金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 常見的電子元器件失效分析匯總2025-10-17 17:38

  

  電子元器件失效可能導(dǎo)致電路功能異常，甚至整機(jī)損毀，耗費(fèi)大量調(diào)試時(shí)間。部分半導(dǎo)體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”，進(jìn)一步增加了問題定位的難度。電阻器失效1.開路失效：最常見故障。由過電流沖擊導(dǎo)致，具體表現(xiàn)為電阻膜燒毀或脫落、基體斷裂、引線帽與電阻體脫離。2.阻值漂移：隱蔽性失效。源于電阻膜缺陷或退化、基體中可動(dòng)離子影響、保護(hù)涂層不良，導(dǎo)致阻值超出規(guī)范，電

  失效分析 電子元器件 1479瀏覽量

• 高低溫循環(huán)測(cè)試對(duì)電子元件壽命有什么影響2025-10-16 15:00

  

  在電子產(chǎn)品無(wú)處不在的今天，微小元件的可靠性直接關(guān)系整個(gè)系統(tǒng)的成敗。小到手機(jī)，大到汽車、醫(yī)療及工業(yè)設(shè)備，任何元件的失效都可能造成設(shè)備癱瘓。要預(yù)知元件壽命，高低溫循環(huán)測(cè)試是關(guān)鍵所在。什么是高低溫循環(huán)測(cè)試？高低溫循環(huán)測(cè)試是一種環(huán)境可靠性測(cè)試方法，通過讓電子元件在設(shè)定的高溫和低溫極端值之間循環(huán)變化，模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)和使用過程中可能遇到的溫度變化環(huán)境。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁

  循環(huán)測(cè)試 電子產(chǎn)品 電子元件 824瀏覽量

• 聚焦離子束（FIB）技術(shù)：原理、應(yīng)用與制樣全解析2025-10-16 14:58

  

  在微觀世界的探索中，科學(xué)家們需要極其精密的工具來觀察和分析材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)與成分。聚焦離子束（FIB）技術(shù)就是這樣一把打開微觀世界大門的鑰匙，它通過將離子束聚焦到納米尺度，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的精確加工和分析。原理與簡(jiǎn)介聚焦離子束系統(tǒng)利用電透鏡將離子束聚焦成非常小的尺寸，目前商用系統(tǒng)通常采用液相金屬離子源（LMIS），其金屬材質(zhì)為鎵（Ga）。為什么選擇鎵呢？這是因?yàn)樗?

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• LED死燈原因到底有多少種?2025-10-16 14:56

  

  于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)，能夠?qū)ED進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)，致力于為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù)，為L(zhǎng)ED在各個(gè)領(lǐng)域的可靠應(yīng)用提供堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。以金鑒接觸的失效分析大數(shù)據(jù)顯示，LED死燈的原因可能過百種，我們僅以LED光源為例，從LED光源的五大原物料（芯片、支架、熒光粉、固晶膠、封裝膠和金線）的入手，介紹部分可能導(dǎo)致死燈的原因。芯片1.芯片抗靜電能力差LED燈珠

  led 死燈 1050瀏覽量

• 基于振動(dòng)與沖擊試驗(yàn)的機(jī)械結(jié)構(gòu)疲勞可靠性評(píng)估2025-10-15 16:26

  

  振動(dòng)環(huán)境堪稱機(jī)械結(jié)構(gòu)面臨的終極考驗(yàn)之一。從噴氣式發(fā)動(dòng)機(jī)的持續(xù)高頻振動(dòng)，到高速列車與軌道接觸產(chǎn)生的復(fù)雜激勵(lì)，再到工業(yè)生產(chǎn)線設(shè)備永不停歇的運(yùn)轉(zhuǎn)，這些動(dòng)態(tài)載荷無(wú)時(shí)無(wú)刻不在考驗(yàn)著工程結(jié)構(gòu)的耐久極限。在長(zhǎng)期振動(dòng)作用下，即使是最堅(jiān)固的材料也會(huì)逐漸積累損傷，最終導(dǎo)致災(zāi)難性失效。因此，通過科學(xué)的試驗(yàn)手段，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段精準(zhǔn)評(píng)估其抗振與抗沖擊能力，是確保產(chǎn)品可靠性、安全性

