我國國防科技大學(xué)對脈沖渦流檢測技術(shù)進(jìn)行了深入的研究,廣泛地將脈沖渦流檢測技術(shù)應(yīng)用于金屬表面和亞表面缺陷尺寸的評(píng)估中,并且能夠準(zhǔn)確識(shí)別出同時(shí)存在的不同類型的缺陷。
2025-12-30 17:13:19
387 
博通薄膜熱釋電火焰?zhèn)鞲衅鳎杭夹g(shù)特性與應(yīng)用潛力 在電子工程領(lǐng)域,火焰檢測技術(shù)至關(guān)重要,它關(guān)乎著眾多場景下的安全保障。博通的薄膜熱釋電紅外火焰探測器憑借其卓越的性能,成為了火焰檢測應(yīng)用中的有力工具。今天
2025-12-30 16:35:09
77 博通薄膜熱釋電雙通道傳感器:氣體檢測新利器 電子工程師在設(shè)計(jì)氣體檢測及物質(zhì)濃度測量相關(guān)設(shè)備時(shí),傳感器的性能往往起著決定性作用。今天要給大家介紹的是博通(Broadcom)的薄膜熱釋電紅外(IR
2025-12-30 16:05:14
76 接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征,廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)等領(lǐng)域。本文基于光譜橢偏技術(shù),結(jié)合X射線衍射、拉曼光譜等方法,系統(tǒng)研究了c面藍(lán)寶石襯底上
2025-12-26 18:02:20
1016 
本文由山東泉科瑞達(dá)儀器設(shè)備有限公司發(fā)布在高速自動(dòng)化包裝生產(chǎn)中,塑料薄膜的滑爽性直接決定設(shè)備運(yùn)行效率與產(chǎn)品品質(zhì)。作為核心檢測工具,COFT-02塑料薄膜摩擦系數(shù)儀憑借其高精度、智能化的技術(shù)優(yōu)勢,成為
2025-12-26 16:56:52
384 
松下透明導(dǎo)電薄膜:先進(jìn)的透明電磁屏蔽解決方案 在電子設(shè)備日益普及的今天,電磁干擾(EMI)問題愈發(fā)突出,如何在保證設(shè)備透明度的同時(shí)有效屏蔽電磁干擾,成為了電子工程師們面臨的重要挑戰(zhàn)。松下推出的透明
2025-12-21 17:00:06
1092 在智能制造的時(shí)代洪流中,機(jī)器視覺技術(shù)正以前所未有的速度重塑著工業(yè)檢測的格局。而在眾多視覺光源中,同軸光源憑借其獨(dú)特的光學(xué)特性,成為了高反光表面檢測的"終極武器"。今天,讓我們一起探索同軸光源的技術(shù)
2025-12-17 10:20:50
201 的高精度表征,廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)等領(lǐng)域。本研究提出一種新方法:利用各向異性襯底打破橢偏分析中n,k,d的參數(shù)耦合。模擬結(jié)果表明,該方法可在單次測量中
2025-12-08 18:01:31
236 
靜電噴涂沉積(ESD)作為一種經(jīng)濟(jì)高效的薄膜制備技術(shù),因其可精確調(diào)控薄膜形貌與化學(xué)計(jì)量比而受到廣泛關(guān)注。然而,薄膜的厚度均勻性是影響其最終性能與應(yīng)用可靠性的關(guān)鍵因素,其優(yōu)劣直接受到電壓、流速、針基距
2025-12-01 18:02:44
404 
在半導(dǎo)體制造工藝中,零部件表面的痕量金屬污染已成為影響產(chǎn)品良率與可靠性的關(guān)鍵因素。季豐CA實(shí)驗(yàn)室針對這一行業(yè)痛點(diǎn),建立了完善的表面污染物檢測體系——通過稀硝酸定位提取技術(shù)與圖像分析、高靈敏度質(zhì)譜檢測的有機(jī)結(jié)合,實(shí)現(xiàn)對納米級(jí)金屬污染的精準(zhǔn)溯源。
2025-11-19 11:14:08
710 顯微鏡可三維成像表面形貌,通過粗糙度參數(shù)評(píng)估微觀均勻性。有機(jī)物與金屬污染檢測紫外光譜/傅里葉紅外光譜:識(shí)別有機(jī)殘留(如光刻膠)。電感耦合等離子體質(zhì)譜:量化金屬雜質(zhì)含量
2025-11-11 13:25:37
350 
