我經(jīng)常感到的奇怪的是，我們的行業(yè)為什么不在加快氮化鎵 (GaN) 晶體管的部署和采用方面加大合作力度；畢竟，大潮之下，沒人能獨(dú)善其身。每年，我們都看到市場(chǎng)預(yù)測(cè)的前景不太令人滿意。通過共同努力，我們能夠大大增加這項(xiàng)高能效技術(shù)的市場(chǎng)滲透能力。

如果GaN取得勝利，我們都是贏家。世界范圍內(nèi)的能效只需提高1%就足以關(guān)閉45個(gè)火力發(fā)電廠。在我們的日常生活中，我們已經(jīng)目睹了GaN技術(shù)的部署和采用—在幾個(gè)月之前，有些事情我還不太明白，直到我女兒?jiǎn)栁褿aN長(zhǎng)得什么樣子時(shí)，我才意識(shí)到，在家中的節(jié)日彩燈中有數(shù)百個(gè)GaN：GaN LED。

一個(gè)很不錯(cuò)的合作主題就是GaN可靠性。即使GaN晶體管現(xiàn)在通過了傳統(tǒng)硅質(zhì)量檢測(cè)應(yīng)力測(cè)試，或被稱為“qual”，它的部署和采用仍然很慢。由于它是基于硅材料的，“qual”并不能提振低用戶對(duì)于投入回報(bào)的信心。雖然通過“qual”測(cè)試對(duì)于器件的生產(chǎn)制造、質(zhì)量和可靠性具有里程碑式的意義，但還不清楚它在器件使用壽命、故障率和應(yīng)用相關(guān)性方面對(duì)GaN晶體管具有怎樣的意義。開發(fā)人員有多種選擇，即使硅材料解決方案體積更大且能耗更高，但是它們已經(jīng)過了測(cè)試。

對(duì)于采用GaN的開發(fā)人員來說，他們需要對(duì)這一部件有信心，相信它們?cè)陬A(yù)期的使用壽命內(nèi)能夠在應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健耐用運(yùn)行。在TI，我們始終在深入思考這意味著什么，并將其歸結(jié)為圖1中所表示的2個(gè)項(xiàng)目。首先，傳統(tǒng)硅技術(shù)方法需要針對(duì)GaN和其故障模式進(jìn)行拓展。第二，應(yīng)力測(cè)試需要包括電源管理的開關(guān)條件，而這是傳統(tǒng)硅材料qual測(cè)試無法解決的。

當(dāng)一個(gè)行業(yè)攜起手來共同開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，這些標(biāo)準(zhǔn)就被認(rèn)為是可信的。預(yù)測(cè)性的可靠性標(biāo)準(zhǔn)需要對(duì)技術(shù)和其故障模式的深入了解；以及在測(cè)試、質(zhì)量鑒定和產(chǎn)品運(yùn)行方面的知識(shí)。預(yù)測(cè)性標(biāo)準(zhǔn)的優(yōu)勢(shì)在于極大加快了市場(chǎng)普及，而第一步就是意識(shí)到現(xiàn)有技術(shù)的不足和缺陷。

我首先在一份白皮書中（一個(gè)鑒定GaN產(chǎn)品可靠性的綜合方法）對(duì)這個(gè)問題進(jìn)行說明。這份白皮書引發(fā)了業(yè)內(nèi)的討論，這也促使我們將這個(gè)對(duì)話延續(xù)下去，我們?cè)诮衲?月召開的應(yīng)用電力電子會(huì)議 (APEC) 上提交了一份行業(yè)對(duì)話論文，并且接受IEEE國(guó)際可靠性物理學(xué)討論會(huì) (IRPS) 技術(shù)委員會(huì)的邀請(qǐng)。我們希望本次對(duì)話能夠進(jìn)一步擴(kuò)展至工作組層面，并且在其他人也針對(duì)這個(gè)重要話題發(fā)表看法時(shí)拓展工業(yè)領(lǐng)域的協(xié)作。

TI正在通過可靠且可信賴的GaN產(chǎn)品努力打造一個(gè)能效更高的未來，將數(shù)年的硅制造專業(yè)知識(shí)和先進(jìn)器件開發(fā)才能引入到GaN中。TI一直充分利用我們現(xiàn)有的生產(chǎn)制造基礎(chǔ)設(shè)施和能力，使我們的600V GaN工藝符合要求。為了確?？煽啃院头€(wěn)健耐用性，在對(duì)我們的器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們所使用的GaN特定測(cè)試方法遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了傳統(tǒng)硅質(zhì)量鑒定做法。

借助于合格的器件，電源設(shè)計(jì)人員能夠?qū)崿F(xiàn)GaN的滿功率運(yùn)行，打破市場(chǎng)普及阻礙，而最為重要的一點(diǎn)是，使我們有可能生活在一個(gè)能效更高的世界中。

審核編輯：何安