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加速逆光刻技術(shù)克服邏輯和鑄造生產(chǎn)環(huán)境挑戰(zhàn)

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:NVIDIA ? 作者:NVIDIA ? 2022-05-13 15:25 ? 次閱讀
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逆光刻技術(shù)( ILT )于 2003 年初首次實施并演示。它由彭丹平( Danping Peng )創(chuàng)建,當時他在發(fā)光科技公司( Leaming Technologies Inc 。)擔任工程師。這是一家初創(chuàng)公司,由加州大學(xué)洛杉磯分校( UCLA )的斯坦利·奧謝爾( Stanley Osher )和埃利·亞博諾維奇( Eli Yabonovitch )教授以及企業(yè)家丹·艾布拉姆斯( Dan Abrams )和杰克·赫里克( Jack 。

當時, ILT 是一個革命性的解決方案,它顯示出比光刻圖案化中使用的傳統(tǒng)曼哈頓掩模形狀優(yōu)越得多的工藝窗口。與直線形狀的曼哈頓面具不同, ILT 的優(yōu)勢在于其曲線面具形狀。

在其發(fā)展之后, ILT 被證明是一種可行的光刻技術(shù),可以在多家內(nèi)存和邏輯鑄造廠進行實際的晶圓印刷。然而,技術(shù)和經(jīng)濟因素阻礙了 ILT 的采用:

ILT 口罩的計算時間非常長,比傳統(tǒng)的曼哈頓口罩長 10 倍以上。

當 ILT 生成基于模型的輔助特征時,它還遇到了一些瓷磚邊界的縫合問題。

ILT 掩模文件的大小非常大(比傳統(tǒng)掩模文件大 6-7 倍),因此使用可變形狀光束( VSB )寫入器進行寫入需要很長時間。

ASML 推出了具有更好焦點和劑量控制的浸入式光刻掃描儀,使用傳統(tǒng)的曼哈頓掩模可以滿足制造需求。

由于這些原因, ILT 的使用主要用于單元陣列打印的內(nèi)存鑄造廠和邏輯鑄造廠作為熱點修復(fù),或用于基準測試和改進傳統(tǒng)的光學(xué)鄰近校正( OPC )。

ILT 的現(xiàn)狀

快進到 20 年后的今天,半導(dǎo)體的前景就不同了。在 7nm 及以下的圖形特征尺寸方面的挑戰(zhàn)要求更高的精度和工藝余量。因此,在 ILT 中生產(chǎn)曲線掩模形狀的能力對于克服這些晶圓生產(chǎn)限制變得越來越關(guān)鍵。

如今,在 GPU 光刻模擬方面取得的進步比傳統(tǒng) CPU 計算的速度提高了 10 倍以上,機器學(xué)習( ML )通過學(xué)習現(xiàn)有解決方案,進一步加快了 ILT 模型的速度。

多波束掩模寫入器還可以在固定時間內(nèi)寫入任何復(fù)雜度的掩模,并已成功應(yīng)用于 HVM 。

最后,下一代光刻掃描儀變得越來越昂貴,因此通過 ILT 從現(xiàn)有掃描儀中提取價值和性能是一個更具吸引力的選擇。

通過 GPU 計算和 ML ,為全芯片應(yīng)用部署 ILT 正在成為現(xiàn)實。它有望在推動掩模圖案和缺陷檢測技術(shù)的前沿領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。

克服邏輯和鑄造生產(chǎn)環(huán)境中采用 ILT 的挑戰(zhàn)

要在 logic foundry 環(huán)境中成功使用 ILT ,必須解決阻止其大規(guī)模采用的問題:

計算時間長

特定于曲線 OPC 的掩碼規(guī)則檢查

較大的布局文件大小

計算時間長

由于曲線掩模形狀的復(fù)雜性, ILT 需要較長的計算時間。幸運的是, GPU 計算性能和深度學(xué)習( DL )的最新進展顯著減少了解決這些復(fù)雜計算算法所需的時間。

特定于曲線 OPC 的掩碼規(guī)則檢查

其次,必須解決特定于曲線 OPC 的掩模規(guī)則檢查( MRC ),因為掩模車間需要一種驗證傳入掩模數(shù)據(jù)是否可制造的方法。對于曲線遮罩形狀尤其如此,因為它們比直線遮罩形狀更難驗證,因為簡單的寬度和空間檢查不再適用于曲線遮罩。

為了解決 MRC 問題,業(yè)界正在趨同于使用簡化規(guī)則,例如最小 CD /空間、孔和島的最小面積,以及遮罩邊緣的平滑度(曲率上限)。

較大的布局文件大小

最后,與傳統(tǒng)的直線形狀相比, ILT 生成的布局文件大小大得令人無法接受。尺寸的增加意味著制造業(yè)中數(shù)據(jù)生成、存儲、傳輸和使用的成本顯著增加。

EDA 解決方案

為了解決這個問題, EDA 供應(yīng)商提出了各種解決方案,并成立了一個工作組,研究由所有利益相關(guān)者( EDA 供應(yīng)商、工具供應(yīng)商和鑄造廠)支持的通用文件格式。

