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瞻芯電子交付碳化硅(SiC)MOSFET逾千萬顆 產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠性得到驗(yàn)證

半導(dǎo)體芯科技SiSC ? 來源:瞻芯電子 ? 作者:瞻芯電子 ? 2024-09-27 10:43 ? 次閱讀
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來源:瞻芯電子

近日,自2020年正式發(fā)布第一代碳化硅(SiC) MOSFET產(chǎn)品以來,瞻芯電子累計(jì)交付SiC MOSFET產(chǎn)品1000萬顆以上,其中包含近400萬顆車規(guī)級(jí)產(chǎn)品應(yīng)用在新能源汽車市場(chǎng),標(biāo)志著產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性得到了市場(chǎng)驗(yàn)證。

SiC MOSFET作為功率變換系統(tǒng)的核心元器件,其性能表現(xiàn)影響應(yīng)用系統(tǒng)的效率表現(xiàn)。而產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性則更為關(guān)鍵,它決定了應(yīng)用系統(tǒng)的安全和穩(wěn)定。

瞻芯電子CTO葉忠博士說:“對(duì)SiC MOSFET來說,產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證過程是一場(chǎng)馬拉松長(zhǎng)跑。產(chǎn)品通過可靠性測(cè)試認(rèn)證只是拿到參賽入場(chǎng)券,而長(zhǎng)期實(shí)際運(yùn)行表現(xiàn)才能驗(yàn)證真正的產(chǎn)品可靠性?!?/p>

葉忠博士進(jìn)一步介紹:“為了確保產(chǎn)品的高可靠性,我們針對(duì)SiC MOSFET的失效機(jī)理做了長(zhǎng)期的研究積累,并自主開發(fā)了一套錘擊老化測(cè)試系統(tǒng) (Hammer burn-in System),針對(duì)不同的產(chǎn)品失效機(jī)理,開展多種輔助測(cè)試篩查、加嚴(yán)測(cè)試和壽命測(cè)試?!?/p>

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瞻芯電子致力于為客戶提供高可靠的碳化硅(SiC)功率器件產(chǎn)品,其SiC MOSFET超千萬顆的交付量不僅是一項(xiàng)里程碑,更將成為公司對(duì)產(chǎn)品可靠性研究和持續(xù)提升的重要基石。

【近期會(huì)議】

10月30-31日,由寬禁帶半導(dǎo)體國(guó)家工程研究中心主辦的“化合物半導(dǎo)體先進(jìn)技術(shù)及應(yīng)用大會(huì)”將首次與大家在江蘇·常州相見,邀您齊聚常州新城希爾頓酒店,解耦產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)袌?chǎng)布局!https://w.lwc.cn/s/uueAru

11月28-29日,“第二屆半導(dǎo)體先進(jìn)封測(cè)產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新大會(huì)”將再次與各位相見于廈門,秉承“延續(xù)去年,創(chuàng)新今年”的思想,仍將由云天半導(dǎo)體與廈門大學(xué)聯(lián)合主辦,雅時(shí)國(guó)際商訊承辦,邀您齊聚廈門·海滄融信華邑酒店共探行業(yè)發(fā)展!誠(chéng)邀您報(bào)名參會(huì):https://w.lwc.cn/s/n6FFne


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審核編輯 黃宇


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