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如何提高并實(shí)現(xiàn)所選傳感器的精度

德州儀器 ? 來源:德州儀器 ? 作者:德州儀器 ? 2020-09-13 09:10 ? 次閱讀
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作為支持模擬和數(shù)字溫度傳感器的高級應(yīng)用/系統(tǒng)工程師,在工作中經(jīng)常被問到有關(guān)溫度傳感器應(yīng)用的問題。其中有很多是關(guān)于模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC)的,由于ADC在系統(tǒng)應(yīng)用中的重要性,我花費(fèi)很多時(shí)間在解釋ADC對系統(tǒng)精度有何意義,以及如何理解并實(shí)現(xiàn)所選傳感器的更大系統(tǒng)精度上。

溫度傳感器用于大功率開關(guān)電源設(shè)計(jì)中,需要監(jiān)測功率晶體管和散熱器。電池充電系統(tǒng)需要溫度傳感器監(jiān)測電池溫度,以便安全充電并優(yōu)化電池壽命,家庭恒溫器則需要溫度傳感器監(jiān)測房間溫度,以相應(yīng)控制供暖,通風(fēng)和空調(diào)系統(tǒng)。

這些應(yīng)用中,常用的溫度測量方法是使用負(fù)溫度系數(shù)(NTC)熱敏電阻。NTC是電阻器件,其電阻隨著溫度的改變而改變。為了滿足當(dāng)今溫度傳感器需求,一種更新、更高效、更準(zhǔn)確的方法是使用硅基熱敏電阻,它是一種正溫度系數(shù)(PTC)器件。并且PTC不是電阻器件,而是電流模式器件;在電流模式下工作的硅提供基于溫度的線性輸出電壓。

無論您使用NTC還是PTC,您的設(shè)計(jì)都需要一個(gè)ADC和一個(gè)MCU來測量熱敏電阻的電壓輸出。本文的重點(diǎn)是將硅基熱敏電阻與MCU結(jié)合使用帶來的許多優(yōu)勢。我們將探討NTC和PTC熱敏電阻的優(yōu)缺點(diǎn)。

選擇微控制器

MCU選型具有諸多選擇,但很可能在選擇溫度傳感器時(shí)這個(gè)組件已經(jīng)被確定。你可以關(guān)注溫度傳感的ADC外設(shè)的具體情況。

選擇ADC

ADC有很多不同的類型。最受歡迎的兩種為逐次逼近寄存器(SAR)和 Delta-Sigma模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。Delta-Sigma提供高分辨率(8-32位分辨率),但采樣速度較慢。SAR類型最古老、最常見,分辨率為8-18位,采樣速度更快。對于溫度傳感,任意一種ADC都是不錯(cuò)的選擇。

ADC分辨率

ADC的位數(shù)將決定分辨率而非精度。分辨率是ADC用來測量施加到ADC管腳的模擬電壓的步長。分辨率的位數(shù)以及參考電壓(VREF)將設(shè)置ADC的步長值。

比如,一個(gè)10位ADC將具有2^10=1024位,而3.3VDC的VREF將為每個(gè)ADC位提供3.3/1024=0.003226VDC的分辨率。一個(gè)16位ADC將具有65536位的總分辨率,每位分辨率為0.000005035VDC。ADC位數(shù)越多將意味著更高的測量分辨率。

請勿將精度與分辨率混淆。分辨率是指能夠看到被測電路值的變化。用于溫度測量的典型ADC的分辨率為12-16位。您會發(fā)現(xiàn)8位或10位ADC不能提供足夠的分辨率來查看熱敏電阻的精度,且具有較大的溫度步長,通常不可接受。

過采樣以獲得更高分辨率

過采樣是一種平均測量值的方法,可提高分辨率和信噪比。過采樣的工作原理是將多個(gè)帶有噪聲的溫度測量值相加,然后進(jìn)行平均,得到一個(gè)更精確的數(shù)值。每超過8個(gè)過采樣,分辨率將增加2位。16次過采樣會將10位ADC的總分辨率提高到14位。如果噪聲高于Nyquist頻率,則可在應(yīng)用程序中使用任意數(shù)量的樣本(N#份樣本)來獲得設(shè)計(jì)所需的分辨率。Nyquist速率是您期望獲得實(shí)際溫度讀數(shù)的頻率。樣本總數(shù)必須比實(shí)際所需溫度結(jié)果快至少N#倍。

