HIOKI日置最新發(fā)售新一代直流電阻計(jì) RM3542C。該儀器專為貼片電阻、鐵氧體磁珠等無源器件的批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高速且穩(wěn)定的合格判定。

RM3542C專為自動量產(chǎn)設(shè)備的集成應(yīng)用設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了可靠性與易用性的平衡。 為確保嚴(yán)苛的品質(zhì)檢測要求，該設(shè)備搭載多項(xiàng)核心功能：其一為 ΔR 功能，可自動比對工序間的電阻變化；其二為 BIN 判定功能，支持高速分選與分級（產(chǎn)品等級劃分）。此外，通過新開發(fā)的跳線電阻測量支持功能，在典型測試條件下的節(jié)拍時間較前代縮短約 76%（3.8 ms→0.9 ms）。借助這些功能，用戶能夠在維持高可靠性、穩(wěn)定性檢測標(biāo)準(zhǔn)的同時，實(shí)現(xiàn)檢測吞吐量的飛躍式提升。

開發(fā)背景

全球電子制造業(yè)持續(xù)提速，預(yù)計(jì)2025年產(chǎn)值同比增長8%，市場規(guī)模將突破3,990.9億美元*1。 隨著智能設(shè)備、汽車電子系統(tǒng)及工業(yè)設(shè)備的需求恢復(fù)，在檢測工序中，處理能力與判定標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一化愈發(fā)重要*2。

同時，制造商正擴(kuò)大采用超微型0201規(guī)格的貼片電阻與鐵氧體磁珠，推動檢測生產(chǎn)線在極短的節(jié)拍時間內(nèi)實(shí)現(xiàn)嚴(yán)格的精度要求。在多廠區(qū)、多工序的生產(chǎn)模式下，設(shè)備差異與環(huán)境變化容易引發(fā)測量偏差，進(jìn)而導(dǎo)致判定結(jié)果出現(xiàn)波動，尤其生產(chǎn)啟動或產(chǎn)線切換階段，極易造成判定標(biāo)準(zhǔn)的偏差。

針對上述行業(yè)痛點(diǎn)，電阻計(jì)RM3542C應(yīng)運(yùn)而生，它集測量、判定與工序間偏差控制功能于一身。通過設(shè)備內(nèi)部集成高速 ΔR 比較與自動分級功能，減少了對外部計(jì)算機(jī)的依賴，最大限度縮短了通訊等待時間（延遲/通訊時延），從而確保在所有生產(chǎn)工序中保持穩(wěn)定、高吞吐量及一致的品質(zhì)水平。

*1. 日本電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)協(xié)會（JEITA）“2024全球電子產(chǎn)品生產(chǎn)預(yù)測”
*2. 日本電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)協(xié)會（JEITA）統(tǒng)計(jì)，無源器件月度趨勢（示例數(shù)據(jù)）

主要特點(diǎn)

1

跳線電阻測量支持功能，縮短節(jié)拍時間

新開發(fā)的Jumper Mode將節(jié)拍時間縮短約76%（3.8 ms → 0.9 ms），并有效消除跳線電阻的檢測瓶頸，顯著提升產(chǎn)能。

2

內(nèi)置BIN（分級）判定，實(shí)現(xiàn)即時分選

RM3542C可在儀器內(nèi)直接執(zhí)行最多七檔BIN（分級 · 分選劃分）判定，結(jié)果通過I/O接口即時輸出。通過消除外部計(jì)算機(jī)處理和通訊的延遲，即使在節(jié)奏緊湊的自動化生產(chǎn)線上，系統(tǒng)亦可保持高速穩(wěn)定的運(yùn)行。

3

ΔR功能，抑制工序間電阻值波動

ΔR 功能可自動比對不同工位或產(chǎn)線的電阻值，精準(zhǔn)檢測由額定電壓施加所產(chǎn)生的微小變化。通過“比較器×ΔR”的雙重檢測，實(shí)現(xiàn)更嚴(yán)格的質(zhì)量篩選，確保高精度的貼片電阻和磁珠元件的可靠性。

4

增強(qiáng)可靠性與易用性

通過預(yù)設(shè)調(diào)用（事前設(shè)置注冊）、工位防錯、低負(fù)荷測量（施加電壓控制在 5V 以下，減少對檢測對象的影響）及接觸檢測等功能，最大限度降低設(shè)備安裝階段與維護(hù)過程中人為因素導(dǎo)致的誤差，以優(yōu)化的測量條件、高設(shè)備利用率持續(xù)開展高可靠性檢測。此外，RM3542C還符合工業(yè)環(huán)境的EMC標(biāo)準(zhǔn)，保障生產(chǎn)車間的長期穩(wěn)定運(yùn)行。

主要用途

• 貼片電阻生產(chǎn)線上的高速合格判定與分級
• 鐵氧體磁珠及電感器的的工序檢測與抽樣檢查
• 與編帶機(jī)（自動篩選?分類裝置）集成，實(shí)現(xiàn)全檢效率提升