在工業(yè)檢測領(lǐng)域,對物體表面三維形貌進(jìn)行精確測量一直是行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。特別是在現(xiàn)代制造業(yè)中,隨著透明材料、高反光表面以及復(fù)雜幾何形狀工件的大量應(yīng)用,傳統(tǒng)檢測方式已難以滿足高精度、高效率的檢測需求。光譜
2025-11-07 17:22:06
669 
Flexfilm探針式臺(tái)階儀作為表面形貌測量的精密儀器,能夠依據(jù)最新的ISO21920系列標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測量。該設(shè)備通過高精度探針掃描技術(shù),可精確測定樣品的表面臺(tái)階
2025-11-05 18:02:19
886 
工業(yè)生產(chǎn)中,產(chǎn)品 表面裂痕 、 劃痕 等缺陷屢見不鮮,直接影響外觀與性能。近年機(jī)器視覺技術(shù)在表面檢測領(lǐng)域突破顯著,對劃傷、污跡等常規(guī)缺陷的檢測日趨成熟,已廣泛應(yīng)用于金屬、玻璃、顯示面板等行業(yè)的質(zhì)量管
2025-11-05 08:05:05
214 
薄膜電阻與陶瓷電容在性能上各有優(yōu)勢,薄膜電阻以高精度、低溫漂、低噪聲見長,適用于精密測量與高頻電路;陶瓷電容則以高頻特性、微型化與高可靠性為核心優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于電源管理與射頻電路。以下是對兩者的詳細(xì)
2025-11-04 16:33:30
502 
導(dǎo)讀 醫(yī)用管作為直接輸送體液的醫(yī)療組件,其管壁或表面的微小針孔、裂縫與污染物若在檢測中被遺漏,將直接引發(fā)患者感染、器官功能受損等嚴(yán)重安全風(fēng)險(xiǎn)。這類細(xì)微缺陷肉眼難以察覺,使得生產(chǎn)過程中的精準(zhǔn)視覺檢測
2025-10-30 11:21:34
164 
產(chǎn)生瞬時(shí)的對地電壓脈沖,即是地電波。 針對地電波的及時(shí)發(fā)現(xiàn),一般采用地電波傳感器來進(jìn)行檢測,通過捕捉開關(guān)柜金屬外殼表面的瞬時(shí)對地電壓脈沖來檢測局部放電。地電波傳感器通常安裝在開關(guān)柜外表面,當(dāng)檢測到地電
2025-10-28 15:58:37
225 隨著電子制造向更高密度、更復(fù)雜的封裝技術(shù)邁進(jìn),BGA(球柵陣列)芯片的質(zhì)量控制變得尤為關(guān)鍵。傳統(tǒng)的檢測方法因其視覺限制,難以全面揭示芯片內(nèi)部焊點(diǎn)和結(jié)構(gòu)的缺陷,因此,BGA芯片X-ray檢測設(shè)備
2025-10-23 11:55:14
262 問題,影響厚度測量準(zhǔn)確性;其二常用的觸針式臺(tái)階儀雖測量范圍廣,卻因接觸式測量易破壞軟膜,非接觸的彩色白光(CWL)法雖可掃描大面積表面,卻受薄膜光學(xué)不均勻性影響精度。Flex
2025-10-22 18:03:55
2111 
便攜式EL檢測儀:光伏組件缺陷檢測的移動(dòng)“透視眼”柏峰【BF-EL】在光伏電站運(yùn)維與組件質(zhì)量管控中,組件內(nèi)部缺陷(如隱裂、斷柵、虛焊、黑心片等)是影響發(fā)電效率與使用壽命的關(guān)鍵隱患。
2025-10-15 10:20:40
427 
在微電子、光電子等高端領(lǐng)域,半導(dǎo)體增材膜的性能與其三維形貌及內(nèi)部缺陷高度關(guān)聯(lián),表面粗糙度影響器件電學(xué)接觸穩(wěn)定性,孔隙、裂紋等缺陷則直接決定薄膜的機(jī)械強(qiáng)度與服役壽命。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率三維成像
2025-09-30 18:05:15
2568 
薄膜厚度測量儀,其原理是通過將已知的薄膜材料電阻率除以方阻來確定厚度,并使用XFilm平板顯示在線方阻測試儀作為對薄膜在線方阻實(shí)時(shí)檢測,以提供數(shù)據(jù)支撐。旨在實(shí)現(xiàn)非破
2025-09-29 13:43:36
642 
法開展表面電阻測量研究。Xfilm埃利四探針方阻儀憑借高精度檢測能力,可為此類薄膜電學(xué)性能測量提供可靠技術(shù)保障。下文將重點(diǎn)分析四探針法的測量原理、實(shí)驗(yàn)方法與結(jié)果,
