日B视频 亚洲,啪啪啪网站一区二区,91色情精品久久,日日噜狠狠色综合久,超碰人妻少妇97在线,999青青视频,亚洲一区二卡,让本一区二区视频,日韩网站推荐

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

功率器件具體都要進行哪些測試呢?

旺材芯片 ? 來源:旺材芯片 ? 作者:旺材芯片 ? 2021-03-29 15:27 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

1940年,貝爾實驗室在研究雷達探測整流器時,發(fā)現(xiàn)硅存在PN結效應,1958年,美國通用電氣(GE)公司研發(fā)出世界上第一個工業(yè)用普通晶閘管,標志著電力電子技術的誕生。

從此功率半導體器件的研制及應用得到了飛速發(fā)展,并快速成長為電子制造業(yè)的核心器件之一,還獨立成為電子電力學科。

3bd539ac-8e3d-11eb-8b86-12bb97331649.png

作為電能/功率處理的核心器件,功率半導體器件主要用于電力設備的電能變換和電路控制,更是弱電控制與強電運行之間的溝通橋梁,主要作用是變頻、變壓、變流、功率放大和功率管理,對設備正常運行起到關鍵作用。

與此同時,功率半導體器件還具有綠色節(jié)能功能,被廣泛應用于幾乎所有的電子制造業(yè),目前使用領域正從傳統(tǒng)工業(yè)制造和4C產業(yè)向新能源、電力機車、智能電網等領域發(fā)展。

3c5ae444-8e3d-11eb-8b86-12bb97331649.png

隨著智能電網、汽車電氣化等應用領域的發(fā)展,功率半導體器件逐漸往高壓、高頻方向發(fā)展,功率分立器件的演進路徑基本為二極管→晶閘管→MOSFETIGBT,其中,IGBT是功率半導體新一代中的典型產品。

在半導體功率器件行業(yè)突飛猛進的同時,對應的測試行業(yè)也得到了飛速的發(fā)展。

眾所周知,一顆消費電子芯片最終做到終端產品上,一般需要經過芯片設計、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝等這些環(huán)節(jié)。

其中測試部分主要分三大類:芯片功能測試、性能測試、可靠性測試,芯片產品要上市三大測試缺一不可。

功能測試,是測試芯片的參數(shù)、指標、功能,用人話說就是看你十月懷胎生下來的寶貝是騾子是馬拉出來遛遛。

性能測試,由于芯片在生產制造過程中,有無數(shù)可能的引入缺陷的步驟,即使是同一批晶圓和封裝成品,芯片也各有好壞,所以需要進行篩選。

可靠性測試,芯片通過了功能與性能測試,得到了好的芯片,但是芯片是否容易被靜電弄壞,在雷雨天、三伏天、風雪天能否正常工作,以及芯片能用一個月、一年還是十年等等,這些都要通過可靠性測試進行評估。

測試方法包括板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試等,多策并舉。

而半導體功率器件,從研發(fā),生產,后期使用,甚至產品維修都需要進行相應的電參數(shù)測試。

那功率器件具體都要進行哪些測試呢?

(1) 靜態(tài)參數(shù)測試:最基本的測試項目,可簡單的評估器件的性能好壞。

各種靜態(tài)參數(shù)為使用者可靠選擇器件提供了非常直觀的參考依據、同時在變頻器,焊機,軌道交通中的功率器件檢測維修,發(fā)揮了至關重要的作用。

(2)動態(tài)參數(shù)測試:動態(tài)參數(shù)的優(yōu)良決定著器件的開關性能。

通常我們希望功率半導體器件的開關速度盡可能得高、開關過程短、損耗小。但是在實際應用中,影響開關特性的參數(shù)有很多,如續(xù)流二極管的反向恢復參數(shù),柵極/漏極、柵極/源極及漏極/源極電容、柵極電荷的存在,所以針對于此類參數(shù)的測試,變得尤為重要。開關特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性。直接影響變換器的性能。因此準確的測量功率半導體器件的開關性能具有極其重要的意義。

(3)極限能力測試:如浪涌電流測試,雪崩能量測試。

浪涌電流是指電源接通瞬間或是在電路出現(xiàn)異常情況下產生的遠大于穩(wěn)態(tài)電流的峰值電流或過載電流。雪崩耐量即向半導體的接合部施加較大的反向衰減偏壓時,電場衰減電流的流動會引起雪崩衰減,此時元件可吸收的能量稱為雪崩耐量。

(4)老化可靠性壽命測試:為了保證產品的耐久性能,也就是產品使用的壽命。半導體功率器件廠家在產品定型前都會做一系列的可靠性試驗,以確保產品的長期耐久性能。

陜西開爾文測控技術有限公司成立于 2012 年,位于西安市高新區(qū)發(fā)展大道26號,是國內自主研發(fā)高端大功率新型半導體器件測試系統(tǒng)及測試技術服務的高新技術企業(yè),致力于新型器件(SiC, GaN,石墨烯等)材料分析、元器件檢測、可靠性評測、系統(tǒng)功能驗證等服務。

