隨著無線和寬帶應(yīng)用遍及電子產(chǎn)品，PCB越來越多地受到微波和高速數(shù)字和光學(xué)組件的影響。這些組件可以擴(kuò)展傳統(tǒng)電路板測(cè)試策略的功能，要求您調(diào)整測(cè)試設(shè)備以處理新產(chǎn)品。

您需要在無線或?qū)拵蠄?zhí)行的測(cè)試類型 - 已啟用的電路板和組件取決于產(chǎn)品設(shè)計(jì)以及產(chǎn)品必須符合的標(biāo)準(zhǔn)。未經(jīng)許可的低功耗藍(lán)牙功能的測(cè)試要求可能相當(dāng)有限，側(cè)重于發(fā)射功率和接收器靈敏度。蜂窩通信功能將要求更嚴(yán)格的測(cè)試要求，要求對(duì)相鄰信道功率測(cè)量等因素進(jìn)行測(cè)試。

無論您采用何種測(cè)試，您都希望盡可能多地使用當(dāng)前的測(cè)試設(shè)備。如果您的測(cè)試線包括X射線和光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，在線測(cè)試（ICT）系統(tǒng)和功能板測(cè)試儀，您應(yīng)該能夠?qū)⑵溆糜诟咚佼a(chǎn)品。

檢測(cè)設(shè)備可以是最容易適應(yīng)的，因?yàn)樗魂P(guān)心被檢部件的工作頻率。 X射線設(shè)備可以很容易地檢查焊接到電路板上的RF元件的焊點(diǎn)，光學(xué)檢測(cè)設(shè)備可以查找正確的部件號(hào)和正確的部件對(duì)齊。

但是你可能想要收緊你的公差。檢查系統(tǒng)?？赡軐?duì)低頻電路性能沒有影響的元件未對(duì)準(zhǔn)可能在高頻率下是不可接受的 - 在最終功能測(cè)試之前，當(dāng)產(chǎn)品已經(jīng)被封裝在塑料外殼中時(shí)，您希望很好地識(shí)別這種情況，從而導(dǎo)致未對(duì)準(zhǔn)組件無法訪問且無法修復(fù)。

在線測(cè)試限制

在線測(cè)試對(duì)于高頻電路板來說可能更難以使用。盡管如此，ICT仍然是制造過程的重要組成部分。例如，如果您要為現(xiàn)有的計(jì)算機(jī)外圍設(shè)備板添加無線通信功能，則可以繼續(xù)對(duì)低頻節(jié)點(diǎn)進(jìn)行在線測(cè)試，將RF測(cè)試推遲到最終功能測(cè)試。當(dāng)然，延遲RF測(cè)試最終可能會(huì)增加成本，因?yàn)樵谏a(chǎn)過程的后期才會(huì)發(fā)現(xiàn)有故障的RF組件。但是，如果您的RF電路僅包含少量組件，那么這種風(fēng)險(xiǎn)是可以控制的，您可以依靠ICT來檢測(cè)電路板上許多基帶組件之間的故障。

單芯片藍(lán)牙無線電，用于例如，可能不適合在現(xiàn)有ATE系統(tǒng)上進(jìn)行在線測(cè)試，但許多其他低頻組件也是如此。您可以假設(shè)藍(lán)牙芯片本身已經(jīng)過測(cè)試并篩選出您公司同意的每百萬質(zhì)量等級(jí)的缺陷。 （2001年9月刊中的一篇文章將討論藍(lán)牙測(cè)試 - 從芯片到最終產(chǎn)品 - 更詳細(xì)。）在線測(cè)試之前的檢查階段可以確保正確的藍(lán)牙部件安裝和正確焊接，而最終測(cè)試可以驗(yàn)證基本芯片的功能。制造過程不太可能改變?cè)O(shè)備在協(xié)議等因素方面的性能。因此，您可以將藍(lán)牙設(shè)備的單個(gè)快速測(cè)試推遲到最終功能測(cè)試，同時(shí)將ICT應(yīng)用于電路板上的許多低頻設(shè)備，以便及時(shí)捕獲絕大多數(shù)制造缺陷。

