LED正在塑造改變我們的生活方式，從健康照明到電視、手機(jī)屏幕等顯示領(lǐng)域，從智能家居到交通建筑，LED為我們的生活帶來(lái)諸多便利和驚喜。在過(guò)去幾年中，全球LED市場(chǎng)持續(xù)旺盛，細(xì)分應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)一步擴(kuò)大，隨之而來(lái)的檢測(cè)需求也不斷增加。SPEA以領(lǐng)軍者的敏銳洞察力，迅速捕捉新興變化帶來(lái)的機(jī)遇，基于深厚的技術(shù)沉淀和產(chǎn)品創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)品牌前行。近期，SPEA推出T100L飛行掃描LED測(cè)試儀，為L(zhǎng)ED照明及顯示領(lǐng)域注入了新活力。

T100L飛行掃描LED測(cè)試儀適用于大批量LED生產(chǎn)測(cè)試。無(wú)論是測(cè)試照明產(chǎn)品、高密度LED面板或任何其他類(lèi)型的LED燈，T100L都可以幫助您識(shí)別缺陷、快速、精準(zhǔn)地測(cè)量多種燈光特性。

T100L內(nèi)置飛行掃描儀，無(wú)需使用昂貴復(fù)雜的光纖測(cè)試夾具。測(cè)試儀可以在一次采集中獲取并處理各個(gè)LED的參數(shù)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)不良、精確定位不良，推動(dòng)LED產(chǎn)線(xiàn)質(zhì)效提升。

T100L 主要應(yīng)用領(lǐng)域

• 汽車(chē)照明 - 大燈，尾燈，內(nèi)飾燈
• 工業(yè)照明 - 路燈、高棚燈和泛光燈
• 醫(yī)療和科學(xué)設(shè)備LED燈
• 航空航天應(yīng)用LED燈照明
• 消費(fèi)者照明 - 寫(xiě)字燈、臺(tái)燈和吸頂燈
• 適用于電視和電腦顯示器的高密度LED面板
• 適用于廣告和標(biāo)牌的LED標(biāo)志和顯示屏

多產(chǎn)品、無(wú)光纖測(cè)試夾具

帶來(lái)最大的靈活性并節(jié)省成本

傳統(tǒng)LED產(chǎn)品通常依賴(lài)復(fù)雜昂貴的光纖去測(cè)試單個(gè)LED，每個(gè)夾具可測(cè)試的產(chǎn)品類(lèi)型有限。

T100L的無(wú)光纖多產(chǎn)品測(cè)試夾具，可高度適配多種LED產(chǎn)品，無(wú)需考慮其形狀、布局和LED數(shù)量。這不僅有助于減少測(cè)試應(yīng)用成本，還可以提高效率和縮短上市時(shí)間，或?qū)⒊蔀長(zhǎng)ED產(chǎn)品批量生產(chǎn)測(cè)試的完美解決方案。

無(wú)與倫比的精度：寬光譜范圍和微點(diǎn)分析

T100L的飛行測(cè)試儀技術(shù)可為多種LED燈產(chǎn)品提供精確的診斷和深度分析。這款測(cè)試儀在可見(jiàn)光和近紅外光譜中覆蓋448個(gè)波段的寬闊光譜范圍，130μm x 130μm的分辨率，可在400-1.000nm的范圍內(nèi)精準(zhǔn)執(zhí)行燈光和色彩測(cè)試。

此外，該測(cè)試系統(tǒng)還提供微點(diǎn)測(cè)量和分析，通過(guò)對(duì)每個(gè)像素的光譜和光屬性進(jìn)行粒度級(jí)測(cè)試和分析，實(shí)現(xiàn)無(wú)與倫比的診斷功能。

更完整的燈光特性測(cè)試

T100L可以執(zhí)行廣泛的LED燈光測(cè)試，涵蓋燈光強(qiáng)度、顏色特性、光譜等測(cè)量，具有卓越的精確度和深度診斷水平，能確保燈光特性匹配不同應(yīng)用場(chǎng)景需求。

原創(chuàng)飛行掃描技術(shù)

實(shí)現(xiàn)高速采集、實(shí)時(shí)測(cè)試

T100L先進(jìn)的飛行掃描儀技術(shù)可以高效、快速地采集各種LED照明產(chǎn)品的光線(xiàn)。測(cè)試儀可配置 4 個(gè)飛行頭（2 個(gè)頂部 + 2 個(gè)底部），每個(gè)飛行頭最多配備 2 個(gè)獨(dú)立 XY軸飛行掃描儀，可獲取整個(gè)被測(cè)物體表面的光圖像。飛行掃描儀的掃描光束寬度高達(dá)240mm，這項(xiàng)飛行掃描技術(shù)可以測(cè)試最先進(jìn)的 LED 產(chǎn)品參數(shù)，包括 mini-LED 和多 LED器件。

200mm/s的高速掃描可實(shí)現(xiàn)多光源的并行采集，帶來(lái)更快速、更精準(zhǔn)的測(cè)試程序。此外，飛行掃描儀技術(shù)可以進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試，測(cè)試儀可處理和分析采集到的每個(gè)光源光譜。