目前,測試系統(tǒng)及測試技術服務已深入國內各大院校、航天、航空、兵器、中船、電子行業(yè)等,尤其是電力設備、電動汽車、軌道交通領域的動力車組和運用大功率半導體器件進行設計、制造等行業(yè),得到了廣泛的應用。

此外,公司依托CASA(第三代半導體產業(yè)聯(lián)盟) ,聯(lián)合西安電子科技大學,中科院微電子所等高校研究院所,成立新型半導體器件研究實驗室,致力于中國第三代新型( SiC GaN石墨烯)器件測試、可靠性實驗、材料分析等服務,同時兼顧現(xiàn)有Si基產品相關實驗。目前,公司已通過CNAS實驗室認證。

公司自成立以來,以技術強項和高端產品的實力,獲得了7項軟件著作權登記證書、11項實用新型專利,通過了陜西省民營科技企業(yè)認證、西安市民營科技企業(yè)認證、獲得了技術貿易資格認證、通過了ISO14001環(huán)境管理體系認證、OHSAS18001職業(yè)健康安全管理體系認證、ISO9001質量管理體系認證,通過了陜西省高新企業(yè)認證,并在2016年,以《高速特大功率半導體器件IGBT測試系統(tǒng)》列入陜西省科技廳戰(zhàn)略性新興產業(yè)重大產品項目,項目編號2016KTCQ01-31。

公司主營產品

靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、可靠性參數(shù)測試系統(tǒng)、靜態(tài)參數(shù)測試適配器、靜態(tài)參數(shù)測試夾具、測試軟件、SiC/GaN全系列電參數(shù)測試系統(tǒng)、CNAS實驗室測試服務、新型材料、器件研發(fā)。

碳化硅器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

半導體分立器件測試系統(tǒng)

IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

4589f9ec-8e3d-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

特大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試與分析系統(tǒng)

46e71266-8e3d-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

碳化硅器件浪涌電流測試系統(tǒng)

功率器件流水線全靜態(tài)參數(shù)自動測試系統(tǒng)

482f4c88-8e3d-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

少子壽命測試儀

486b6880-8e3d-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

責任編輯:lq

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 芯片
    +關注

    關注

    463

    文章

    54466

    瀏覽量

    469763
  • 功率半導體
    +關注

    關注

    23

    文章

    1516

    瀏覽量

    45291
  • 核心器件
    +關注

    關注

    0

    文章

    41

    瀏覽量

    5634

原文標題:功率半導體器件測試分哪些?和消費電子芯片測試有什么區(qū)別?

文章出處:【微信號:wc_ysj,微信公眾號:旺材芯片】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    功率器件的壽命評估

    功率器件,工業(yè)的CPU,其工業(yè)應用非常廣泛,如電源管理(開關電源、逆變器)、電驅動(變頻器)、醫(yī)療設備(醫(yī)用電源、醫(yī)用動力)、工業(yè)自動化、軌道交通,新能源(光伏、風電、新能源汽車)、電力傳輸?shù)鹊戎T多
    的頭像 發(fā)表于 04-28 17:55 ?938次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>的壽命評估

    為什么大廠產品出貨前都要進行老化測試?

    在電源制造、電子設備生產及質量管控領域,老化測試設備是保障產品可靠性、剔除早期失效、實現(xiàn)出廠品質閉環(huán)的核心裝備。
    的頭像 發(fā)表于 04-03 11:16 ?92次閱讀
    為什么大廠產品出貨前<b class='flag-5'>都要</b><b class='flag-5'>進行</b>老化<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>呢</b>?

    如何使用源表對元器件的IV曲線進行測試?

    適配器、LED、半導體芯片等器件的研發(fā)、生產與質檢環(huán)節(jié)。 ? 電阻 想要完成電子元器件的IV曲線測試,我們首先要確定使用的設備??勺冸娮?、二極管、三極管等器件的IV曲線
    的頭像 發(fā)表于 01-05 17:32 ?1607次閱讀
    如何使用源表對元<b class='flag-5'>器件</b>的IV曲線<b class='flag-5'>進行</b><b class='flag-5'>測試</b>?

    功率放大器如何助力電磁測試領域研究

    的“肌肉”,它將信號源(“大腦”)發(fā)出的微弱指令信號,放大到足以驅動發(fā)射天線或傳感器(“拳頭”)的強大能量,從而能夠有效地進行測試和研究。 以下是功率放大器如何具體助力電磁
    的頭像 發(fā)表于 12-30 10:47 ?330次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b>放大器如何助力電磁<b class='flag-5'>測試</b>領域研究

    如何在模型在環(huán)測試中高效進行故障注入測試

    汽車測試領域,在模型測試階段進行故障注入,是保障汽車安全性、可靠性的關鍵手段。如何提高故障注入測試的效率?
    的頭像 發(fā)表于 12-10 13:51 ?1387次閱讀
    如何在模型在環(huán)<b class='flag-5'>測試</b>中高效<b class='flag-5'>進行</b>故障注入<b class='flag-5'>測試</b>

    季豐電子功率器件動態(tài)老化測試能力介紹

    DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關鍵內容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關不穩(wěn)定性,DRB評估
    的頭像 發(fā)表于 11-19 11:19 ?1013次閱讀
    季豐電子<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>動態(tài)老化<b class='flag-5'>測試</b>能力介紹

    半導體器件的通用測試項目都有哪些?