GPU + DL: 使用 GPU 解決 ILT 挑戰(zhàn)的理想解決方案

我們與 EDA 供應(yīng)商和 NVIDIA 的密切合作,形成了自主開發(fā)的 ILT 解決方案。使用 NVIDIA GPU 平臺,我們使用 NVIDIA SDK 和庫成功移植了大部分仿真和 ILT 引擎:

接近

卡夫特

庫索爾弗

NVPR :使用 OpenGL 擴展的 NVIDIA 路徑渲染

Optix RT 計算

還有更多

在 NVIDIA V100 32-GB GPU 上,我們演示了與典型的 CPU 運行相比, ILT 計算的加速超過 10 倍。在光學(xué)和抗蝕劑建模的許多關(guān)鍵組件中,我們看到了超過 20 倍的加速。

令人鼓舞的結(jié)果導(dǎo)致了進一步的發(fā)展。目前,我們正在 NVIDIA A100 80-GB GPU 集群上使用內(nèi)部 ILT 引擎對關(guān)鍵層進行生產(chǎn)規(guī)模校準和測試。

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圖 1 GPU 使用內(nèi)部 ILT 發(fā)動機加速

ILT 的未來機遇

先進的芯片設(shè)計越來越依賴昂貴的模擬:從電路性能和時序到散熱。說到制造業(yè), OPC / ILT 需要大量的計算能力,隨著我們向下一個節(jié)點的快速推進,計算能力預(yù)計會增加。

與黃定律中的觀察結(jié)果一致,將 HPC 與 GPU 以及整個軟件堆棧一起使用,將是按時成功推出下一代芯片的關(guān)鍵組成部分。更具體地說, HPC +渲染(計算機圖形學(xué))+ ML / DL 的統(tǒng)一加速體系結(jié)構(gòu)將使更好的芯片得以設(shè)計和制造,從而有助于提高掩模圖案和缺陷檢測應(yīng)用的速度和效率。

換句話說,這是一個使用 GPU 來更快更好地設(shè)計 GPU 的迭代過程。

為了在 HVM 中快速采用 ILT 口罩,所有利益相關(guān)者必須參與合作和協(xié)作。

EDA 供應(yīng)商應(yīng)確保其 OPC 模擬和校正引擎能夠生成符合標準掩模規(guī)則的曲線掩模設(shè)計,并將其輸出為可接受的文件大小和格式。

掩模數(shù)據(jù)準備( MDP )供應(yīng)商應(yīng)調(diào)整其系統(tǒng)以處理這些曲線掩模數(shù)據(jù)。

面具檢查和審查工具供應(yīng)商應(yīng)升級其系統(tǒng)和算法,以檢查、建模和檢測任何潛在缺陷。

毫無疑問,曲線 ILT 掩模設(shè)計為電路設(shè)計師提供了更大的自由度和創(chuàng)造力,以創(chuàng)建性能更好的電路,同時通過大大簡化的設(shè)計規(guī)則實現(xiàn)更好的工藝裕度。使用曲線設(shè)計的好處將對半導(dǎo)體行業(yè)產(chǎn)生重大影響, ILT 將是未來工藝節(jié)點發(fā)展的關(guān)鍵促成因素。

關(guān)于作者

Danping Peng在北京大學(xué)獲得理學(xué)學(xué)士和碩士學(xué)位,在加州大學(xué)洛杉磯分校獲得博士學(xué)位,全部為應(yīng)用數(shù)學(xué)。在加州大學(xué)洛杉磯分校,他在 Stanley Osher 教授的指導(dǎo)下研究了水平集方法的算法及其在移動邊界問題中的應(yīng)用。

Srinivas Kodiyalam 是 NVIDIA 工業(yè) HPC & AI 團隊的高級 DevRel 經(jīng)理。他在加州大學(xué)圣巴巴拉分校獲得機械工程博士學(xué)位。他目前專注于工業(yè) HPC 工作負載和應(yīng)用程序。在加入 NVIDIA 之前,斯里尼瓦斯曾在通用電氣研發(fā)中心和洛克希德·馬丁航天系統(tǒng)公司從事產(chǎn)品工程和開發(fā)工作;在 MSC 軟件公司從事軟件開發(fā),并擔任工程軟件公司的首席技術(shù)官(由達索系統(tǒng)公司收購);在 SGI 和 NetApp 的 HPC 和存儲領(lǐng)域。斯里尼瓦斯是美國航空航天學(xué)會( AIAA )的副研究員。

Andrew Liu 是 NVIDIA 的高級解決方案架構(gòu)師,幫助客戶構(gòu)建基于 NVIDIA 技術(shù)的創(chuàng)新解決方案。他的研究興趣是將機器學(xué)習算法應(yīng)用于現(xiàn)實問題。在加入 NVIDIA 之前,安德魯是富士康的一名機器學(xué)習工程師。他帶領(lǐng)分析團隊,圍繞制造過程開發(fā)了各種預(yù)測建模項目,包括缺陷檢查和預(yù)測性維護等。在博士項目期間,他在洛斯阿拉莫斯國家實驗室的生物科學(xué)團隊擔任訪問學(xué)者,致力于人類和環(huán)境微生物項目。

審核編輯:郭婷

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