同樣，在構(gòu)建印刷電路板時(shí)，您需要確保經(jīng)過嚴(yán)格的測(cè)試，才能完成其設(shè)計(jì)工作。但是，某些合同制造商沒有像其他合同制造商那樣投入精力進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試。這可能會(huì)導(dǎo)致間歇性問題或整個(gè)電路板故障。在調(diào)試PCB時(shí)解決這些問題已經(jīng)很糟糕了，但是當(dāng)這些故障在現(xiàn)場發(fā)生時(shí)，這可能是一場真正的災(zāi)難。為了確保您的電路板不會(huì)遭受此類問題的困擾，您需要由CM構(gòu)建它們，以使您的電路板通過全面的PCB測(cè)試技術(shù)。

PCB測(cè)試您應(yīng)該期望CM提供四種關(guān)鍵的PCB測(cè)試技術(shù)。每個(gè)都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，您應(yīng)該意識(shí)到。

1.在線測(cè)試（ICT）

在線測(cè)試（ICT）是具有多個(gè)稱為釘床的探針的印刷電路板測(cè)試系統(tǒng)。ICT探針同時(shí)與PCB上的所有測(cè)試點(diǎn)接觸，以電氣測(cè)試其電路的組裝故障，例如短路或不良的焊點(diǎn)。它還將檢查關(guān)鍵的組件值，整體電路板功能，并可以通過使用其他適配器和模塊進(jìn)行增強(qiáng)以進(jìn)行更復(fù)雜的測(cè)試。

ICT的缺點(diǎn)主要是測(cè)試夾具的費(fèi)用，其建造成本可能在8,000美元至15,000美元之間。另外，對(duì)測(cè)試頭的任何修改都是困難且昂貴的。PCB還必須設(shè)計(jì)成具有良好的測(cè)試設(shè)計(jì)（DFT）技術(shù)，以最大程度地覆蓋故障，并且需要經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)人員來開發(fā)和使用測(cè)試軟件和設(shè)備以發(fā)揮其最大功能。但是，對(duì)于體積較大的電路板，ICT通常是最佳的測(cè)試選擇。

2.飛針

飛行探針測(cè)試系統(tǒng)使用兩到六個(gè)探針在板上移動(dòng)或飛行以進(jìn)行測(cè)試。與ICT相比，Flying Probe具有能夠測(cè)試更大的板（例如底板）的優(yōu)勢(shì)，并且其安裝成本和開發(fā)時(shí)間更低。像ICT一樣，它將測(cè)試由于焊料連接以及組件的存在，其值和極性而引起的組裝問題。但是，通過簡化測(cè)試設(shè)置，飛針可以輕松處理PCB布局修訂。

與ICT相比，Flying Probe在功能測(cè)試中確實(shí)存在操作上的限制，盡管通過允許進(jìn)行一些動(dòng)力測(cè)試，一些較新的版本正在對(duì)此進(jìn)行改進(jìn)。由于只有六個(gè)探針接觸到每個(gè)測(cè)試點(diǎn)，因此飛行探針本質(zhì)上也比ICT慢。然而，對(duì)于印刷電路板的小批量生產(chǎn)而言，這不是問題，并且在比較可能涉及的所有其他成本時(shí)，甚至可以成為首選方法。

3. CableScan

對(duì)于具有多個(gè)連接器的PCB，例如底板或其他復(fù)雜的接口板，CableScan系統(tǒng)是進(jìn)行測(cè)試的絕佳選擇。CableScan通過連接器連接到要測(cè)試的板上，并將檢查每個(gè)引腳是否與其他引腳相對(duì)，以查找組裝問題，例如焊錫短路或開路。它還將測(cè)試跳線的配置以及二極管的功能，并測(cè)量電阻和電容。

CableScan系統(tǒng)在一次通過時(shí)將測(cè)試多大的連接器數(shù)量上確實(shí)有一些限制，并且開發(fā)硬件接口的成本很小。需要獲得配合連接器并將其連接到系統(tǒng)，這可能會(huì)導(dǎo)致延遲，具體取決于交貨時(shí)間，復(fù)雜性或費(fèi)用。CableScan的設(shè)置和測(cè)試時(shí)間可能會(huì)很長，具體取決于所涉及連接器的數(shù)量和復(fù)雜性。

4.功能測(cè)試

電路板的功能測(cè)試是確定其最終通過/失敗狀態(tài)的最全面的測(cè)試。通過組合連接的電纜，測(cè)試探針和測(cè)試軟件，功能測(cè)試治具將根據(jù)您的規(guī)范模擬電路板的行為。提供功能測(cè)試治具時(shí)，您可以放心，CM將使用您為其設(shè)計(jì)的精確參數(shù)對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試。

或者，您的CM可以為您開發(fā)功能測(cè)試夾具（硬件和軟件）。這對(duì)于更小，更簡單的設(shè)計(jì)尤其有吸引力。CM的測(cè)試工程師將開發(fā)一種臺(tái)式測(cè)試夾具和方法，以解決組裝缺陷，而無需花費(fèi)時(shí)間和成本來驗(yàn)證特定組件。這種功能測(cè)試將確定整個(gè)電路是否運(yùn)行正常，盡管需要更詳細(xì)的調(diào)試過程來識(shí)別和糾正發(fā)現(xiàn)的故障。