  沖擊試驗(yàn) 振動(dòng) 機(jī)械 1057瀏覽量

• 熱沖擊試驗(yàn)對(duì)車燈有什么影響？2025-10-15 16:25

  

  什么是熱沖擊試驗(yàn)？車輛外部照明和光信號(hào)裝置的熱沖擊試驗(yàn)，是一項(xiàng)針對(duì)車燈環(huán)境可靠性的關(guān)鍵測(cè)試。它通過模擬車輛在日常使用中可能遭遇的急劇溫度變化，將車燈樣品交替暴露于極端高溫和低溫環(huán)境中，進(jìn)行多次循環(huán)測(cè)試。該測(cè)試的主要目的是檢驗(yàn)車燈在快速溫度變化條件下能否保持結(jié)構(gòu)完整性及功能穩(wěn)定性。測(cè)試能夠識(shí)別出材料開裂、變形、密封失效、光學(xué)性能異常以及電路故障等潛在問題，從而

  沖擊試驗(yàn) 車燈 496瀏覽量

• 氬離子束截面分析在鋰電池電極材料研究中的應(yīng)用2025-10-15 16:24

  

  鋰離子電池作為新一代綠色高能電池，憑借其卓越的性能，在新能源汽車等高新技術(shù)領(lǐng)域占據(jù)著舉足輕重的地位。隨著新能源汽車行業(yè)的蓬勃發(fā)展，鋰電池材料的需求與應(yīng)用前景呈現(xiàn)出持續(xù)向好的態(tài)勢(shì)。鋰離子電池的優(yōu)勢(shì)1.高能量密度在相同的體積或重量下，鋰離子電池能夠儲(chǔ)存更多的電能，為新能源汽車提供更長(zhǎng)的續(xù)航里程。2.長(zhǎng)循環(huán)壽命在多次充放電循環(huán)后，電池的容量衰減速度相對(duì)較慢，這不僅

  電極材料 鋰電池 356瀏覽量

• 碳化硅雙極退化：材料的本征局限還是工藝難題？2025-10-15 16:22

  

  在功率電子領(lǐng)域，碳化硅（SiC）器件以其優(yōu)異的性能正逐漸取代傳統(tǒng)硅基器件。然而，SiCMOSFET和SiC二極管在實(shí)際應(yīng)用中卻面臨一種特殊的可靠性挑戰(zhàn)——雙極退化。這一現(xiàn)象直接影響著器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和使用壽命，成為工程師們必須重視的問題。什么是雙極退化？雙極退化是SiC器件中一種特定的性能衰退模式。當(dāng)電流持續(xù)流過SiCMOSFET的體二極管時(shí)，注入的電子-空

  SiC 材料 碳化硅 469瀏覽量

• 外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）全解讀2025-10-14 12:13

  

  什么是外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）IP代碼，全稱為“國(guó)際防護(hù)等級(jí)”，是由國(guó)際電工委員會(huì)制定的全球通用標(biāo)準(zhǔn)。這一標(biāo)準(zhǔn)旨在為電子設(shè)備外殼的防護(hù)能力提供一個(gè)清晰、統(tǒng)一的評(píng)判體系。簡(jiǎn)單來說，IP代碼就是電子設(shè)備的“防護(hù)身份證”。我們常見的IP代碼由“IP”和緊隨其后的兩位數(shù)字組成，例如IP65。第一位數(shù)字代表設(shè)備對(duì)固體異物（如灰塵）的防護(hù)能力，第二位數(shù)字則表示對(duì)液體（主

  電子設(shè)備 1519瀏覽量

• FIB-SEM雙束系統(tǒng)：微納尺度的一體化解決方案2025-10-14 12:11

  

  在微觀世界的探索中，科研人員一直致力于發(fā)展兼具精準(zhǔn)操作與高分辨率表征功能的集成化系統(tǒng)。聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）正是滿足這一需求的先進(jìn)工具，它實(shí)現(xiàn)了微納加工與高分辨成像功能的有機(jī)融合，已成為材料科學(xué)及相關(guān)領(lǐng)域不可或缺的分析平臺(tái)。雙束協(xié)同：原理與優(yōu)勢(shì)FIB-SEM系統(tǒng)由兩大核心技術(shù)組成：聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）。

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