2025-09-29 13:43:26
654 
PCB的優(yōu)劣。以下是具體方法與分析: ? 一、望:視覺檢測,洞察表面缺陷 核心目標(biāo):通過肉眼或儀器觀察PCB的外觀、焊點(diǎn)、線路等,識(shí)別顯性缺陷。 檢測要點(diǎn): 表面處理質(zhì)量: 焊盤氧化:優(yōu)質(zhì)PCB焊盤應(yīng)呈光亮銅色,若發(fā)暗發(fā)黑(類似生銹硬幣),說明氧化嚴(yán)重
2025-09-28 09:22:56
805 角度,凸顯Pin針輪廓、高度差異及表面缺陷(如劃痕、異物)。精密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(可選):用于多角度成像或定位被測連接器。核心檢測算法:定位與計(jì)數(shù): 模板匹配或Blob分析快速定位連接器及所有Pin針,確保數(shù)量
2025-09-26 15:09:44
便攜式EL檢測儀:光伏組件缺陷檢測的 “便攜顯微鏡”柏峰【BF-EL】便攜式 EL(Electroluminescence,電致發(fā)光)檢測儀,是基于光伏組件電致發(fā)光原理設(shè)計(jì)的便攜式檢測設(shè)備。其核心
2025-09-10 17:35:19
1034 
薄膜厚度的測量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。橢偏法具備高測量精度的優(yōu)點(diǎn),利用寬譜測量方式可得到全光譜的橢偏參數(shù),實(shí)現(xiàn)納米級(jí)薄膜的厚度測量。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜
2025-09-08 18:02:42
1463 
固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視,其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù),準(zhǔn)確測量對真空鍍膜工藝控制意義重大,臺(tái)階儀法因其能同時(shí)測量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應(yīng)用于航空航天、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。費(fèi)曼儀器
2025-09-05 18:03:23
631 
在高濕度環(huán)境下,貼片薄膜電阻可能因“電化學(xué)腐蝕”導(dǎo)致電阻膜層損傷,進(jìn)而引發(fā)失效。為提升電阻器的抗?jié)裥阅?,制造商通常采用兩種方法:一是在電阻膜層表面制造保護(hù)膜以隔絕濕氣;二是采用本身不易發(fā)生電化學(xué)腐蝕的材料制備電阻膜層。
2025-09-04 15:34:41
618 
你能想到嗎?薄膜也是要做表面處理的。薄膜容不容易被油墨附著,能不能防靜電等等,這些關(guān)鍵性能都可以通過專門的表面處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)。今天來給大家介紹薄膜表面處理中一項(xiàng)常見且高效的技術(shù)——常壓輝光放電技術(shù)。在
2025-09-02 10:56:34
707 汽車在我們的生活中應(yīng)用非常廣泛,汽車加熱片生產(chǎn)過程中的輕微折痕、針孔等缺陷,會(huì)引起熱點(diǎn)聚集,熱阻增加,進(jìn)而引起后視鏡的除霜延時(shí),更嚴(yán)重的會(huì)引發(fā)事故,即使上了普通的機(jī)器視覺檢測設(shè)備,針對表面凸起較小
2025-09-01 15:53:22
466 
針對鋰電池檢測的技術(shù)突破
STML-FD2020 圍繞鋰電池薄膜材料的測試需求,從 “分層檢測、數(shù)據(jù)精度、過程監(jiān)控” 三大維度創(chuàng)新,精準(zhǔn)解決傳統(tǒng)測試的局限,所有技術(shù)應(yīng)用均基于設(shè)備實(shí)際測試案例與參數(shù)
2025-08-30 14:16:41
鍵盤來說更薄、更輕巧,節(jié)省了空間,適合移動(dòng)設(shè)備和輕薄電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。2.薄膜鍵盤采用薄膜作為觸發(fā)器,按鍵觸感柔軟,操作起來更輕松、更安靜。3.薄膜鍵盤結(jié)構(gòu)簡單,易于
