LibWiz標(biāo)準(zhǔn)單元庫驗證解決方案

產(chǎn)品簡介

隨著半導(dǎo)體工藝技術(shù)節(jié)點的日益成熟和復(fù)雜，在芯片設(shè)計過程中需要提供各種復(fù)雜的標(biāo)準(zhǔn)單元庫。多種庫之間的一致性和有效性必須得到保證，以消除不必要的設(shè)計延遲。

LibWiz為標(biāo)準(zhǔn)單元庫不同PVT組合之間的趨勢分析提供了一個解決方案，以確保其完整性。LibWiz基于分析結(jié)果還支持生成芯片設(shè)計者所需要的Library數(shù)據(jù)手冊。此外，LibWiz支持從全定制的版圖中高效地抽取示意版圖。

標(biāo)準(zhǔn)單元庫中包含VerilogHDL、OASIS(GDS-1I)、SPICE、Liberty和LEF，因而需重點確保庫中不同view的信息的一致性。LibWiz采用交叉檢查方法，在每個單元庫中提取常用主要元素并檢查庫之間的一致性。

LibWiz支持檢查所有庫的形式語法和語義，還支持按照順序過程來檢查功能的一致性及每個Cell的屬性，如面積、管腳列表、管腳屬性如管腳方向和時序路徑(Timing Arc)等。LibWiz可提供友好的圖形用戶界面環(huán)境，具有交叉檢查功能，并支持生成HTML、PDF和TXT格式的文件以方便檢查分析。

產(chǎn)品優(yōu)勢

·避免庫中不同View之間的信息不一致

·確保庫的完整性

·支持?jǐn)?shù)據(jù)手冊生成

·方便快捷地從物理版圖中生成LEF

產(chǎn)品應(yīng)用

·標(biāo)準(zhǔn)單元庫和10庫設(shè)計

·模擬/混合信號IP/全定制版圖設(shè)計

技術(shù)規(guī)格

·庫瀏覽功能

·一致性檢查功能

·Liberty分析功能

·Liberty衍生

·Abstract自動生成

·Datasheet自動生成

應(yīng)用實例

檢查庫中不同View的一致性

Liberty驗證功能