蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab作為一款專(zhuān)為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備開(kāi)發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供優(yōu)異的靈活性自動(dòng)化功能和用戶(hù)友好設(shè)計(jì)幫助半導(dǎo)體行業(yè)的樣品制備更加簡(jiǎn)便高效

全新界面用戶(hù)友好的軟件操作體驗(yàn)
配備直觀的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)圖形用戶(hù)界面軟件功能模塊高度整合，輕松上手無(wú)論是專(zhuān)家還是新手，都能擁有友好的操作體驗(yàn)

配置優(yōu)化提升設(shè)備和軟件的穩(wěn)定性
專(zhuān)門(mén)為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備而優(yōu)化的配置方案提高了設(shè)備和軟件的穩(wěn)定性
確保樣品制備的持續(xù)穩(wěn)定工作，提高實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)出

全新體驗(yàn)
全自動(dòng)TEM樣品制備流程
蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自動(dòng)解決方案
實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守的多點(diǎn)位TEM薄片制備
旨在優(yōu)化工作流程，一位操作員即可控制多臺(tái)設(shè)備
最大化生產(chǎn)力并確保樣品質(zhì)量

多樣制備
滿(mǎn)足原位/非原位樣品需求
具備強(qiáng)大的原位(in-situ,lift-out)與
非原位(ex-situ，pick-up)樣品全自動(dòng)制備能力適應(yīng)各種制樣方法的多樣需求

靈活操作
自由選擇手動(dòng)/自動(dòng)制樣
既支持手動(dòng)操作也支持自動(dòng)操作，適應(yīng)用戶(hù)偏好
在手動(dòng)或自動(dòng)工作流程中均能提供高質(zhì)量結(jié)果

憑借其優(yōu)異的靈活性、自動(dòng)化制樣功能以及用戶(hù)友好設(shè)計(jì)和穩(wěn)定性,蔡司 Crossbeam 550 Samplefab 將顯著提高半導(dǎo)體樣品制備的效率與精度,幫助工程師完成日常的高產(chǎn)量 TEM 薄片樣品制備。

蔡司致力于通過(guò)創(chuàng)新的技術(shù)解決方案,不斷推動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)邁向更高效、更精確的樣品制備新時(shí)代。