金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 聚焦離子束（FIB）在材料分析的應(yīng)用2025-08-26 15:20

  

  FIB是聚焦離子束的簡(jiǎn)稱，由兩部分組成。一是成像，把液態(tài)金屬離子源輸出的離子束加速、聚焦，從而得到試樣表面電子像（與SEM相似）；二是加工，通過(guò)強(qiáng)電流離子束剝離表面原子，從而完成微，納米級(jí)別的加工。FIB主要功能1.微納米級(jí)截面加工FIB可以精確地在器件的特定微區(qū)進(jìn)行截面觀測(cè)，同時(shí)可以邊加工刻蝕、邊利用SEM實(shí)時(shí)觀察樣品。截面分析是FIB最常見(jiàn)的應(yīng)用。這種刻

  fib 材料 離子束 1025瀏覽量

• 一文了解功率半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試2025-08-25 15:30

  

  功率半導(dǎo)體概述功率半導(dǎo)體是一種特殊的半導(dǎo)體器件，它們?cè)陔娏ο到y(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調(diào)節(jié)電力的流動(dòng)，包括電壓和頻率的轉(zhuǎn)換，以及交流電（AC）和直流電（DC）之間的轉(zhuǎn)換。這種能力使得功率半導(dǎo)體在各種電力應(yīng)用中不可或缺，例如電力變換器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和電力調(diào)節(jié)器等。功率半導(dǎo)體的應(yīng)用領(lǐng)域功率半導(dǎo)體器件在多個(gè)領(lǐng)域中發(fā)揮著核心作用，尤其是在新能源

  功率半導(dǎo)體 可靠性測(cè)試 956瀏覽量

• LED燈需要做哪些檢測(cè)2025-08-25 15:28

  

  在如今的照明領(lǐng)域，LED燈以其節(jié)能、環(huán)保、長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì)被廣泛應(yīng)用。然而，只有經(jīng)過(guò)嚴(yán)格檢測(cè)的LED燈才能在眾多產(chǎn)品中脫穎而出，為消費(fèi)者帶來(lái)真正的優(yōu)質(zhì)體驗(yàn)。LED燈具檢測(cè)涉及眾多關(guān)鍵項(xiàng)目，涵蓋力學(xué)測(cè)試、電性能參數(shù)、光學(xué)參數(shù)、可靠性試驗(yàn)以及結(jié)構(gòu)與外觀等多個(gè)方面。測(cè)試時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目1、力學(xué)測(cè)試：拉力試驗(yàn)、壓力試驗(yàn)、插拔力試驗(yàn)、耐磨擦試驗(yàn)、模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)。2、電性能參

  led led燈 檢測(cè) 1294瀏覽量

• 無(wú)鹵與鹵素含量測(cè)試2025-08-25 15:25

  

  無(wú)鹵與鹵素含量測(cè)試的概念無(wú)鹵（HalogenFree，HF）并非簡(jiǎn)單地把鹵族元素“清零”，而是指材料或成品中氟（F）、氯（Cl）、溴（Br）、碘（I）四項(xiàng)元素的總和或單項(xiàng)含量被嚴(yán)格限定在行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以下，從而避免因鹵素釋放導(dǎo)致的腐蝕、毒性及環(huán)境風(fēng)險(xiǎn)。作為專(zhuān)注于化學(xué)分析領(lǐng)域的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)，能夠?qū)Σ牧现械柠u素含量進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)，致力于為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù)。鹵素

  無(wú)鹵素 電子器件 1632瀏覽量

• FIB原理及常見(jiàn)應(yīng)用2025-08-21 14:13

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)是一種強(qiáng)大的微納加工和分析工具，它利用高度聚焦的離子束對(duì)材料表面進(jìn)行納米尺度的刻蝕、沉積、成像和成分分析。FIB系統(tǒng)的基礎(chǔ)架構(gòu)聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過(guò)電場(chǎng)加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)將這些高速離子束精確聚焦到目標(biāo)位置。這一過(guò)程與掃

  fib 材料 離子束 1431瀏覽量

• AEC-Q102之板彎曲試驗(yàn)2025-08-21 14:11

  