2025-08-26 10:03:54
792 
某些情況下波及晶圓的大片區(qū)域,此類缺陷的發(fā)現(xiàn)往往表明工藝模塊、特定薄膜或晶圓處理環(huán)節(jié)存在嚴(yán)重問題。早期檢測能夠避免數(shù)
2025-08-19 13:48:23
1116 
橢偏技術(shù)是一種非接觸式、高精度、多參數(shù)等光學(xué)測量技術(shù),是薄膜檢測的最好手段。本文以橢圓偏振基本原理為基礎(chǔ),重點(diǎn)介紹了光學(xué)模型建立和仿真,為橢偏儀薄膜測量及誤差修正提供一定的理論基礎(chǔ)。費(fèi)曼儀器作為國內(nèi)
2025-08-15 18:01:29
3970 
當(dāng)前MEMS壓力傳感器在汽車、醫(yī)療等領(lǐng)域的應(yīng)用廣泛,其中應(yīng)力敏感薄膜的厚度是影響傳感器性能的關(guān)鍵一,因此刻蝕深度合格且均勻性良好的薄膜至關(guān)重要。費(fèi)曼儀器作為薄膜測量技術(shù)革新者,致力于為全球工業(yè)智造
2025-08-13 18:05:24
700 
適用于透明玻璃薄膜材料,鋰電產(chǎn)品,3C電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體元器件等
2025-08-13 10:59:32
475 
介質(zhì)材料、溫度特性和應(yīng)用場景的深度較量,值得我們細(xì)細(xì)拆解。 **一、結(jié)構(gòu)差異:物理形態(tài)決定性能基因** 薄膜電容以金屬化聚酯(PET)、聚丙烯(PP)或聚苯硫醚(PPS)等有機(jī)材料為介質(zhì),通過真空蒸鍍工藝在薄膜表面沉積納米級(jí)
2025-08-11 17:10:56
1617 在工業(yè)自動(dòng)化快速發(fā)展的今天,各類電子設(shè)備對穩(wěn)定性、效率和耐用性的要求日益提高。作為電子電路中的關(guān)鍵元件之一,薄膜電容憑借其獨(dú)特的性能優(yōu)勢,正成為工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)的重要推手。從變頻器到伺服系統(tǒng),從新
2025-08-11 17:02:30
618 性36;目的:通過精確控制材料的原子級(jí)排列,改善電學(xué)性能、減少缺陷,并為高性能器件提供基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。例如,硅基集成電路中的應(yīng)變硅技術(shù)可提升電子遷移率4。薄膜沉積核心特
2025-08-11 14:40:06
1536 
實(shí)驗(yàn)名稱:量子點(diǎn)薄膜的非接觸無損原位檢測 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:量子點(diǎn)薄膜作為核心功能層,在發(fā)光二極管、顯示器等多種光電器件中起著關(guān)鍵作用。量子點(diǎn)薄膜厚度的不均勻性必然會(huì)影響器件的整體光電特性。然而,傳統(tǒng)的方法
2025-08-07 11:33:07
396 
)技術(shù)作為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵工藝,通過化學(xué)作用和機(jī)械摩擦的協(xié)同效應(yīng),能夠去除材料表面的缺陷和不平整,從而獲得光滑平整的表面。工藝完成后,利用美能光子灣共聚焦顯微鏡
2025-08-05 17:55:36
985 
玻璃檢測劃痕主要是為了從質(zhì)量控制、性能保障、應(yīng)用適配等多個(gè)維度確保玻璃的實(shí)用性和可靠性,具體目的如下:1.保障產(chǎn)品質(zhì)量,符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)劃痕是玻璃生產(chǎn)或加工過程中常見的瑕疵(如切割、搬運(yùn)、打磨時(shí)操作不當(dāng)
2025-08-05 12:12:51
525 
半導(dǎo)體測量設(shè)備主要用于監(jiān)測晶圓上膜厚、線寬、臺(tái)階高度、電阻率等工藝參數(shù),實(shí)現(xiàn)器件各項(xiàng)參數(shù)的準(zhǔn)確控制,進(jìn)而保障器件的整體性能。橢偏儀主要用于薄膜工藝監(jiān)測,基本原理為利用偏振光在薄膜上、下表面的反射
