4.2 串型等價(jià)掃描的設(shè)計(jì)及驗(yàn)證

在星型拓?fù)鋻呙杓夹g(shù)中，提供了一種串型等價(jià)掃描的方法，這樣既完成了星型掃描功能，又實(shí)現(xiàn)了TDO數(shù)據(jù)的驅(qū)動(dòng)沖突保護(hù)。其具體設(shè)計(jì)過(guò)程為：

(1)選擇所有的分支；
(2)選擇所有分支中的所有CLTAP，并指明標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的應(yīng)用；
(3)選擇單一的技術(shù)分支,并將狀態(tài)推進(jìn)至Run-Test/Idle狀態(tài)；
(4)使用SSD指令選擇技術(shù)分支中不參與串型等價(jià)掃描的STL，使它們成為閑置組成員(其余的 STL 為掃描組成員)；
(5)推進(jìn)掃描組中的STL的CLTAPC狀態(tài)移入Pause-xR 狀態(tài)；
(6)使用SSD來(lái)識(shí)別一個(gè)掃描目標(biāo)的STL，并對(duì)目標(biāo)STL進(jìn)行移位掃描，再回到Pause-xR狀態(tài)，但不經(jīng)過(guò)Update-xR狀態(tài)，使其他不是閑置組成員的STL成為Pause-xR組成員(這使得被SSD識(shí)別的STL成為掃描組唯一的成員)；
(7)對(duì)技術(shù)分支中不是閑置組成員的每一個(gè)STL重復(fù)步驟（6）；
(8)待技術(shù)分支中所有非閑置組成員完成掃描移位后，選擇技術(shù)分支中非閑置組的CLTAPC經(jīng)過(guò)Update-xR狀態(tài)，并最終回到Pause-xR狀態(tài)，中間不經(jīng)過(guò)Shift-xR 狀態(tài)；
(9)重復(fù)步驟（6）、（7），完成整個(gè)單一技術(shù)分支的掃描；
(10)重復(fù)步驟(3)至(9)，完成所有技術(shù)分支的掃描；
(11)將所有的CLTAPC狀態(tài)同步到ADTAPC的狀態(tài)，完成串型等價(jià)掃描的整個(gè)過(guò)程。
串型等價(jià)掃描的設(shè)計(jì)流程如圖6所示。

串型等價(jià)掃描的關(guān)鍵是SSD操作，本文中，以單個(gè)TAP.7控制器和CLTAPC為例,對(duì)SSD指令的功能仿真驗(yàn)證，結(jié)果分別如圖7所示。

邊界掃描測(cè)試技術(shù)廣泛應(yīng)用于超大規(guī)模集成電路中，測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展為測(cè)試接口設(shè)計(jì)提出了更高的要求。IEEE 1149.7測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范的TAP.7接口具有傳統(tǒng)TAP.1接口所沒(méi)有的功能特性，因此對(duì)它的研究具有深遠(yuǎn)意義。本文中設(shè)計(jì)的支持星型掃描技術(shù)的接口是一種基于原有JTAG器件的TAP.1接口，在TAP.1接口上添加相應(yīng)的邏輯硬件層實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展功能的升級(jí)接口，在目前基于TAP.1接口的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試中有很好的應(yīng)用前景。本文中的接口設(shè)計(jì)方法具有良好的可擴(kuò)展特性，為以后進(jìn)一步功能升級(jí)奠定基礎(chǔ)，從而避免了重復(fù)開發(fā)所帶來(lái)的資源浪費(fèi),同時(shí)對(duì)IEEE 1149.7標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的系統(tǒng)器件的研究和設(shè)計(jì)具有很好的參考價(jià)值。

 

 

STM32/STM8

意法半導(dǎo)體/ST/STM