    隨著新能源汽車、光伏儲能以及工業(yè)電源的迅速發(fā)展,半導體器件在這些領域中的應用也愈發(fā)廣泛,為了提升系統(tǒng)的性能,半導體器件系統(tǒng)正朝著更高效率、更高功率密度和更小體積的方向快速發(fā)展。對于半導體器件
    的頭像 發(fā)表于 11-17 18:18 ?2922次閱讀
    半導體<b class='flag-5'>器件</b>的通用<b class='flag-5'>測試</b>項目都有哪些?

    基于Moku的功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng):精準、高效、經濟的一體化測試方案

    摘要隨著SiC、GaN等新型功率器件的廣泛應用,功率器件動態(tài)參數(shù)測試對系統(tǒng)響應速度、同步精度和靈活性提出了更高要求。本文基于LiquidIn
    的頭像 發(fā)表于 10-31 14:09 ?678次閱讀
    基于Moku的<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>動態(tài)參數(shù)<b class='flag-5'>測試</b>系統(tǒng):精準、高效、經濟的一體化<b class='flag-5'>測試</b>方案

    如何正確選購功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)測試機?

    級間耐壓、源極漏級間漏電流、寄生電容(輸入電容、轉移電容、輸出電容),以及以上參數(shù)的相關特性曲線的測試。作為功率器件測試的第一步,在選購功率
    的頭像 發(fā)表于 08-05 16:06 ?976次閱讀
    如何正確選購<b class='flag-5'>功率</b>半導體<b class='flag-5'>器件</b>靜態(tài)參數(shù)<b class='flag-5'>測試</b>機?

    功率器件測量系統(tǒng)參數(shù)明細

    輸出與測量能力,滿足最苛刻的功率器件靜態(tài)、動態(tài)參數(shù)測試需求 選型指南: 應用領域 晶圓級測試(Chip Probing):在研發(fā)階段快速篩選器件
    發(fā)表于 07-29 16:21

    半導體分立器件測試的對象與分類、測試參數(shù),測試設備的分類與測試能力

    半導體分立器件測試是對二極管、晶體管、晶閘管等獨立功能半導體器件的性能參數(shù)進行系統(tǒng)性檢測的過程,旨在評估其電氣特性、可靠性和適用性。以下是主要測試
    的頭像 發(fā)表于 07-22 17:46 ?1236次閱讀
    半導體分立<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>測試</b>的對象與分類、<b class='flag-5'>測試</b>參數(shù),<b class='flag-5'>測試</b>設備的分類與<b class='flag-5'>測試</b>能力

    利用普源示波器進行功率器件動態(tài)特性測試的研究

    深度等優(yōu)點,在功率器件動態(tài)特性測試中具有廣泛的應用前景。本文旨在研究利用普源示波器進行功率器件
    的頭像 發(fā)表于 06-12 17:03 ?799次閱讀
    利用普源示波器<b class='flag-5'>進行</b><b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>動態(tài)特性<b class='flag-5'>測試</b>的研究

    泰克科技功率器件雙脈沖測試解決方案

    在當今快速發(fā)展的電力電子技術領域,功率半導體器件的性能優(yōu)化至關重要。雙脈沖測試(DPT)作為一種關鍵的測試方法,為功率
    的頭像 發(fā)表于 06-05 11:37 ?1598次閱讀
    泰克科技<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>雙脈沖<b class='flag-5'>測試</b>解決方案

    新型功率器件的老化測試方法

    隨著技術的不斷進步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優(yōu)異的性能被廣泛應用于各種電子設備中。然而,這些器件在長期連續(xù)使用后會出現(xiàn)老化現(xiàn)象,導致性能退化。如何在短時間內準確評估這些
    的頭像 發(fā)表于 06-03 16:03 ?2024次閱讀
    新型<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>的老化<b class='flag-5'>測試</b>方法

    功率器件開關功耗測試詳細步驟 HD3示波器輕松搞定MOSFET開關損耗測試

    功率器件(MOSFET/IGBT) 是開關電源最核心的器件同時也是最容易損壞的器件之一。在開關電源設計中,功率
    發(fā)表于 05-14 09:03 ?1668次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>開關功耗<b class='flag-5'>測試</b>詳細步驟 HD3示波器輕松搞定MOSFET開關損耗<b class='flag-5'>測試</b>
    屏东市| 肥西县| 临邑县| 伊通| 萨嘎县| 河津市| 景德镇市| 汕尾市| 焦作市| 平和县| 南平市| 铜梁县| 合水县| 平谷区| 新河县| 金坛市| 湘潭市| 临邑县| 舞钢市| 青田县| 潜山县| 平谷区| 栾城县| 临漳县| 玛曲县| 昆山市| 海南省| 靖州| 睢宁县| 扎兰屯市| 丹凤县| 邯郸市| 铁岭县| 怀宁县| 扶风县| 沐川县| 永新县| 唐海县| 兴业县| 崇义县| 富民县|