金鑒實驗室文章

• 靜電、浪涌與TVS：從測試標準到選型指南，一篇搞定電路防護2025-10-29 14:27

  

  在電子工程領域，ESD（靜電放電）和浪涌問題堪稱基帶工程師的"頭號噩夢"。這些問題測試標準嚴苛，現(xiàn)象難以捕捉，特別是ESD故障，往往沒有標準解決路徑，只能依靠工程師反復構思方案并驗證。要想最大限度地避免這些問題，選擇合適的防護器件并在設計階段做好充分防護措施至關重要。本文將詳細介紹ESD和浪涌的測試標準、測試方法，以及如何選擇關鍵的TVS防護器件。什么是TV

  TVS 浪涌 靜電 1007瀏覽量

• 電子元器件典型失效模式與機理全解析2025-10-27 16:22

  

  在現(xiàn)代電子設備中，元器件的可靠性直接影響著整個系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。本文將深入探討各類電子元器件的典型失效模式及其背后的機理，為電子設備的設計、制造和應用提供參考。典型元件一：機電元件機電元件包括電連接器、繼電器等，它們共同特點是包含機械和電子兩部分，因此對工作環(huán)境尤為敏感。電連接器由殼體、絕緣體和接觸體三大部分組成，其失效主要表現(xiàn)為接觸失效、絕緣失效和機械聯(lián)接失

  失效模式 電子元器件 859瀏覽量

• 熱沖擊試驗：確保PCB可靠性的關鍵環(huán)節(jié)2025-10-24 12:22

  

  在電子設備制造領域，印刷線路板（PCB）的質量與可靠性直接決定著最終產(chǎn)品的性能與壽命。而在眾多測試項目中，熱沖擊試驗以其嚴苛的條件和高效的篩選能力，成為評估PCB可靠性的重要手段之一。熱沖擊試驗的核心價值熱沖擊試驗通過讓PCB樣品在極短時間內(nèi)經(jīng)歷急劇的溫度變化，來模擬產(chǎn)品在實際使用、運輸或存儲過程中可能遭遇的極端環(huán)境。這種測試不僅考驗著PCB基材的耐受性，更

  pcb PCB 沖擊試驗 印刷線路板 765瀏覽量

• 電子元器件失效分析之金鋁鍵合2025-10-24 12:20

  

  電子元器件封裝中的引線鍵合工藝，是實現(xiàn)芯片與外部世界連接的關鍵技術。其中，金鋁鍵合因其應用廣泛、工藝簡單和成本低廉等優(yōu)勢，成為集成電路產(chǎn)品中常見的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知，卻是電子設備可靠性的一大隱患。為什么金鋁鍵合會失效金鋁鍵合失效主要表現(xiàn)為鍵合點電阻增大和機械強度下降，最終導致電路性能退化或開路。其根本原因源于金和鋁兩種金屬的物理與化

  電子元器件 芯片 920瀏覽量

• 新動態(tài)：電器電子產(chǎn)品概述及有害物質限制使用管理2025-10-23 16:00

  

  電子產(chǎn)品與電氣產(chǎn)品分類電器電子產(chǎn)品已成為現(xiàn)代社會不可或缺的組成部分，廣泛滲透到生產(chǎn)與生活的各個角落。從廣義上，可將其分為電子產(chǎn)品和電氣產(chǎn)品兩大類。電子產(chǎn)品主要指以電子管、集成電路等電子技術為基礎，通過電子運動實現(xiàn)功能的產(chǎn)品。其核心在于處理信息與信號，早期因主要元件為電子管而得名。常見的產(chǎn)品包括智能手機、電腦、電視機、收音機、錄像機、激光唱機（CD）、移動通信

  電器 電子產(chǎn)品 1394瀏覽量

• 產(chǎn)品可靠性驗證手段：機械沖擊測試與振動測試的差異2025-10-22 14:36

  

  在產(chǎn)品研發(fā)與質量管控中，機械沖擊測試與振動測試是兩項關鍵的可靠性驗證方法。兩者雖均涉及產(chǎn)品在力學環(huán)境下的響應，但其物理機制與測試目的存在本質差異。準確把握二者的區(qū)別，有助于企業(yè)優(yōu)化測試方案，合理分配資源，并提升產(chǎn)品的市場競爭力。理解兩種測試的本質機械沖擊測試用于模擬產(chǎn)品在生命周期內(nèi)可能經(jīng)歷的瞬態(tài)、高強度的沖擊事件，例如設備跌落、碰撞或驟然受力。該類測試關注的

  機械 測試 857瀏覽量

• 半導體器件的靜電放電（ESD）失效機理與防護設計2025-10-22 14:33

  

  靜電在自然界中無處不在。從芯片制造、封裝測試、運輸存儲到組裝使用，靜電可能在任一環(huán)節(jié)對芯片造成不可逆損。半導體ESD失效的四大特征1.隱蔽性（1）人體通常需2~3KV靜電才能感知，而現(xiàn)代半導體器件可能僅需不到20V即會受損。（2）在無塵室中，技術人員身著防靜電服時，仍可能攜帶足以損傷芯片的靜電。2.潛在性（1）部分受損元器件外觀完好，初始功能正常，卻已留下“

  ESD 半導體器件 靜電 1253瀏覽量

• 什么是溫度沖擊試驗2025-10-20 15:33

  

  在當今科技飛速發(fā)展的時代，各類產(chǎn)品面臨著日益復雜的使用環(huán)境。其中，溫度急劇變化對產(chǎn)品質量和壽命構成了嚴峻挑戰(zhàn)。溫度沖擊試驗，作為一項重要的環(huán)境可靠性測試，正成為眾多行業(yè)不可或缺的檢測環(huán)節(jié)。溫度沖擊試驗概述溫度沖擊試驗，又稱為熱沖擊試驗或溫度循環(huán)試驗，廣泛應用于科研機構、高等院校、工業(yè)生產(chǎn)單位及軍工領域。這項測試主要評估各種工業(yè)產(chǎn)品在快速溫度變化環(huán)境下的適應能

  沖擊試驗 測試 溫度測試 815瀏覽量

• 聚焦離子束（FIB）技術在電池材料研究中的應用2025-10-20 15:31

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結構特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關系

  fib TEM 離子束 507瀏覽量

• MSD失效的“爆米花”效應2025-10-20 15:29

  

  在電子制造領域，潮濕敏感器件（MSD）的失效已成為影響產(chǎn)品最終質量與長期可靠性的關鍵挑戰(zhàn)之一。隨著電子產(chǎn)品不斷向輕薄化、高密度化方向發(fā)展，MSD在使用與存儲過程中因吸濕導致的界面剝離、裂紋擴展乃至功能失效等問題日益突出，成為導致產(chǎn)品故障的重要因素。什么是潮濕敏感器件潮濕敏感器件，簡稱MSD，特指那些對環(huán)境中水分極為敏感的電子元器件，尤其是采用塑料封裝的表面貼

  MSD 敏感器件 電子元器件 1018瀏覽量