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一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術(shù)的原理、采集及分辨率

jf_57082133 ? 來源:jf_57082133 ? 作者:jf_57082133 ? 2023-11-16 13:31 ? 次閱讀
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EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù),全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比,EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率,可以獲得亞微米級的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。

EBSD技術(shù)的主要特點(diǎn)是在保留掃描電子顯微鏡常規(guī)特征的同時,利用電子回旋衍射效應(yīng)對反射電子進(jìn)行衍射分析,以獲得晶體學(xué)信息。該技術(shù)不僅可以提供樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等信息,而且可以同時獲得晶粒尺寸和形貌等重要參數(shù)。因此,在材料科學(xué)領(lǐng)域,EBSD技術(shù)已成為不可或缺的工具,被廣泛應(yīng)用于材料結(jié)構(gòu)和性能的研究。

電子背散射衍射花樣(EBSD)

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在掃描電子顯微鏡(SEM)中,電子束入射到樣品上時,與樣品的相互作用會產(chǎn)生多種效應(yīng)。其中之一是電子在規(guī)則排列的晶格面上的衍射。所有晶面上的衍射構(gòu)成了所謂的“衍射圖樣”,它可以被認(rèn)為是晶體中原子平面之間的角度關(guān)系圖。

衍射花樣包含了晶系(如立方、六方等)的對稱性信息。此外,晶面和晶帶軸之間的夾角與晶系類型和晶體的晶格參數(shù)有直接對應(yīng)關(guān)系。這些數(shù)據(jù)可用于通過EBSD技術(shù)對晶相進(jìn)行鑒定。對于一個已知的晶相,衍射圖樣的取向直接對應(yīng)于晶體的取向。

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EBSD系統(tǒng)組成

為了實(shí)現(xiàn)EBSD技術(shù),我們需要一套系統(tǒng)設(shè)備,其基本要求包括掃描電子顯微鏡和EBSD系統(tǒng)。

該系統(tǒng)設(shè)備的核心是掃描電子顯微鏡,它產(chǎn)生高能電子束并將其聚焦于樣品表面。EBSD系統(tǒng)的硬件部分通常由一個敏感的CCD攝像機(jī)和一個圖像處理系統(tǒng)組成。CCD相機(jī)用于捕獲掃描電子顯微鏡產(chǎn)生的反射電子圖像。圖像處理系統(tǒng)用于對圖像進(jìn)行模式平均和背景相減,提取清晰的衍射圖樣。


通過該系統(tǒng)和設(shè)備,EBSD技術(shù)可以獲得精確的衍射圖樣數(shù)據(jù),進(jìn)而分析晶體的結(jié)構(gòu)和取向。這為材料研究提供了重要的工具和手段。

在掃描電子顯微鏡中,獲得電子背散射衍射圖樣的基本操作非常簡單。為了增強(qiáng)背散射(即衍射)信號,樣品相對于入射電子束以較大的角度傾斜。通過這種方式,EBSP信號被充分增強(qiáng)以被熒光屏拾取。該顯示屏與CCD攝像機(jī)相連,可直接在顯示屏上觀察EBSP,也可將圖像放大并存儲后在顯示屏上觀察。。軟件程序以最小的輸入量,就可以對圖形進(jìn)行校準(zhǔn),從而獲得晶體學(xué)信息。目前,最快的EBSD系統(tǒng)每秒可測量700~900個點(diǎn)。

現(xiàn)代的EBSD系統(tǒng)和探針可以同時安裝在掃描電子顯微鏡上。這意味著在快速獲得樣品取向信息的同時,還可以進(jìn)行成分分析。這使得研究人員能夠在同一臺設(shè)備上獲得更全面的樣品表征數(shù)據(jù)。

蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列

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作為高性能的掃描電子顯微鏡,蔡司掃描電鏡EVO系列可為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀目易操作的使用體驗。憑借豐富的選性,EVO可根據(jù)您的需求量身定制,無論是在生命科學(xué)、材料科學(xué),抑或是在日常工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域。

當(dāng)您配置多功能解決方案用于顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗室時,不同規(guī)格的樣品室和樣品臺選件可滿足您的各類應(yīng)用需求,即使是對于用掃描電子顯微鏡難以處理的大型工業(yè)部件和樣品,它也同樣能夠滿足您的需求。

選用可提供更高電子束亮度以增強(qiáng)圖像分辨率和降低噪聲的成熟技術(shù)六硼化瀾(aB)電子槍,讓掃描電子顯微鏡在最大圖像質(zhì)量下發(fā)揮出色的檢測性能。

借助可變壓力操作模式,讓您體驗EVO對非導(dǎo)電樣品出色的成像和分析安裝多種分析探測器的設(shè)計,EVO可協(xié)助您完成要求嚴(yán)苛的顯微分析應(yīng)用。

EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)材料科學(xué)或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域,憑借廣泛的可選配置EVO都可以根據(jù)您的要求量身定制

審核編輯:湯梓紅
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