  伴隨汽車(chē)電子技術(shù)的持續(xù)演進(jìn)，光電子元器件在車(chē)輛內(nèi)的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，其可靠性要求亦不斷提升。AEC-Q102認(rèn)證乃是針對(duì)光電子元器件的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)，其中板彎曲試驗(yàn)（BoardFlexTest）作為關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目之一。AEC-Q102認(rèn)證的背景與意義1.什么是AEC-Q102認(rèn)證？AEC-Q102系汽車(chē)電子委員會(huì)（AEC）針對(duì)光電子元器件（諸如光電耦合、LED、激光二極

  AEC 汽車(chē)電子 電子元器件 1046瀏覽量

• PCB線路板離子污染度—原理、測(cè)試與標(biāo)準(zhǔn)2025-08-21 14:10

  

  概念與來(lái)源離子污染（ioniccontamination）是指以離子形態(tài)殘留在印制電路板（PCB）及組裝件（PCBA）表面的各類(lèi)陰、陽(yáng)離子雜質(zhì)。其來(lái)源可分為工藝性、環(huán)境性與人為性三大類(lèi)：工藝性：助焊劑中的活性劑、電鍍液、波峰焊/回流焊后的殘留物；環(huán)境性：潮濕空氣帶來(lái)的鹽霧、硫氧化物、氨氣等；人為性：汗液、皮屑、清潔劑殘留及搬運(yùn)過(guò)程中的二次污染。這些離子通常具

  pcb PCB 測(cè)試報(bào)告 線路板 1709瀏覽量

• 電子元器件為什么會(huì)失效2025-08-21 14:09

  

  電子元器件失效是指其在規(guī)定工作條件下，喪失預(yù)期功能或性能參數(shù)超出允許范圍的現(xiàn)象。失效可能發(fā)生于生命周期中的任一階段，不僅影響設(shè)備正常運(yùn)行，還可能引發(fā)系統(tǒng)級(jí)故障。導(dǎo)致失效的因素復(fù)雜多樣，可系統(tǒng)性地歸納為內(nèi)部因素與外部因素兩大類(lèi)。內(nèi)部原因內(nèi)部失效通常源于元器件在材料、結(jié)構(gòu)或工藝層面的固有缺陷，或在長(zhǎng)期工作過(guò)程中因內(nèi)部物理化學(xué)變化導(dǎo)致的性能衰退。主要包括以下幾類(lèi)：

  失效 電子元器件 1771瀏覽量

• 潮熱試驗(yàn)+聲掃高可靠用途的篩選(MSL+SAT)2025-08-20 15:47

  

  潮熱試驗(yàn)簡(jiǎn)介潮熱試驗(yàn)是一種可靠性試驗(yàn)，主要用于評(píng)估電子元器件在濕度和溫度變化條件下的性能。在這個(gè)試驗(yàn)中，元器件會(huì)暴露在特定的濕度和溫度條件下，以模擬真實(shí)環(huán)境中的潛在應(yīng)力。潮熱試驗(yàn)有多種形式，其中一種是恒定潮熱試驗(yàn)，它要求被試樣品在相對(duì)濕度為90%～100%的范圍內(nèi)，在一定時(shí)間內(nèi)使溫度從25℃上升到65℃，并保持3h以上；然后再在相對(duì)濕度為80%～100%的范

  MSL SAT 試驗(yàn) 959瀏覽量

• 車(chē)燈設(shè)計(jì)：基于 LED 光源的汽車(chē)車(chē)燈設(shè)計(jì)與優(yōu)化2025-08-20 15:44

  

  隨著科技的不斷進(jìn)步和社會(huì)的發(fā)展，汽車(chē)已經(jīng)成為人們生活中必不可少的交通工具。而作為汽車(chē)的重要組成部分之一，車(chē)燈的設(shè)計(jì)和優(yōu)化對(duì)于駕駛安全和舒適性起著至關(guān)重要的作用。近年來(lái)，基于LED光源的汽車(chē)車(chē)燈逐漸取代傳統(tǒng)的鹵素大燈和氙氣大燈，成為主流趨勢(shì)。對(duì)LED光源車(chē)燈進(jìn)行設(shè)計(jì)和優(yōu)化將進(jìn)一步推動(dòng)汽車(chē)行業(yè)向智能化和可持續(xù)發(fā)展方向邁進(jìn)，為駕駛者提供更好的行車(chē)體驗(yàn)和道路安全保障

  led 光源 汽車(chē)車(chē)燈 1137瀏覽量