2025-07-30 18:03:24
1129 
表面增強(qiáng)拉曼散射SERS技術(shù)在痕量檢測中具有獨(dú)特優(yōu)勢,但其性能依賴于活性基底的形貌精度。ZnO作為一種新型半導(dǎo)體薄膜材料,因其本征微米級(jí)表面粗糙度通過在其表面覆蓋一層貴金屬Au,能夠大大地提升
2025-07-28 18:04:53
699 
濟(jì)南祥控自動(dòng)化設(shè)備有限公司自主研制的近紅外水分檢測儀XKCON-NIR-MA-FV根據(jù)近紅外波長會(huì)被水分子吸收的原理,通過分析某特定波長的近紅外能量變化,能夠精確檢測絕緣薄膜極其微量的水分含量變化。
2025-07-25 17:35:14
417 
劃痕是玻璃生產(chǎn)或加工過程中常見的瑕疵(如切割、搬運(yùn)、打磨時(shí)操作不當(dāng)可能產(chǎn)生)。檢測劃痕是判斷玻璃是否符合出廠質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要環(huán)節(jié),避免不合格產(chǎn)品流入市場。
2025-07-25 09:53:27
581 
在微電子制造與光伏產(chǎn)業(yè)中,大面積薄膜的均勻性與質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能。傳統(tǒng)薄膜表征方法(如濺射深度剖析、橫截面顯微鏡觀察)雖能提供高精度數(shù)據(jù),但測量范圍有限且效率較低,難以滿足工業(yè)級(jí)大面積表面的快速
2025-07-22 09:53:50
1277 
薄膜結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體制造中扮演著至關(guān)重要的角色,廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步,對薄膜結(jié)構(gòu)的檢測精度和效率提出了更高的要求。傳統(tǒng)的檢測方法,如橢圓偏振法、反射
2025-07-22 09:53:30
1528 
在半導(dǎo)體和顯示器件制造中,薄膜與基底的厚度精度直接影響器件性能?,F(xiàn)有的測量技術(shù)包括光譜橢偏儀(SE)和光譜反射儀(SR)用于薄膜厚度的測量,以及低相干干涉法(LCI)、彩色共焦顯微鏡(CCM)和光譜
2025-07-22 09:53:09
1468 
系統(tǒng)探討四探針法的測量原理、優(yōu)化策略及其在新型導(dǎo)電薄膜研究中的應(yīng)用,并結(jié)合FlexFilm在半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的技術(shù)積累,為薄膜電學(xué)性能的精確測
2025-07-22 09:52:04
1006 
費(fèi)曼儀器作為國內(nèi)領(lǐng)先的薄膜材料檢測解決方案提供商,致力于為全球工業(yè)智造提供精準(zhǔn)測量解決方案。其中全光譜橢偏儀可以精確量化薄膜的折射率、消光系數(shù)及厚度參數(shù),揭示基底
2025-07-22 09:51:09
1317 
透明薄膜在光學(xué)器件、微電子封裝及光電子領(lǐng)域中具有關(guān)鍵作用,其厚度均勻性直接影響產(chǎn)品性能。然而,工業(yè)級(jí)微米級(jí)薄膜的快速測量面臨挑戰(zhàn):傳統(tǒng)干涉法設(shè)備龐大、成本高,分光光度法易受噪聲干擾且依賴校準(zhǔn)樣品
2025-07-21 18:17:57
1456 
隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動(dòng)的半導(dǎo)體器件微型化,對多層膜結(jié)構(gòu)的三維無損檢測需求急劇增長。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點(diǎn)膜厚測量,而白光干涉法等技術(shù)難以分離透明薄膜的多層反射信號(hào)。本文提出一種單次
2025-07-21 18:17:24
699 
