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樣品階段如何驗(yàn)證CS創(chuàng)世SD NAND是否滿足要求

jim ? 來源:雷龍發(fā)展 ? 作者:雷龍發(fā)展 ? 2024-09-18 18:07 ? 次閱讀
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對(duì)于SD NAND來說,一般可以從以下幾個(gè)方面來考量:

兼容性,

功能性,

性能,

穩(wěn)定性,

對(duì)于這四個(gè)方面,我們分別展開來說:

1.兼容性,對(duì)于SD NAND來說,雖然協(xié)議是標(biāo)準(zhǔn)的,但是不同的主控芯片,對(duì)于協(xié)議的時(shí)序理解也會(huì)有不一樣,所以HOST端的發(fā)送信號(hào)的判定點(diǎn) 或者 發(fā)送信號(hào)的判定點(diǎn)也會(huì)有不一樣,對(duì)于這樣的情況,可以用多塊板子來跑讀寫測試,看看是否會(huì)出現(xiàn),有的能正常識(shí)別,讀寫,有的不行的情況,或者同一個(gè)板子,有時(shí)候能正常讀寫,有時(shí)候無法正常讀寫的情況。

如果碰到這樣的情況,也可以把板子和存儲(chǔ)芯片一起寄給雷龍公司,進(jìn)行邏輯的抓取,判斷問題發(fā)生的原因。

2.功能性,對(duì)于SD NAND來說,就是讀和寫。存儲(chǔ)產(chǎn)品的功能就是保存數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù)。如果是raw NAND或者SPI NAND還是涉及擦除,但是SD NAND不需要擦除,如果要修改原來的數(shù)據(jù),直接覆蓋寫就可以。

對(duì)于讀取驗(yàn)證,可以先寫滿存儲(chǔ)單元,再對(duì)于將寫入的數(shù)據(jù),按照一定的方式讀取出來,并且跟原來寫入的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比測試。讀取的方式可以根據(jù)客戶的具體產(chǎn)品,存儲(chǔ)的具體內(nèi)容來,類似圖片或者音頻文件,都是大段大段的數(shù)據(jù),可以采用連續(xù)讀取的方式,如果是小文件數(shù)據(jù),或者參數(shù)模型匹配數(shù)據(jù)等,可以采用單塊讀取的方式來測試驗(yàn)證。主要目的是驗(yàn)證,讀取的數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確,在傳輸過程中是否有發(fā)生變化或者翻轉(zhuǎn)。

對(duì)于寫入驗(yàn)證,可以按照時(shí)間產(chǎn)品的情況,是需要寫入大數(shù)據(jù)或者小文件數(shù)據(jù),按照多塊寫入的方式或者單塊寫入的方式來寫入數(shù)據(jù),并且還需要讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。來驗(yàn)證寫入的數(shù)據(jù)是正確,傳輸過程中是否出現(xiàn)了丟失數(shù)據(jù)或者翻轉(zhuǎn)的情況。

在整個(gè)測試和驗(yàn)證的過程中,如果出現(xiàn)了問題,可以隨時(shí)聯(lián)系雷龍公司進(jìn)行溝通,或者找雷龍公司獲取SD協(xié)議,自己對(duì)照協(xié)議來進(jìn)一步分析和解決。

3.性能方面,對(duì)于SD NAND來說,就是讀寫速度,對(duì)于讀寫速度的測試,我們可以依靠一些PC上的軟件,例如H2test ,HD tune,ATTO等,進(jìn)行SD NAND本身素質(zhì)的測試,這些測試可以評(píng)估存儲(chǔ)在連續(xù)讀寫,隨機(jī)讀寫時(shí)候的性能。這些測試的數(shù)據(jù),可以找雷龍公司獲取。但是當(dāng)SD NAND嵌入到客戶的產(chǎn)品中時(shí),性能的測試就是需要再客戶的板子上來進(jìn)行,根據(jù)客戶的CLK的設(shè)定頻率(最高支持50Mhz),以及寫入數(shù)據(jù)的大小來測試??梢允褂脝螇K寫入,或者連續(xù)寫入的方式來測試。如果客戶對(duì)于寫入速度有較高要求,可以先緩存一些數(shù)據(jù)到RAM中,再按照4K大小進(jìn)行寫入。如果客戶對(duì)于讀取速度有穩(wěn)定的要求,在測試驅(qū)動(dòng)軟件層面也可以進(jìn)行一些調(diào)整,達(dá)到優(yōu)化的效果。

4.穩(wěn)定性方面,對(duì)于SD NAND來說,就是持續(xù)穩(wěn)定工作,也就是在異常情況下也能正常工作或者恢復(fù),這個(gè)時(shí)候可以針對(duì)產(chǎn)品的特點(diǎn),看看可能出現(xiàn)的異常情況大概是什么樣的,進(jìn)行針對(duì)性的模擬,一般來說可能涉及到電壓的劇烈抖動(dòng),負(fù)載突然增大等情況,或者持續(xù)的高溫運(yùn)行等場景,加速老化。芯片行業(yè)有一個(gè)浴盆理論,初期的時(shí)候比較容易出問題,中間階段會(huì)穩(wěn)定運(yùn)行,到芯片的生命末期也容易出現(xiàn)問題。如果使測試階段有任何問題,也歡迎客戶發(fā)給雷龍公司,希望讓客戶順利批量的使用起來。

深圳市雷龍發(fā)展專注存儲(chǔ)行業(yè)13年,專業(yè)提供小容量存儲(chǔ)解決方案。

審核編輯 黃宇

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