在電子行業(yè)，絕緣薄膜水分含量不穩(wěn)定，一旦發(fā)現(xiàn)水分含量超出標準范圍，會導(dǎo)致電子元件在使用過程中頻繁出現(xiàn)短路、漏電等故障，因此，在生產(chǎn)過程中，需要配置水分儀對生產(chǎn)中的絕緣薄膜水分進行檢測，以便及時調(diào)整生產(chǎn)工藝，確保包裝薄膜的水分含量始終處于理想狀態(tài)。

物質(zhì)內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)，如水中的氧-氫鍵和有機物中的碳-氫鍵，會吸收特定波長的近紅外光線。在特定波長下，所反射的近紅外線能量和它所包含的吸收近紅外線的分子的數(shù)量成反比。濟南祥控自動化設(shè)備有限公司自主研制的近紅外水分檢測儀XKCON-NIR-MA-FV根據(jù)近紅外波長會被水分子吸收的原理，通過分析某特定波長的近紅外能量變化，能夠精確檢測絕緣薄膜極其微量的水分含量變化。

近紅外水分檢測儀XKCON-NIR-MA-FV采用近紅外光譜檢測技術(shù)(NIR)，這種測量技術(shù)是一種非破壞性、非接觸式的實時水分檢測技術(shù)，能實現(xiàn)對絕緣薄膜進行快速、無污染水分測量，并具有的技術(shù)優(yōu)勢：

秒級響應(yīng)：實時監(jiān)測水分變化，避免人工采樣滯后，提升產(chǎn)線效率。

精準穩(wěn)定：采用近紅外漫反射原理，檢測精度高，適應(yīng)復(fù)雜工況。

降本增效：減少原料浪費與返工成本，節(jié)約單條產(chǎn)線成本。

綠色環(huán)保：無化學(xué)試劑消耗，降低污染風(fēng)險，助力企業(yè)實現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展目標。

祥控近紅外水分檢測儀XKCON-NIR-MA-FV的技術(shù)指標:

測量范圍：0?100%

測量精度：±0.2%

測量通道：50

高度范圍：350mm±100mm

重復(fù)性：0.1%

濾波范圍：0?2.5%

電 源：220VAC/50Hz

消耗功率：60W

工作環(huán)境：-40℃~+70℃，5%~95%RH(無凝結(jié))

光干擾：不受外界環(huán)境光變化影響，探頭無須遮光罩

溫度影響：具有溫度自動補償基本不受外界溫度變化的影響

通過將祥控近紅外水分檢測儀XKCON-NIR-MA-FV集成到生產(chǎn)過程的關(guān)鍵區(qū)域，如皮帶輸送機、螺旋輸送機或滑槽上等位置，通過精確絕緣薄膜水分，使用分析數(shù)據(jù)快速做出決策和調(diào)整生產(chǎn)線以持續(xù)監(jiān)控原材料的來料或控制生產(chǎn)線上的過程，實現(xiàn)過程控制和最終質(zhì)量，通過靈活組建局域網(wǎng)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享和遠程監(jiān)控。

審核編輯 黃宇