在使用過采樣方法時(shí),在輸入信號中添加一些抖動噪聲可改善分辨率誤差。許多實(shí)際應(yīng)用中,噪聲小幅增加可大幅提高測量分辨率。在實(shí)踐中,將抖動噪聲置于測量感興趣的頻率范圍之外,隨后可以在數(shù)字域中濾除這些噪聲,從而在感興趣的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行最終的測量,同時(shí)具有更高的分辨率和更低的噪聲。

提供抖動噪聲的更佳方法是將熱敏電阻分壓器的Vcc和VREF.分開(將MCU的內(nèi)部VREF用于ADC)。請勿在電阻分壓器電壓檢測線上放置電容器。許多情況下,電路噪聲將足以使電阻分壓器的電壓抖動,以求平均值。抖動噪聲必須等于4位或更多位振幅。10位具有3.3VDC VREF的ADC將擁有0.0032VDC的電壓步長。抖動噪聲必須至少是預(yù)期溫度測量值上下的4位分辨率。10位ADC的最小抖動噪聲必須高于ADC的最低有效位(LSB)+/- 0.0128VDC(0.0256VDC p-p)或更高,以提供必要的電平,從而通過求平均值適當(dāng)提高ADC的位分辨率。

在ADC讀取一個(gè)位值并計(jì)算溫度后,您可將該值存儲在先進(jìn)先出(FIFO)軟件陣列中。當(dāng)新值輸入陣列時(shí),最舊的樣本將被丟棄,所有其他樣本都將移至下一個(gè)對應(yīng)的單元,從而創(chuàng)建一個(gè)FIFO。該求平均值方法可應(yīng)用于溫度轉(zhuǎn)換過程中使用的任何值,例如溫度、ADC位值、分壓器電壓,甚至計(jì)算得出的電阻。所有這些因素平均下來都將很好地發(fā)揮作用。

定點(diǎn)或浮點(diǎn)

微控制器可在內(nèi)部具有浮點(diǎn)單元硬件,也可具有無需硬件即可進(jìn)行浮點(diǎn)數(shù)學(xué)運(yùn)算的固件庫。32位非浮點(diǎn)器件的快速示例是Cortex “M4”器件,而帶有浮點(diǎn)的版本將標(biāo)記為“M4F”。與使用定點(diǎn)部件和使用浮點(diǎn)固件庫相比,MCU內(nèi)部具有浮點(diǎn)硬件使計(jì)算速度更快、功耗更低。

具有固定點(diǎn)意味著只能顯示大于零的整數(shù)。例如:如果1 + 1,則得到2,然后取平均值1。如果2 + 1,則得到3,然后取平均值1.5。在定點(diǎn)計(jì)算中,結(jié)果將為“ 1”, 小數(shù)點(diǎn)以下的數(shù)字都不能用1。用固定點(diǎn)測量溫度時(shí),將只能看到和參考整數(shù)的溫度,即22°C,23°C,24°C。浮點(diǎn)可顯示更高分辨率的溫度,即22.1°C或22.15°C。使用浮點(diǎn)數(shù)既可更輕松計(jì)算溫度,也可使用帶有插值的查找表。您可使用具有單位數(shù)分辨率的定點(diǎn)查找表,分辨率為一位數(shù),這對于許多應(yīng)用程序是可接受的。

選擇熱敏電阻

熱敏電阻有兩種類型,基本的NTC和PTC熱敏電阻。通常會將它們混為一談,被認(rèn)為是同一類型的器件。這并不正確。NTC是一種隨溫度變化的電阻裝置。如圖1的分壓器電路圖中所示,在熱敏電阻頂部放置一個(gè)電阻并施加穩(wěn)定的電壓。溫度變化時(shí),熱敏電阻中的電阻也會發(fā)生變化,從而改變頂部電阻兩端的壓降。分壓電阻器中心的輸出為模擬電壓,將由ADC測量。

圖1:分壓電路實(shí)現(xiàn)

