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SemiQ推出采用SOT-1封裝的200,227V MOSFET

科技綠洲 ? 來源:powerelectronicsnews ? 作者:powerelectronicsnews ? 2023-11-26 16:40 ? 次閱讀
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為了擴(kuò)大QSiC SiC模塊的選擇范圍,SemiQ推出了一系列采用SOT-1封裝的200,227V MOSFET,可與或不與1,200V SiC肖特基二極管一起使用。

最近推出的 SemiQ SiC 模塊建立在高性能陶瓷的堅實基礎(chǔ)上,經(jīng)過精心設(shè)計,可在苛刻的環(huán)境下始終如一地運行,實現(xiàn)了異常高的性能水平。改進(jìn)的功能可實現(xiàn)更簡化的設(shè)計配置和更高的功率密度。高擊穿電壓 (> 1,400 V),高溫工作 (TJ= 175°C),以及在整個工作溫度范圍內(nèi)的低 Rds(On) 位移是 QSiC 模塊的所有特性。此外,它們還提供最長的柵極氧化層壽命和穩(wěn)定性、抗雪崩 (UIS) 和更長的短路耐受時間。

電動汽車充電、車載充電器 (OBC)、DC-DC 轉(zhuǎn)換器、電動壓縮機(jī)、燃料電池轉(zhuǎn)換器、醫(yī)療電源、儲能系統(tǒng)、太陽能和風(fēng)能系統(tǒng)、數(shù)據(jù)中心電源、UPS/PFC 電路以及其他汽車和工業(yè)電源應(yīng)用是新型 QSiC 模塊與我們現(xiàn)有的 SOT-227 SiC SBD 模塊結(jié)合使用的目標(biāo)市場。

為確保每個新的QSiC模塊都具有穩(wěn)定的柵極閾值電壓和高質(zhì)量的柵極氧化物,所有模塊都經(jīng)過晶圓級的柵極老化測試。除了有助于穩(wěn)定外在故障率的老化測試外,還進(jìn)行了包括高溫反向偏置 (HTRB) 漏極應(yīng)力、高濕度、高壓和高溫 (H3TRB) 漏極應(yīng)力在內(nèi)的應(yīng)力測試,以保證工業(yè)使用所需的質(zhì)量水平。

SemiQ 的新型 1,200V SOT-227 模塊提供 20 mΩ、40 mΩ 和 80 mΩ SiC MOSFET 尺寸。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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