制備的基本要求EBSD信號(hào)源于樣品表層極淺區(qū)域（通常小于50納米），任何表面缺陷都會(huì)干擾菊池衍射圖樣的質(zhì)量。合格的樣品必須滿足以下四項(xiàng)基本要求：1.表面無損傷層：必須徹底去除因切割、研磨等機(jī)械加工引入的塑性變形層或應(yīng)變層，暴露出完整的晶體

  材料 電子束 659瀏覽量

• SEM/FIB雙束系統(tǒng)及其截面加工技術(shù)2025-10-30 21:04

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）與聚焦離子束（FIB）結(jié)合形成的雙束系統(tǒng)，是現(xiàn)代微納加工與材料分析領(lǐng)域中一種高度集成的多功能儀器平臺(tái)。該系統(tǒng)通過在同一真空腔體內(nèi)集成電子束與離子束兩套獨(dú)立的成像與加工系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品從微觀觀測(cè)到納米級(jí)加工的全流程操控。SEM/FIB雙束系統(tǒng)不僅具備高分辨成像能力，還能進(jìn)行精確的刻蝕、沉積、注入和截面制備，因此在半導(dǎo)體失效分析、材料科

  fib SEM 電子顯微鏡 離子束 486瀏覽量

• 從“測(cè)量溫差”到“測(cè)量熱流”：DSC技術(shù)如何提升熱分析精度2025-10-30 21:02

  

  DTA的局限與DSC的誕生在材料研發(fā)和質(zhì)量控制中，熱分析是一種關(guān)鍵手段。差熱分析（DTA）作為最早的技術(shù)之一，其基本思路是測(cè)量樣品與參比物之間的溫差（ΔT），從而判斷吸熱或放熱事件。DTA在實(shí)際應(yīng)用中存在幾個(gè)明顯局限：1.定量能力差：溫差信號(hào)僅與熱流間接相關(guān)，需借助熱阻系數(shù)換算，誤差較大。2.分辨率低：儀器熱慣性大，導(dǎo)致峰形展寬，對(duì)相鄰熱事件的區(qū)分能力不足。

  DSC DTA 測(cè)量 729瀏覽量

• 光電子元器件常見的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目2025-10-29 14:43

  

  光電器件是通過光與電的相互作用研制出的各種功能設(shè)備，它們能夠?qū)崿F(xiàn)光信號(hào)的產(chǎn)生、調(diào)制、探測(cè)、傳輸、能量分配、能量調(diào)節(jié)、信號(hào)放大以及光電轉(zhuǎn)換等功能。這些設(shè)備主要分為兩大類：光纖通信器件和光電照明器件。1.光纖通信器件光纖通信器件主要應(yīng)用于光通信系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)光信號(hào)的發(fā)射、傳輸、控制與接收。該類器件可進(jìn)一步劃分為光有源器件與光無源器件。光有源器件：例如激光器、光收發(fā)

  元器件 光電子 可靠性試驗(yàn) 高溫 435瀏覽量

• 氬離子的拋光與切割技術(shù)2025-10-29 14:41

  

  氬離子拋光和切割技術(shù)是現(xiàn)代微觀分析領(lǐng)域中不可或缺的樣品制備手段。該技術(shù)通過利用寬離子束（約1毫米寬）對(duì)樣品進(jìn)行切割或拋光，能夠精確地去除樣品表面的損傷層，并暴露出高質(zhì)量的分析區(qū)域，為后續(xù)的微觀結(jié)構(gòu)觀察和成分分析提供理想的樣品表面。氬離子切割技術(shù)氬離子切割技術(shù)的核心在于利用寬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精確切割。在切割過程中，一個(gè)堅(jiān)固的擋板被用于遮擋樣品的非目標(biāo)區(qū)域，從而

  電池 線路板 496瀏覽量

• 納米加工技術(shù)的核心：聚焦離子束及其應(yīng)用2025-10-29 14:29

  

  聚焦離子束技術(shù)的崛起在納米科技蓬勃發(fā)展的浪潮中，納米尺度制造業(yè)正以前所未有的速度崛起，而納米加工技術(shù)則是這一領(lǐng)域的心臟。聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）作為納米加工的代表性方法，憑借其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景，成為了納米加工領(lǐng)域的明星技術(shù)。FIB結(jié)合掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscopy，SEM）形成的雙束系

  儀器 離子束 聚焦 544瀏覽量