PTC是一種基于電流工作的硅器件。隨著溫度變化,傳導(dǎo)電流也隨之發(fā)生變化。大多數(shù)PTC的工作都使用恒流源進(jìn)行,如圖2所示。電流改變時(shí),由電流源提供的電壓改變。

圖2:恒流電路實(shí)現(xiàn)

ADC測量電壓的變化,并將測量值轉(zhuǎn)換為溫度。

你也可以使用PTC,就像NTC熱敏電阻與RBias電阻一樣,見圖1。頂部電阻將如同電流源一樣工作。與相同條件下的NTC相比,PTC通常對溫度變化具有更好的熱敏性,且對較小的變化更敏感。PTC的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是:它們在Vtemp 連接處具有線性輸出,如下圖3所示,因此更易于校準(zhǔn)。這也使零件在整個(gè)溫度范圍內(nèi)都更加精確。

圖3: PTC熱敏電阻線性電阻斜率

NTC具有類似于下面圖4所示的非線性輸出,且可能需要在溫度室內(nèi)進(jìn)行三點(diǎn)校準(zhǔn),以允許斜率補(bǔ)償和偏移誤差調(diào)整,從而在整個(gè)溫度范圍內(nèi)保持精確。NTC的非線性斜率無法在未校準(zhǔn)的情況下在整個(gè)溫度范圍內(nèi)提供穩(wěn)定的溫度信息。

圖4: NTC熱敏電阻非線性電阻斜率

在正常條件下,NTC可以使用具有適當(dāng)溫度分辨率的12位ADC,尤其是在較冷溫度下,但是PTC通常需要14位ADC才能獲得足夠的分辨率,以查看溫度步長,從而顯示出 PTC的實(shí)際精度。對于所有溫度范圍內(nèi)的PTC都是如此,但NTC將需要一個(gè)14位ADC來測量60°C以上的較高溫度。

在PTC頂部增加一個(gè)RBias電阻會減小PTC的動態(tài)范圍。較低的動態(tài)范圍使ADC的電壓反饋降低,這就是PTC需要14位ADC分辨率的原因。但是,由于PTC的線性斜率,較低的動態(tài)范圍將導(dǎo)致較大的溫度誤差測量。室溫下的單點(diǎn)偏移將在整個(gè)溫度范圍內(nèi)校準(zhǔn)PTC。對于基于PTC的系統(tǒng),在整個(gè)溫度范圍內(nèi),這將使溫度測量比典型的(同等指定的)基于NTC的系統(tǒng)更加精確。

比率度

比率度是描述捕獲的ADC值的術(shù)語。該值可與輸入和/或電源電壓的變化成比例地變化。當(dāng)提供給溫度感測電路的分壓器的VCC電源也提供用于VREF的電壓時(shí)(如下面圖5所示),則稱其為比率度。VCC的任何變化都將在分壓器和VREF處同等同時(shí)變化,從而影響ADC的測量值,讓這些源之間的潛在差分誤差最小。

比率度方法可以增加系統(tǒng)中的總精度。在實(shí)現(xiàn)不使用平均或過采樣的基于熱敏電阻的溫度傳感器時(shí),為分壓器和ADC的VREF使用相同的電源非常重要。

圖5: 比率度,

由同一電源供電的電阻分壓器和VREF供電

濾波

在大多數(shù)情況下,無需在分壓器上使用電容器,在使用單端ADC的比率法時(shí)也不應(yīng)使用。對于差分的VREF/ADC輸入,您通常會在ADC輸入和VREF輸入之間放置一個(gè)電容。使用比率度方法時(shí),對Vtemp 進(jìn)行濾波將改變感測線上的電壓響應(yīng),但不會改變ADC VREF 的電壓響應(yīng)。因此,增加一個(gè)濾波器會增加輸入到電阻分壓器的VREF 和VCC之間的差值,并增加誤差。