在從蜂窩技術(shù)到無線LAN實(shí)施的更苛刻的無線技術(shù)的多組件實(shí)施中，在線測(cè)試仍然是有價(jià)值的。在這里，在線測(cè)試可以對(duì)電感等元件進(jìn)行簡(jiǎn)單的電氣測(cè)試;再次，RF測(cè)試可以推遲到最終功能測(cè)試，而ICT可以檢測(cè)到低頻設(shè)備的故障。

添加RF盒

最終，你需要RF儀器（圖1 ）來測(cè)試電路板，子組件和已完成產(chǎn)品的全部功能。一種選擇是將您自己的射頻儀器添加到基本功能測(cè)試系統(tǒng)，依靠NI等公司的標(biāo)準(zhǔn)儀器驅(qū)動(dòng)程序?qū)⑦@些儀器連接到您的測(cè)試環(huán)境。可互換虛擬儀器（IVI）基金會(huì)（www.ivifoundation.org）正在制定標(biāo)準(zhǔn)，以確保各類儀器之間的兼容性;它首先定義了數(shù)字萬用表等低頻儀器的要求，并且正在努力在年底前開發(fā)頻譜分析儀等高頻儀器的標(biāo)準(zhǔn)。

除了選擇信號(hào)等通用儀器在信號(hào)源和頻譜分析儀中，您可以選擇專用于特定光網(wǎng)絡(luò)標(biāo)準(zhǔn)或無線通信協(xié)議的信號(hào)。大多數(shù)此類方法涉及IEEE 488儀器，但包括ZTEC在內(nèi)的公司開始提供CompactPCI格式的RF儀器。 ZTEC提供針對(duì)脈沖RF信號(hào)測(cè)量以及調(diào)制和頻譜分析的數(shù)字化儀。

如果您正在尋找交鑰匙功能測(cè)試系統(tǒng)，您可以使用專為您的產(chǎn)品量身定制的專用測(cè)試系統(tǒng)。一些電路板測(cè)試ATE供應(yīng)商，如Agilent Technologies，GenRad和Teradyne，已與RF儀器制造商合作，提供交鑰匙測(cè)試平臺(tái)。 GenRad的Versa手機(jī)測(cè)試儀就是這樣一個(gè)系統(tǒng)。為了幫助合同測(cè)試機(jī)構(gòu)滿足客戶對(duì)特定射頻儀器的要求，GenRad將其Versa手機(jī)系統(tǒng)與安捷倫科技，Anritsu，IFR，Racal Instruments和Rohde＆amp; Co.等公司的儀器集成。施瓦茨。 GenRad還針對(duì)Versa測(cè)試高速OC-192光網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品，并與Tektronix合作，將后者公司的OTS系列光學(xué)測(cè)試儀器與Versa功能測(cè)試平臺(tái)集成。

獲勝組合

您還可以選擇執(zhí)行傳統(tǒng)在線測(cè)試的替代方案以及針對(duì)高速電路板的一些功能測(cè)試。 Teradyne（圖2 ）和其他公司稱這些系統(tǒng)為組合測(cè)試人員。安捷倫科技公司避開術(shù)語“組合測(cè)試”，但仍提供類似的性能。這些系統(tǒng)提供了對(duì)低頻組件的釘床訪問，并為外部?jī)x器建立了通向高速節(jié)點(diǎn)的通道。例如，Agilent Technology的3070性能端口允許您將臺(tái)式示波器，信號(hào)源和頻譜分析儀連接到正在公司3070系列在線測(cè)試儀上測(cè)試的電路板。

夾具是高速電路板在線測(cè)試策略的重要組成部分。釘床固定裝置的觸點(diǎn)可以充當(dāng)天線，不利地扭曲正在研究的高速信號(hào)。為了減輕這些不利影響，您可以采用雙階段夾具方案 - 例如Agilent Technologies的Quick Press夾具中使用的方案（圖3 ）。使用快速按壓方法，長(zhǎng)探針可以進(jìn)行??特定于設(shè)備的功能測(cè)試。當(dāng)這些測(cè)試完成后，夾具壓縮以使短探針與電路板接觸，允許全板ICT。

在PCB和子組件上包括高速元件使制造測(cè)試變得復(fù)雜，但新興的測(cè)試產(chǎn)品可以幫助你適應(yīng)。隨著無線和寬帶功能不斷涌入更多產(chǎn)品，您將找到有能力的測(cè)試硬件和軟件，幫助您縮短測(cè)試工作。 T＆amp; MW