薄膜電容器雖然理論上有很多種材質(zhì),我們實(shí)際生產(chǎn)時(shí)主要有CBB金屬化聚丙烯薄膜電容和CL金屬化聚酯薄膜電容兩種類型,它是電路上極重要的一類電子元器件,大部分電路都離不開它們,薄膜電容器的優(yōu)點(diǎn)有哪些,你真的知道嗎?
2025-07-21 16:03:24
922 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊,更有表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料,表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管真值表,表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管管腳等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2025-07-17 18:32:15

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()表面貼裝混頻器和檢測器肖特基二極管相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊,更有表面貼裝混頻器和檢測器肖特基二極管的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料,表面貼裝混頻器和檢測器肖特基二極管真值表,表面貼裝混頻器和檢測器肖特基二極管管腳等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2025-07-17 18:31:22

。這些薄膜電池可以連接到可穿戴設(shè)備和醫(yī)療生物傳感器,并貼合患者的身體,以獲得最大的舒適度。許多印刷電池?zé)o法達(dá)到無線傳輸數(shù)據(jù)所需的峰值電流水平。該電池的層疊結(jié)構(gòu)可降低內(nèi)阻,提高峰值電流并實(shí)現(xiàn)無線通信
2025-07-15 17:53:47
一種重要的光學(xué)檢測工具——光纖光譜儀。 光纖光譜儀以其結(jié)構(gòu)緊湊、響應(yīng)快速、操作靈活等優(yōu)勢,已廣泛應(yīng)用于薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、均勻性等參數(shù)的測量中,是當(dāng)前實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞性測量的重要手段之一。本文將圍繞光纖光譜
2025-07-08 10:29:37
406 使用完畢后,需用干凈柔軟的布擦拭設(shè)備的外觀,清除表面的灰塵和污漬。對于檢測探頭等關(guān)鍵部位,要使用專用的清潔工具進(jìn)行清理,防止雜質(zhì)影響檢測精度。同時(shí),注意保持檢測腔
2025-07-07 11:14:48
675 
高的空間分辨率,并且能夠可視化聚合物薄膜內(nèi)的任何化學(xué)成分。通過掃描聚焦的激光束到定義區(qū)域,可以生成拉曼圖像(組分分布)。通過在樣品中移動(dòng)焦點(diǎn)位置,可以測量譜深度分布。 共聚焦檢測的原理描述在圖1中。針孔孔徑拒絕來自樣品上
2025-06-26 06:35:46
458 
氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:23
1749 
折射率介質(zhì)亞微米量級(jí)的二氧化鈦(TiO2)圓盤作為標(biāo)準(zhǔn)異質(zhì)結(jié)硅太陽能電池的抗反射惠更斯超表面在試驗(yàn)中進(jìn)行開發(fā)。無序陣列使用基于膠體自組裝的可伸縮自下而上的技術(shù)制造,該技術(shù)幾乎不考慮設(shè)備的材料或表面形態(tài)
2025-06-17 08:58:17
SJ5800國產(chǎn)表面粗糙度輪廓度檢測儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量
2025-06-12 13:39:39
薄膜電弱點(diǎn)測試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關(guān)鍵作用,用于檢測薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點(diǎn)缺陷。然而在實(shí)際使用過程中,可能會(huì)遇到各種問題影響檢測效率與準(zhǔn)確性。以下為薄膜電弱點(diǎn)測試儀常見問題及對應(yīng)