不使用比率度方法時(shí),可以使用在分壓器處增加電容來濾除電壓,以消除噪聲和電壓變化,否則會在測量中產(chǎn)生誤差。添加一個(gè)電容器來濾除VREF也是一個(gè)不錯(cuò)的方法。有時(shí),VREF 是內(nèi)部的,無需額外濾波。如果在Vtemp線上添加電容器,則會增加對溫度變化的響應(yīng)時(shí)間。如果測得的溫度響應(yīng)緩慢且無需立即采取措施,則濾波器可能會有所幫助。另一種濾波器解決方案是在電阻分壓器頂部的VCC處增加一個(gè)電容器,以濾除系統(tǒng)中的噪聲以進(jìn)行溫度測量。如果使用比率度,則在VREF 上添加相同的電容器,以使兩個(gè)電源的電壓變化保持一致。

緩沖器和放大器

放大器可用于增加熱敏電阻的動態(tài)范圍。所有運(yùn)算放大器都有潛在的失調(diào)誤差和增益誤差。選擇對精度和失調(diào)影響最小的運(yùn)算放大器需要付出更多努力。校正失調(diào)和增益誤差所需的校準(zhǔn)可能比升級到更高質(zhì)量的ADC的成本更高。一些MCU具有內(nèi)部運(yùn)算放大器。許多DS ADC具有集成的PGA,正是為了這個(gè)目的(緩沖/增益)。一些SAR ADC也有這些功能。

有時(shí)會使用單位增益緩沖器來防止下垂或加載到電阻分壓器電路。當(dāng)ADC對熱敏電阻分壓器電路進(jìn)行采樣時(shí),來自ADC的浪涌電容會導(dǎo)致測量時(shí)幾毫伏的電壓下降。如果在ADC中具有足夠的分辨率,則會在溫度測量中觀察到這是一個(gè)錯(cuò)誤。如果直接在ADC管腳上增加一個(gè)等于ADC電容10倍的電容器,則無需使用緩沖器就可以補(bǔ)償ADC電容的浪涌電流。典型的ADC電容為3pF-20pF。最好在ADC管腳附近添加一個(gè)30pF – 200pF的電容,這是一個(gè)很好的解決方案。它將對熱敏電阻的測量或熱響應(yīng)的影響降至最低。

漂移

由于PTC熱敏電阻使用硅作為其基礎(chǔ)材料且具有線性斜率,因此,流經(jīng)PTC的電流隨時(shí)間和溫度變化具有非常低的漂移。另一方面,NTC通常對所用材料的電阻具有溫度依賴性,且在高溫下會隨時(shí)間變化。NTC具有一個(gè)beta值,可定義整個(gè)溫度范圍內(nèi)的TCR / PPM,且PPM隨時(shí)間變化。

從ADC導(dǎo)出溫度

NTC熱敏電阻溫度是基于器件的電阻。許多設(shè)計(jì)人員使用查找表尋找特定溫度下的電阻。然后通過插值計(jì)算每個(gè)1°C溫度步長之間的實(shí)際溫度。為了更大程度地減少查找表的大小,您可使用5°C的查找表,但是內(nèi)插誤差會高一些。對于大多數(shù)設(shè)計(jì)人員而言,0.5°C的精度已足夠,因此帶有插值的5°C查找表就已足夠。

PTC基于流經(jīng)零件的實(shí)際電流,通常由公式定義。PTC基于三階或四階多項(xiàng)式。四階多項(xiàng)式的精度曲線擬合(R2)為1.0000%至0.9999%,以提供溫度信息。Steinhart Hart方程可由NTC和PTC使用,并采納使用自然對數(shù)來計(jì)算溫度的三階多項(xiàng)式。Steinhart Hart方程式已為更多設(shè)計(jì)人員所認(rèn)可,因?yàn)槎嗄昵捌渥畛鯙镹TC創(chuàng)建。如今,大多數(shù)高精度PTC都依賴于四階多項(xiàng)式。

校準(zhǔn)

所有NTC和PTC都需要校準(zhǔn)才能精確。可購買一些具有更嚴(yán)格公差和Beta值的NTC。這似乎可以消除校準(zhǔn)。但是,熱敏電阻不是系統(tǒng)中唯一的組件。頂部電阻具有容差,且在整個(gè)溫度范圍內(nèi)具有PPM,VCC在電壓以及溫度范圍內(nèi)存在電壓誤差。系統(tǒng)總精度可能超出預(yù)期范圍,且精度可能并不能達(dá)到期望。

