12月1日，2023 MWS China將在上海嘉定喜來登酒店召開。本次峰會(huì)吸引了數(shù)百位來全球的半導(dǎo)體領(lǐng)先廠商及產(chǎn)業(yè)鏈領(lǐng)袖代表參與，他們將分享MEMS行業(yè)的前沿技術(shù)，深入探討未來發(fā)展趨勢，推動(dòng)行業(yè)創(chuàng)新與發(fā)展。
SPEA是全球自動(dòng)化測試設(shè)備的領(lǐng)先廠商，持續(xù)突破測試技術(shù)瓶頸，打造了一批尖端性能的產(chǎn)品組合，為慣性、環(huán)境、光線、磁性、聲學(xué)等MEMS傳感器的測試精度和性能樹立了新的標(biāo)桿。得益于深厚的技術(shù)底蘊(yùn)和持續(xù)的產(chǎn)品迭代，SPEA在中國乃至全球MEMS測試市場穩(wěn)居第一梯隊(duì)。
作為MWS China的贊助商，SPEA中國區(qū)總經(jīng)理孫女士受邀出席本次活動(dòng)，她將分享“賦能未來的晶圓級(jí)MEMS測試和MEMS（WLCSP）最終測試“的主題演講。

內(nèi)容概要

MEMS 測試在量產(chǎn)晶圓級(jí)解決方案方面正面臨著新的挑戰(zhàn)。一方面，很多因素證實(shí)，在封裝前進(jìn)行測試是有益的，最終會(huì)降低生產(chǎn)成本并加快上市時(shí)間。另一方面，可靠的 MEMS 和傳感器晶圓級(jí)測試不應(yīng)該局限于器件的電氣特性。
MEMS 器件的動(dòng)態(tài)測試需要新一代測試設(shè)備，能夠通過測量其非電氣表現(xiàn)來確定和分析器件的機(jī)械功能。用于MEMS器件的晶圓級(jí)傳感器測試的現(xiàn)場驗(yàn)證設(shè)備，諸如加速度計(jì)、陀螺儀、壓力傳感器、磁性傳感器等，有望被業(yè)界采納為標(biāo)準(zhǔn)。
另一項(xiàng)測試挑戰(zhàn)是，在消費(fèi)和汽車領(lǐng)域中 MEMS 傳感器和執(zhí)行器越來越多地采用晶圓級(jí)芯片規(guī)模封裝技術(shù) (WLCSP)。采用一套完整的解決方案進(jìn)行 WLCSP MEMS 器件的量產(chǎn)最終測試是非常必要的。此類設(shè)備必須滿足高吞吐量，能直接從薄膜框架上的切片晶片對(duì)器件進(jìn)行軟處理，對(duì)設(shè)備進(jìn)行三溫刺激和測試，測試后對(duì)卷軸進(jìn)行精加工。

本次演講將探討這些挑戰(zhàn)，提供可行的解決方案，提出開放性觀點(diǎn)和問題。歡迎大家在現(xiàn)場與SPEA交流互動(dòng)。