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博世碳化硅技術路線圖持續(xù)演進

博世汽車電子事業(yè)部 ? 來源:博世汽車電子事業(yè)部 ? 2026-03-24 16:34 ? 次閱讀
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新能源汽車快速發(fā)展的背景下,碳化硅(SiC)功率半導體正成為推動電動化的重要核心技術。博世通過多代并行的研發(fā)策略,持續(xù)推進SiC MOSFET技術的演進,構建了清晰且可預期的技術路線圖。隨著第三代、第四代和第五代產(chǎn)品的逐步推出,碳化硅器件將在性能、成本與可靠性方面實現(xiàn)持續(xù)躍升,為電動汽車市場的規(guī)?;l(fā)展提供關鍵支撐。

持續(xù)演進的碳化硅技術路線

早在SiC MOSFET技術研發(fā)之初,博世就確立了一個清晰的目標:讓碳化硅技術能夠覆蓋不同級別的車型應用,從高性能電動車逐步擴展到更廣泛的電動化市場,成為汽車電氣化的重要驅動力。

如今,這一技術旅程仍在繼續(xù)?;诔墒斓拇怪睖喜郏╰rench)結構,博世正穩(wěn)步推進第三代、第四代和第五代SiC MOSFET技術的發(fā)展。在相同的功率等級下,隨著芯片尺寸不斷縮小,器件的功率密度和系統(tǒng)效率持續(xù)提升,并為整車廠帶來更具吸引力的成本優(yōu)勢與系統(tǒng)可擴展性。

第四代SiC MOSFET:基于溝槽技術的超窄元胞設計

在第三代產(chǎn)品的基礎上,第四代SiC MOSFET將通過顯著縮小元胞尺寸(cell pitch)實現(xiàn)一次重要的技術跨越。相比平面(planar)結構受限于表面柵極和溝道結構,溝槽技術是實現(xiàn)極小尺寸元胞的先決條件。

第四代SiC MOSFET的主要改進包括:

通過加深溝槽并減小溝槽寬度,使元胞尺寸距從約3微米縮小至2微米以下,實現(xiàn)更高水平的垂直拓展。

在保持器件可靠性的同時進一步提升功率密度,并降低單位面積導通電阻(RonA)。

在成熟的溝槽功率MOSFET架構基礎上實現(xiàn)性能提升,無需引入全新的器件結構。

第四代產(chǎn)品將專門針對200毫米晶圓制造平臺開發(fā),預計于2029年前后進入市場。

第五代SiC MOSFET:引入超結結構實現(xiàn)性能躍升

在第四代技術基礎上,第五代SiC MOSFET將通過引入超結(Superjunction)結構,實現(xiàn)下一階段的性能突破。

超結技術通過在漂移區(qū)引入精確控制的P型與N型交替摻雜區(qū)域,使器件能夠突破傳統(tǒng)單極型碳化硅材料在漂移區(qū)電阻方面的理論限制,從而顯著降低導通電阻。同時,這種結構還能優(yōu)化電場分布,提高器件在高電壓條件下的穩(wěn)定性。

第五代技術的設計與制造復雜度將進一步提升。目前,研發(fā)團隊正重點探索適合的制造工藝與功率模塊架構,包括采取措施來抑制諸如極高開關速度下的自激振蕩等現(xiàn)象。按照當前的研發(fā)進度,預計第五代SiC MOSFET 將于 2031 年左右問世 ,為SiC功率器件帶來全新的性能等級。

200毫米晶圓:

未來碳化硅技術的重要基礎

推動碳化硅技術持續(xù)演進的另一關鍵因素是晶圓制造平臺的升級。自2024年起,博世開始將碳化硅晶圓生產(chǎn)從150毫米逐步過渡到200毫米。與150毫米晶圓相比,200毫米晶圓的可用面積幾乎翻倍,可顯著提升制造效率并降低單位成本。

博世第二代碳化硅器件就開始受益于200毫米平臺 ,而從2027年起,后續(xù)所有新一代產(chǎn)品都將全面基于200毫米晶圓進行設計與生產(chǎn)。這一平臺升級不僅提高了制造精度與一致性,也為更加復雜的碳化硅器件結構提供了工業(yè)化基礎。

選擇博世SiC MOSFET的五大理由

隨著技術路線圖的逐步推進,博世SiC MOSFET將持續(xù)為汽車行業(yè)帶來多方面價值:

1.清晰的技術路線與持續(xù)的性能提升

多代技術演進帶來效率、功率密度、開關性能和可靠性的持續(xù)提升。

2.更小芯片尺寸,系統(tǒng)級成本優(yōu)勢

在相同功率水平下縮小芯片面積,有助于實現(xiàn)更加緊湊、經(jīng)濟的逆變器和功率模塊設計。

3.穩(wěn)定可靠的器件特性

提升短路耐受能力、優(yōu)化開關特性并減少寄生效應,使系統(tǒng)設計更加簡單可靠,添加設計裕量 。

4.基于200毫米晶圓的可擴展制造能力

盡早采用200毫米碳化硅晶圓技術,可實現(xiàn)更穩(wěn)定可靠的制造工藝,為先進技術鋪平道路。

5.面向未來的器件架構

基于溝槽的碳化硅平臺,并具備清晰向超結概念演進的技術路徑,使OEM能夠為下一代碳化硅功率器件的下一性能等級做好準備。

隨著電動化進程不斷加速,功率半導體技術的重要性愈發(fā)凸顯。從第三代到第五代SiC MOSFET的持續(xù)演進,博世正在通過清晰的技術路線圖,不斷突破效率、功率密度與系統(tǒng)可靠性的邊界。同時,通過率先推進200毫米碳化硅晶圓平臺以及持續(xù)深化溝槽結構與超結技術的研發(fā),博世為下一代高性能功率器件奠定了堅實的產(chǎn)業(yè)基礎。

面向未來,隨著新一代碳化硅技術逐步落地,碳化硅將在更廣泛的車型和應用場景中發(fā)揮關鍵作用,推動電動汽車在性能、成本與能效之間實現(xiàn)更優(yōu)平衡。沿著這條持續(xù)創(chuàng)新的技術之路,博世正攜手產(chǎn)業(yè)伙伴,共同加速電動出行時代的到來。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:博世碳化硅技術路線圖:創(chuàng)新之旅持續(xù)向前

文章出處:【微信號:AE_China_10,微信公眾號:博世汽車電子事業(yè)部】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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