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“ADI助力半導(dǎo)體測試設(shè)備成長”在線研討會即將開始

ss ? 來源:電子產(chǎn)品世界 ? 作者:電子產(chǎn)品世界 ? 2021-01-07 17:45 ? 次閱讀
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專注于引入新品并提供海量庫存的電子元器件分銷商貿(mào)澤電子 ( Mouser Electronics ) 近日宣布將攜手ADI于1月12日下午14:00-15:30舉辦一期主題為“ADI助力半導(dǎo)體測試設(shè)備成長”的在線研討會。屆時,來自ADI 的技術(shù)專家將與觀眾探討分享特定于ATE 應(yīng)用的豐富產(chǎn)品線以及相應(yīng)的參考設(shè)計方案,讓工程師們能夠更好的了解半導(dǎo)體自動測試設(shè)備,進一步提升測試實用技能。

半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié),其中,測試機是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備,需要具有高度集成、高效率和高精度等特點。對于需要高性能、高可靠、高性價比解決方案的 IC 測試應(yīng)用,ADI 提供了整體的解決方案。本次直播將重點為觀眾介紹集成式引腳電子器件 (PE)、器件電源 (DPS)、參數(shù)測量單元 (PMU)、參考設(shè)計方案,幫助工程師能夠更好地掌握測試環(huán)節(jié)中的重要因素,實現(xiàn)更為便捷和高效的測試。

貿(mào)澤電子亞太區(qū)市場及商務(wù)拓展副總裁田吉平女士表示:“隨著芯片性能的提升,芯片的設(shè)計也越來越復(fù)雜,為了保障產(chǎn)品品質(zhì),出貨前的半導(dǎo)體測試已然成為非常重要的部分。對于測試工程師來說,利用良好的測試系統(tǒng)可以獲得較好的測試覆蓋率,而測試系統(tǒng)硬件和軟件的性能不僅影響測試方法,更造成測試的精確度、靈活度及難易度等方面的差別。

為了讓工程師在測試應(yīng)用中,能在特定的情況下找到最佳解決方案,貿(mào)澤電子特邀ADI專家分享相關(guān)課程,深入探討和剖析IC測試過程中所用到的器件,結(jié)合ADI的全面解決方案,助力工程師輕松應(yīng)對測試中的各類挑戰(zhàn),提高測試質(zhì)量?!?/p>

作為全球授權(quán)分銷商,貿(mào)澤電子庫存有豐富的半導(dǎo)體和電子元器件,并積極引入原廠新品,支持隨時發(fā)貨。貿(mào)澤旨在為客戶供應(yīng)全面認(rèn)證的原廠產(chǎn)品,并提供全方位的制造商可追溯性。為幫助客戶加速設(shè)計,貿(mào)澤網(wǎng)站提供了豐富的 技術(shù)資源庫 ,包括技術(shù)資源中心、產(chǎn)品數(shù)據(jù)手冊、供應(yīng)商特定參考設(shè)計、應(yīng)用筆記、技術(shù)設(shè)計信息、設(shè)計工具以及其他有用的信息。

責(zé)任編輯:xj

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