NTC通常需要進(jìn)行三點(diǎn)校準(zhǔn)以調(diào)整斜率誤差,且需要進(jìn)行偏移以校正總偏移誤差。因此,這需要溫度箱和時(shí)間來收集整個(gè)溫度的誤差。首先,由于硅的工藝偏差,PTC將具有較大的偏移誤差,但是可通過單個(gè)偏移調(diào)整在整個(gè)溫度范圍內(nèi)對其進(jìn)行校正。大多數(shù)情況下,在組裝的最終編程過程中,偏移調(diào)整可于室溫下進(jìn)行,且無需溫度箱或時(shí)間來進(jìn)行校準(zhǔn)。

結(jié)論

NTC和PTC因零件數(shù)量少、成本低都易于實(shí)現(xiàn)。但是,NTC可能將需要更昂貴的校準(zhǔn)方法,且隨時(shí)間推移具有更高的漂移。

PTC是進(jìn)行溫度測量的新方法。一個(gè)簡易的失調(diào)校正是整個(gè)溫度范圍內(nèi)所需的整個(gè)校準(zhǔn)。PTC的精度非常精確,且溫度測量值隨時(shí)間和溫度變化具有很小的漂移。

需要明確的是,NTC和PTC不是同一類型的組件,且很難僅通過閱讀數(shù)據(jù)表進(jìn)行直接比較。PTC不是電阻組件,大多數(shù)供應(yīng)商建議僅使用恒流源來驅(qū)動它們。德州儀器TI)創(chuàng)建了一個(gè)設(shè)計(jì)工具,以向設(shè)計(jì)人員展示如何在電阻分壓器電路中使用其TMP61 系列 PTC。該工具包括一個(gè)計(jì)算阻力表,供那些習(xí)慣使用查找表的人使用。使用新的設(shè)計(jì)考慮因素和正確的計(jì)算方法,使得PTC比NTC具有更高的精度和穩(wěn)定性。

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原文標(biāo)題:想提高熱敏電阻的精度?試試 TI 的微控制器技術(shù)吧!

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    ,實(shí)現(xiàn)科學(xué)權(quán)衡。本文基于工程實(shí)踐與前沿研究,系統(tǒng)解析傳感器選型的核心邏輯與方法。 一、精度權(quán)衡:從理論參數(shù)到應(yīng)用匹配 精度傳感器的核心指標(biāo)
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    開環(huán)式霍爾電流傳感器及閉環(huán)霍爾電流傳感器的多匝穿心利弊分析

    對于開環(huán)式霍爾電流傳感器而言,多匝穿心利大于弊,因此在使用該方法提升測量精度時(shí)需注意穿心方式,用戶可在一定程度內(nèi)提高小電流測試精度;對于閉環(huán)霍爾電流
    的頭像 發(fā)表于 07-01 15:28 ?1083次閱讀
    開環(huán)式霍爾電流<b class='flag-5'>傳感器</b>及閉環(huán)霍爾電流<b class='flag-5'>傳感器</b>的多匝穿心利弊分析

    瑞之辰:壓力傳感器行業(yè)未來潛力有多大

    科技有限公司的發(fā)展情況,展現(xiàn)行業(yè)內(nèi)的創(chuàng)新力量。一、行業(yè)發(fā)展趨勢(一)高精度與高靈敏度隨著各應(yīng)用領(lǐng)域?qū)y量精度要求的不斷提高,壓力傳感器正朝著更高精度
    的頭像 發(fā)表于 05-30 14:11 ?1149次閱讀
    瑞之辰:壓力<b class='flag-5'>傳感器</b>行業(yè)未來潛力有多大

    磁致伸縮位移傳感器的測量精度如何?

    磁致伸縮位移傳感器的測量精度如何?磁致伸縮位移傳感器的測量精度較高,通常能達(dá)到以下水平:1、分辨率:一般采用 16Bit D/A 轉(zhuǎn)換,可達(dá)到 0.0015% F.S.,最小能達(dá)到 1
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    磁致伸縮位移<b class='flag-5'>傳感器</b>的測量<b class='flag-5'>精度</b>如何?
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