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應用材料公司全新系統可改進晶體管布線沉積工藝

半導體芯科技SiSC ? 來源:半導體芯科技SiSC ? 作者:半導體芯科技SiS ? 2022-06-02 15:50 ? 次閱讀
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加利福尼亞州圣克拉拉——應用材料公司宣布推出一種全新系統,可改進晶體管布線沉積工藝,從而大幅降低電阻,突破了芯片在性能提升和功率降低兩方面所面臨的重大瓶頸。

Endura? Ioniq? PVD系統是應用材料公司在解決二維微縮布線電阻難題方面所取得的最新突破。Ioniq系統是一種集成材料解決方案?(IMS?),可將表面制備、PVD和CVD工藝同時集中到同一個高真空系統中。

芯片制造商正在利用光刻領域的先進技術將芯片制程縮小至3納米及以下節(jié)點。但隨著互連線變細,電阻呈現指數級上升,這不僅降低了芯片性能,還增大了功耗。如果該問題無法得到解決,更為先進的晶體管帶來的益處將被指數級上升的布線電阻完全抵消。

芯片布線一般指沉積金屬在介電材料上被刻蝕出的溝槽和通孔內的過程。在傳統工藝中,布線沉積使用的金屬疊層通常由以下幾部分構成:阻擋層用于防止金屬與介電材料擴散;襯墊層用于提升粘附力;種子層用于促進金屬填充;以及導電金屬,例如鎢或鈷用于晶體管觸點,銅用于互連線。因為阻擋層和襯墊層很難微縮,所以當溝槽和通孔尺寸減小時,可用于導電材料的空間比例隨之降低——互連線越小,電阻越高。

應用材料公司Endura? Ioniq? PVD系統

Ioniq PVD system是一種集成材料解決方案?(IMS?),可將表面制備、PVD和CVD工藝同時集中到同一個高真空系統中。Ioniq PVD給芯片制造商提供了用低阻值的純鎢PVD膜取代高阻值的氮化鈦襯墊層和阻擋層的方案,配合后續(xù)的純鎢CVD膜制成純鎢的金屬觸點。該方案解決了電阻難題,讓二維微縮得以繼續(xù)作用于3納米及以下節(jié)點。

應用材料公司半導體產品事業(yè)部高級副總裁兼總經理珀拉布?拉賈博士表示:“應用材料公司在解決電阻難題方面所取得的最新突破,是一個材料工程創(chuàng)新使得二維微縮得以延續(xù)的絕佳范例。創(chuàng)新的Ioniq PVD系統打破了晶體管性能提升所面臨的一個重大瓶頸,使其在運行速度更快的同時降低了功率損失。隨著芯片復雜度的提升,在高真空中集成多個工藝的能力對于客戶改進布線以達到其性能和功率的目標來說至關重要?!?/p>

Endura Ioniq PVD系統現已被全球多家行業(yè)領先的客戶使用。如需了解更多有關該系統的信息或者其它用于解決關鍵布線和互連難題的應用材料公司解決方案,請關注應用材料公司在美國時間5月26日舉辦的“芯片布線和集成的新方法”大師課。

關于應用材料公司

應用材料公司(納斯達克:AMAT)是材料工程解決方案的領導者,全球幾乎每一個新生產的芯片和先進顯示器的背后都有應用材料公司的身影。憑借在規(guī)模生產的條件下可以在原子級層面改變材料的技術,我們助力客戶實現可能。應用材料公司堅信,我們的創(chuàng)新實現更美好的未來。欲知詳情,請訪問www.appliedmaterials.com。

近期會議

2022年7月5日,由ACT雅時國際商訊主辦,《半導體芯科技》&CHIP China晶芯研討會將在蘇州·洲際酒店隆重舉行!屆時業(yè)內專家將齊聚蘇州,與您共探半導體制造業(yè),如何促進先進制造與封裝技術的協同發(fā)展。大會現已啟動預約登記,報名請點擊://w.lwc.cn/s/maymIv

2022年7月28日 The12th CHIP China Webinar,誠邀您與業(yè)內專家學者共探半導體器件檢測面臨的挑戰(zhàn)及應對、工藝缺陷故障、光學檢測特性分析與挑戰(zhàn)、先進封裝半導體檢測難點及應用等熱門話題,解鎖現代檢測技術的創(chuàng)新發(fā)展和機遇!

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《半導體芯科技》(Silicon Semiconductor China, SiSC)是面向中國半導體行業(yè)的專業(yè)媒體,已獲得全球知名雜志《Silicon Semiconductor》的獨家授權;本刊針對中國半導體市場特點遴選相關優(yōu)秀文章翻譯,并匯集編輯征稿、國內外半導體行業(yè)新聞、深度分析和權威評論、產品聚焦等多方面內容。由雅時國際商訊(ACT International)以簡體中文出版、雙月刊發(fā)行一年6期。每期紙質書12,235冊,電子書發(fā)行15,749,內容覆蓋半導體制造工藝技術、封裝、設備、材料、測試、MEMS、IC設計、制造等。每年主辦線上/線下 CHIP China晶芯研討會,搭建業(yè)界技術的有效交流平臺。

審核編輯:湯梓紅

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