2025-05-29 13:26:04
491 
SuperViewW3D光學(xué)表面輪廓檢測儀器可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于
2025-05-26 16:17:36
SJ5800國產(chǎn)表面輪廓粗糙度檢測儀器可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測量,尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測,如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)(如Ra
2025-05-22 17:27:38
、機(jī)器視覺測寬、雙目立體視覺測寬、激光測寬等幾種類型。
無損檢測
以上介紹的幾種測量原理都是非接觸式無損檢測,這也就是說其測頭不與被測物表面接觸,減少了劃傷板材的可能,去除了板材形變帶來的檢測不準(zhǔn)
2025-05-22 14:56:10
在現(xiàn)代工業(yè)制造中,堆焊技術(shù)廣泛應(yīng)用于機(jī)械、能源、化工、航空航天等領(lǐng)域,用于修復(fù)磨損部件或增強(qiáng)工件表面性能。然而,傳統(tǒng)堆焊過程的質(zhì)量控制主要依賴人工經(jīng)驗(yàn)或焊后檢測,難以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控,導(dǎo)致缺陷發(fā)現(xiàn)滯后
2025-05-15 17:34:38
625 
CVD 技術(shù)是一種在真空環(huán)境中通過襯底表面化學(xué)反應(yīng)來進(jìn)行薄膜生長的過程,較短的工藝時(shí)間以及所制備薄膜的高致密性,使 CVD 技術(shù)被越來越多地應(yīng)用于薄膜封裝工藝中無機(jī)阻擋層的制備。
2025-05-14 10:18:57
1205 
,北京沃華慧通測控技術(shù)有限公司,憑借深厚的技術(shù)積淀與豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),為汽車領(lǐng)域帶來全方位、高精度的薄膜穿刺測試解決方案,助力車企在激烈的市場競爭中拔得頭籌。
2025-04-23 09:42:36
793 
實(shí)現(xiàn)了對硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池中薄膜厚度的快速檢測和分析,對提高太陽能電池生產(chǎn)質(zhì)量控制具有重要意義。研究背景MillennialSolar硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池(SHJ)
2025-04-21 09:02:50
974 
,滿足高端客戶對“零缺陷”的要求;
對行業(yè):推動(dòng)從“事后檢測”到“實(shí)時(shí)過程控制”的智能化升級(jí),助力精益生產(chǎn)與工業(yè)4.0落地。
網(wǎng)站名稱:保定市藍(lán)鵬測控科技有限公司
可根據(jù)客戶需求提供解決方案,定制產(chǎn)品
2025-04-17 14:14:24
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級(jí)檢測ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實(shí)現(xiàn)降本增效。
2025-04-16 12:03:19
824 
體系。
技術(shù)支持
高精在線檢測
單軸測徑儀采用平行光成像原理,通過CCD芯片捕捉被測物陰影并計(jì)算外徑。能對0.1mm及以上的產(chǎn)品進(jìn)行在線檢測。檢測精度通常能達(dá)到±0.01mm,其他精度可溝通定制。
高頻
2025-03-31 14:15:47
砂輪,又稱固結(jié)磨具,作為工業(yè)領(lǐng)域的“牙齒”,其主要功能是對金屬或非金屬工件進(jìn)行磨削、拋光等加工,以達(dá)到去除材料瑕疵、改善表面質(zhì)量的目的,廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造、汽車、航空航天等行業(yè)。
