金鑒實驗室文章

• LED車燈因高溫引起的光衰問題2025-08-20 15:42

  

  前言隨著歐盟對鹵素燈的禁用，LED大燈技術迎來了新的發(fā)展機遇。盡管如此，一些車主仍對鹵素燈情有獨鐘，特別是在多雨的南方地區(qū)，他們認為鹵素燈的強穿透力是其為數(shù)不多的優(yōu)勢之一。然而，這并不意味著LED大燈在穿透力方面就一定遜色于鹵素燈。實際上，選擇合適的色溫可以提高LED大燈的穿透力，避免使用過白的光源。如果車主對此仍有顧慮，可以考慮安裝變色燈，以適應不同的天氣

  led 光源 車燈 843瀏覽量

• 聚焦離子束（FIB）技術介紹2025-08-19 21:35

  

  聚焦離子束（FIB）技術因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期，多國科學家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年，美國加州休斯研究所搭建首臺Ga+基FIB加工系統(tǒng)，推動技術實用化。80至90年代，F(xiàn)IB技術在多領域取得顯著進步，商用系統(tǒng)廣泛應用于研究及工業(yè)。如今，F(xiàn)IB已成為微電子行業(yè)關鍵技術，提升材料、工藝及器件分析與修補精度。FIB系統(tǒng)的工作原理聚焦

  fib TEM 離子束 1338瀏覽量

• 為什么LED燈會越用越暗？2025-08-19 21:35

  

  LED燈具因其節(jié)能、環(huán)保、壽命長等優(yōu)點而被廣泛應用。然而，隨著使用時間的增加，LED燈具的亮度往往會逐漸降低，這種現(xiàn)象被稱為“光衰”。本文將探討導致LED燈具變暗的主要原因，并分析其對照明效果和使用壽命的影響。一、導致LED燈具變暗的原因1.驅動器損壞：LED燈具需要通過恒流驅動電源將市電轉換為適合燈珠工作的直流低電壓。驅動器內(nèi)部的任何故障，如電容或整流器損

  led 燈具 驅動電源 4242瀏覽量

• 什么是整機ROHS和部件ROHS？2025-08-19 21:32

  

  在全球邁向可持續(xù)發(fā)展的當下，公眾對環(huán)境保護與健康生活的關注已不再是口號，而是一種被制度化的共識。各國政府相繼收緊立法，要求所有投放市場的電子電氣產(chǎn)品在安全性之外，還需滿足日益嚴苛的環(huán)保門檻。在這一背景下，“RoHS”作為電子行業(yè)最具代表性的環(huán)保指令之一，便頻繁出現(xiàn)在企業(yè)合規(guī)清單里。RoHS指令的核心限制物質與閾值無論整機還是部件，凡提及RoHS，都離不開對十

  RoHS 整機 電氣產(chǎn)品 1721瀏覽量

• 什么是熱重分析法（TGA）2025-08-19 21:29

  

  熱重分析（TGA）在LED品質檢測中具有重要應用。通過分析LED封裝材料（如環(huán)氧樹脂、硅膠等）在受控溫度下的質量變化，可以評估其熱穩(wěn)定性和分解行為，從而預測材料在高溫環(huán)境下的使用壽命和可靠性。熱重分析為LED產(chǎn)品的品質控制和優(yōu)化提供了關鍵數(shù)據(jù)支持，有助于確保LED在實際應用中的穩(wěn)定性和耐用性。熱重分析的構成熱重分析儀主要由以下幾個關鍵部分構成：1.熱天平將電

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• 淺談透射電子顯微分析方法（TEM）大全2025-08-18 21:21

  

  一、什么是TEM?透射電子顯微鏡是利用波長較短的電子束作為照明源，利用電磁透鏡進行聚焦成像的高分辨本領和高放大倍數(shù)電子光學儀器。二、透射電子顯微鏡成像方式由電子槍發(fā)射高能、高速電子束；經(jīng)聚光鏡聚焦后透射薄膜或粉末樣品；透射電子經(jīng)過成像透鏡系統(tǒng)成像；激發(fā)熒光屏顯示放大圖像；專用底片/數(shù)字暗室記錄帶有內(nèi)部結構信息的高分辨圖像；主要性能一：微區(qū)物相分析TEM時中間

  TEM 電子顯微鏡 電子束 1164瀏覽量

• RoHS新國標發(fā)布：PBB/PBDE管控再強化2025-08-18 21:17

  

  中國RoHS的首個強制性國家標準GB26572-2025已于2025年8月1日正式發(fā)布169，并將于2027年8月1日正式實施，全面替代之前的推薦性標準GB/T26572-2011。新標準實施后，PBB（多溴聯(lián)苯）和PBDE（多溴二苯醚）作為被嚴格管控的有害物質，其限值維持0.1%，與歐盟RoHS指令一致，但監(jiān)管力度從“部分目錄”升級為“全品類覆蓋”，使得相

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• 如何用FIB截面分析技術做失效分析？2025-08-15 14:03

  

  在半導體器件研發(fā)與制造領域，失效分析已成為不可或缺的環(huán)節(jié)，F(xiàn)IB（聚焦離子束）截面分析，作為失效分析的利器，在微觀世界里大顯身手。它運用離子束精準切割樣品，巧妙結合電子束成像技術，實現(xiàn)對樣品內(nèi)部結構的高分辨率觀察，尤其擅長處理微小、復雜的器件結構。什么是截面分析？截面分析是失效分析中的一種重要方法，而使用雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）則是截面分析

  fib 半導體器件 失效分析 1485瀏覽量

• 怎么找出PCB光電元器件失效問題2025-08-15 13:59

  

  在電子信息產(chǎn)品中，PCB作為元器件的載體與電路信號傳輸?shù)年P鍵樞紐，其質量與可靠性對整機設備起著決定性作用。隨著產(chǎn)品小型化及環(huán)保要求的提升，PCB正向高密度、高Tg和環(huán)保方向發(fā)展。然而，受成本和技術限制，PCB在生產(chǎn)和應用中常出現(xiàn)失效，引發(fā)質量糾紛。為查明原因、解決問題并明確責任，失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務是基于失效

  pcb PCB 元器件 失效分析 897瀏覽量

• FIB - SEM 技術在半導體芯片領域的實踐應用2025-08-14 11:24

  

  在半導體芯片的研發(fā)與失效分析環(huán)節(jié)，聚焦離子束雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）憑借其獨特的功能，逐漸成為該領域的核心技術工具。簡而言之，這一系統(tǒng)將聚焦離子束（FIB）的微加工優(yōu)勢與掃描電子顯微鏡（SEM）的高分辨率成像能力相結合，實現(xiàn)了加工與觀測的高效協(xié)同，為芯片技術的持續(xù)進步提供了堅實保障。技術原理與核心優(yōu)勢FIB-SEM雙束系統(tǒng)由FIB模塊、SEM模塊以及多軸樣

  fib SEM 半導體芯片 1085瀏覽量