比對試驗(yàn)，就是在不同實(shí)驗(yàn)室、不同的測試環(huán)境下對同一受試設(shè)備所測得的結(jié)果進(jìn)行比較，取得可以相互比較的測試結(jié)果和測試條件。由于各試驗(yàn)室使用的儀器不同，測試場地不同，測試手段也不同，對同一受試設(shè)備的測試結(jié)果，難免會(huì)有差異。為了節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用，生產(chǎn)企業(yè)向我EMC測試實(shí)驗(yàn)室提出做比對實(shí)驗(yàn)。能獲得與產(chǎn)品的售銷地認(rèn)證機(jī)構(gòu)相同的測試結(jié)果，根據(jù)EMC測試市場的需求，我檢測中心做了與德國VDE實(shí)驗(yàn)室的比對測試。
一、測試環(huán)境
1．VDE實(shí)驗(yàn)室
??? 1)測試設(shè)備：RS公司的EMI測試接收機(jī)及測試網(wǎng)絡(luò)；
??? 2)測試標(biāo)準(zhǔn)：EN55015～96；
??? 3)頻率范圍：10kHz-30MHz；
??? 4)工作環(huán)境：AC 230V 50Hz；
??? 5)測試帶寬：10kHz 150kHz lOOI-Iz；150kHz-30MHz 10kHz：
??? 6)受試設(shè)備：AC 11．6V 105W 電子變壓器
??? 7)測試布局：桌面上放置一個(gè)接地良好的0．5m×0．7m的鋁板，負(fù)載為三只共105W 的白熾燈，負(fù)載線長小于2米，垂直放置；
??? 8)工作狀態(tài)：加電工作，預(yù)熱15分鐘后開始測試；
??? 9)測試曲線：準(zhǔn)峰值+平均值。
2．本檢驗(yàn)中心EMC室
??? 1) 試驗(yàn)設(shè)備：HP8574A EMI自動(dòng)測試系統(tǒng)，RDL一80A人工電源網(wǎng)絡(luò)；
??? 2)測試標(biāo)準(zhǔn)：CISPR15；
??? 3)頻率范圍：9kHz～30MHz；
??? 4)工作環(huán)境：AC 235V 50Hz 23℃ 68％RH
??? 5)測試帶寬：9kHz～150kHz? 3kHz150kHz～30MHz? 100kHz
??? 6)受試設(shè)備：AC 11．6V 105W 電子變壓器；

??? 7)測試布局：0．8m高的桌面上放置lm×2．6m的接地銅板，鋼板上放直徑為0．76m的轉(zhuǎn)臺(tái)；
??? 8)工作狀態(tài)：加電工作；
??? 9)測試曲線：峰值+準(zhǔn)峰值。
二、測試方法
方案一 針對工作狀態(tài)中要預(yù)熱15分鐘后才開始測試的情況，首先進(jìn)行了開機(jī)就測和預(yù)熱15分鐘后再測兩種測試情況的比對，比對結(jié)果無太大的差別。故預(yù)熱15分鐘后再測的做法可以不采用。
方案二 把本檢驗(yàn)中心儀器的測試帶寬改為在德國檢驗(yàn)室測試時(shí)的測試帶寬，即
??? 10kHz~150kHz改為100Hz
??? 150kHz~30MHz改為10kHz
??? 把0．5m×0．7m的鋁板放在轉(zhuǎn)各上其它完全按照在德國試驗(yàn)室的條件布置，測試結(jié)果如圖2所示，比較圖2與圖1(德國實(shí)驗(yàn)室測試圖表)可以看出：a)在
9kHz-9MHz頻率范圍內(nèi)測試曲線的整個(gè)趨勢是相似的，在0．10kHz，0．03MHz，0．051MHz，0．066MHz等頻率點(diǎn)的準(zhǔn)峰值基本相似。b)在9MHz～30MHz頻率范圍內(nèi)，在圖1中，11．465MHz處是46．3dBμ V，在圖2中，12．61MHz處是52．6dBμ V，9．805MHz處是56．4dBμ V，20．91MHz處是64．6dBμ V，22．41MHz處是60．4dBμ V，21．635MHz處是64．6dBμ V，從圖1、圖2的上述頻率點(diǎn)和準(zhǔn)峰值看出測試結(jié)果有一定的差別。

??? 方案三 以我們原程序中的測試帶寬進(jìn)行測試，保持原程序不變，重復(fù)方案二的試驗(yàn)，測試結(jié)果如圖3所示，對比圖2、圖3的各打印頻率點(diǎn)可以看出，測試結(jié)果只有1～2dB,u V 的差別，完全屬于誤差范圍之內(nèi)，因此可以否定方案二，不需修改帶寬，用原來的測試程序測得的結(jié)果在9kHz～9MHz頻率范圍內(nèi)與VDE實(shí)驗(yàn)室的測試結(jié)果相似，但在9MHz 30MHz的頻率范圍內(nèi)頻率點(diǎn)有些漂移，且準(zhǔn)峰值有差別。

??? 方案四 針對上述測試結(jié)果，在9MHz～30MHz的頻率范圍內(nèi)有差別的情況下，根據(jù)分析是由接地的原因引起的，因此去掉小鋁板，把受試設(shè)備直接放在我們實(shí)驗(yàn)桌的銅板上，重復(fù)上述測試，測試結(jié)果如圖4。原在9．805MHz處的頻率點(diǎn)移到了12．3MHz處，與VDE實(shí)驗(yàn)室測試結(jié)果12．61MHz只差0．29MHz；原22．41MHz處的頻率點(diǎn)移到17．72MHz處與原VDE實(shí)驗(yàn)室測試結(jié)果20．9MHz只差3．18MHz；原56．4dBμ　V到63．7dBμ V與VDE實(shí)驗(yàn)室測試結(jié)果52．6dBμ V相差11．1dBμ V；原60．4dBμ V到61．7dBμ V與VDE實(shí)驗(yàn)室的測試結(jié)果61.3dBμ V相差0．4dBμ　V，即

??? 由此判斷，在9MHz～30MHz頻率范圍內(nèi)的峰值是由接地原因引起的，說明上述分析正確。
三、比對結(jié)果
??? 從上述各試驗(yàn)方法得出的測試結(jié)果中我們可以看到，各頻率點(diǎn)的漂移不大于3MHz，準(zhǔn)峰值的差別除12．3MHz處，其余小于2dBt~V，屬誤差范圍之內(nèi)，而12．3MHz準(zhǔn)峰值是由于接地的原因引起的，說明VDE試驗(yàn)室的金屬板比我們的銅板接地好。那么，只要在我們這里試驗(yàn)?zāi)軌蛲ㄟ^，到VDE實(shí)驗(yàn)室同樣能通過。
就我們現(xiàn)有的試驗(yàn)條件和設(shè)施，與德國VDE實(shí)驗(yàn)室完全可以比對。