2025-03-24 09:32:39
824 
。這些薄膜電池可以連接到可穿戴設(shè)備和醫(yī)療生物傳感器,并貼合患者的身體,以獲得最大的舒適度。許多印刷電池?zé)o法達(dá)到無線傳輸數(shù)據(jù)所需的峰值電流水平。該電池的層疊結(jié)構(gòu)可降低內(nèi)阻,提高峰值電流并實(shí)現(xiàn)無線通信
2025-03-21 11:52:17
本文介紹了利用X射線衍射方法測量薄膜晶體沿襯底生長的錯(cuò)配角,可以推廣測量單晶體的晶帶軸與單晶體表面之間的夾角,為單晶體沿某晶帶軸切割提供依據(jù)。
2025-03-20 09:29:10
848 
偏光片是用二向色染料染色聚乙烯醇基薄膜,然后拉伸制成的。然后,TAC(三乙酰纖維素)附著在偏光片的頂部作為保護(hù)膜。PET(聚對苯二甲酸乙二醇酯)作為TAC薄膜的替代品,雖然性價(jià)比高,但它存在嚴(yán)重
2025-03-14 08:47:25
折射率介質(zhì)亞微米量級(jí)的二氧化鈦(TiO2)圓盤作為標(biāo)準(zhǔn)異質(zhì)結(jié)硅太陽能電池的抗反射惠更斯超表面在試驗(yàn)中進(jìn)行開發(fā)。無序陣列使用基于膠體自組裝的可伸縮自下而上的技術(shù)制造,該技術(shù)幾乎不考慮設(shè)備的材料或表面形態(tài)
2025-03-05 08:57:32
本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測的重要性,介紹了量測納米級(jí)薄膜的原理,并介紹了如何在制造過程中融入薄膜量測技術(shù)。
2025-02-26 17:30:09
2660 
本文介紹了PECVD中影響薄膜應(yīng)力的因素。 影響PECVD 薄膜應(yīng)力的因素有哪些?各有什么優(yōu)缺點(diǎn)? 以SiH4+NH3/N2生成SiNx薄膜,SiH4+NH3+NO2生成SiON薄膜為例,我這邊歸納
2025-02-10 10:27:00
1660 
傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒,百倍提升檢測效率!
2025-02-08 17:33:50
994 
X-Ray檢測設(shè)備可以檢測PCB(電路板)的多種內(nèi)部及外部缺陷,如果按照區(qū)域區(qū)分的話,主要能觀測到一下幾類缺陷: 焊接缺陷: 空洞(Voiding):焊點(diǎn)內(nèi)部出現(xiàn)的空氣或其他非金屬物質(zhì)形成的空隙
2025-02-08 11:36:06
1166 薄膜電容相對來講,都不能耐過高的溫度,以科雅的薄膜電容為例,粉包型的一般可以耐105℃高溫,塑膠外殼包封的盒裝薄膜電容可以耐110℃高溫,薄膜電容能做到120度嗎?
2025-02-08 11:22:30
1113 先來搞清楚一個(gè)概念,什么是薄膜電容器的額定電壓?
2025-02-08 11:17:56
1622 可以看出, SiH4提供的是Si源,N2或NH3提供的是N源。但是由于LPCVD反應(yīng)溫度較高,氫原子往往從氮化硅薄膜中去除,因此反應(yīng)物中氫的含量較低。氮化硅中主要由硅和氮元素組成。而PECVD反應(yīng)
2025-02-07 09:44:14
1233 
Pentronic近期推出了一款創(chuàng)新的熱電偶產(chǎn)品,專為表面溫度測量而設(shè)計(jì)。這款熱電偶的測量端頭巧妙地配備了自粘聚酰亞胺薄膜,使得其能夠輕松貼附于平面或管道表面,滿足臨時(shí)或長期的溫度監(jiān)測需求。 憑借其
2025-01-23 14:25:45
685 本文介紹了CVD薄膜質(zhì)量的影響因素及故障排除。 CVD薄膜質(zhì)量影響因素 以下將以PECVD技術(shù)沉積薄膜作為案例,闡述影響薄膜品質(zhì)的幾個(gè)核心要素。 PECVD工藝質(zhì)量主要受氣壓、射頻能量、襯底溫度
2025-01-20 09:46:47
3313 
,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。 WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢
2025-01-06 14:34:08
評(píng)論