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FDD5N60NZ N-Channel UniFET? II MOSFET:高性能MOSFET的技術解析

lhl545545 ? 2026-03-29 11:10 ? 次閱讀
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FDD5N60NZ N-Channel UniFET? II MOSFET:高性能MOSFET的技術解析

在電子工程領域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導體場效應晶體管)作為重要的電子元件,廣泛應用于各種電路設計中。今天,我們就來深入了解一下FDD5N60NZ這款N - Channel UniFET? II MOSFET。

文件下載:FDD5N60NZ-D.pdf

一、產(chǎn)品背景與變更說明

Fairchild Semiconductor已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,原編號中的下劃線(_)將改為破折號( - )。大家可以在ON Semiconductor網(wǎng)站上核實更新后的設備編號,最新的訂購信息也可在該網(wǎng)站獲取。若有關于系統(tǒng)集成的問題,可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。

二、FDD5N60NZ MOSFET特點與優(yōu)勢

1. 基本參數(shù)

FDD5N60NZ是一款600V、4.0A、2Ω的N - 通道UniFET? II MOSFET。在(V{GS}=10V),(I{D}=2.0A)的條件下,典型的靜態(tài)漏源導通電阻(R_{DS(on)})為1.65Ω 。

2. 電氣特性優(yōu)勢

  • 低柵極電荷:典型值為10nC,這意味著在開關過程中,能夠更快地對柵極進行充電和放電,從而提高開關速度,降低開關損耗。
  • 低(C_{rss}):典型值為5pF,較小的反向傳輸電容有助于減少米勒效應的影響,進一步提升開關性能。
  • 雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,說明該MOSFET在承受雪崩能量方面表現(xiàn)出色,具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。
  • 改善的dv/dt能力:能夠更好地應對電壓變化率,減少因電壓突變而導致的損壞風險。
  • ESD改善能力:內(nèi)部柵源ESD二極管使得該MOSFET能夠承受超過2kV的HBM(人體模型)浪涌應力,增強了對靜電的防護能力。
  • 符合RoHS標準:滿足環(huán)保要求,符合現(xiàn)代電子產(chǎn)品對環(huán)保的需求。

三、應用領域

FDD5N60NZ適用于多種應用場景,包括但不限于:

  • 顯示設備:如LCD/LED/PDP TV等,為顯示設備的電源電路提供穩(wěn)定的開關控制。
  • 照明領域:可用于各類照明設備的驅(qū)動電路,提高照明系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。
  • 不間斷電源(UPS):在UPS系統(tǒng)中,該MOSFET能夠?qū)崿F(xiàn)高效的功率轉(zhuǎn)換和開關控制,確保電源的穩(wěn)定輸出。

四、產(chǎn)品參數(shù)詳解

1. 最大額定值

符號 參數(shù) FDD5N60NZ值 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 600 V
(V_{GSS}) 柵源電壓 ±25 V
(I{D})((T{C}=25^{circ}C)) 連續(xù)漏極電流 4.0 A
(I{D})((T{C}=100^{circ}C)) 連續(xù)漏極電流 2.4 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 16 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 216 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 4.0 A
(E_{AR}) 重復雪崩能量 8.3 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復dv/dt 10 V/ns
(P{D})((T{C}=25^{circ}C)) 功率耗散 83 W
(P{D})((T{C})大于25°C時降額) 功率耗散降額 0.7 W/°C
(T{J}),(T{STG}) 工作和存儲溫度范圍 - 55至 + 150 °C
(T_{L}) 焊接時最大引腳溫度(距外殼1/8”,5秒) 300 °C

2. 熱特性

符號 參數(shù) FDD5N60NZ值 單位
(R_{θJC}) 結(jié)到外殼的熱阻(最大) 1.5 °C/W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) 90 °C/W

3. 電氣特性

  • 關斷特性:如漏源擊穿電壓(B{VDSS})在(I{D}=250μA),(V{GS}=0V),(T{J}=25^{circ}C)時為600V;零柵壓漏極電流(I_{DSS})在不同條件下有不同的值。
  • 導通特性:柵極閾值電壓(V{GS(th)})在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=250μA)時為3.0 - 5.0V;靜態(tài)漏源導通電阻(R{DS(on)})在(V{GS}=10V),(I_{D}=2.0A)時為1.65 - 2.00Ω。
  • 動態(tài)特性:輸入電容(C{iss})、輸出電容(C{oss})、反向傳輸電容(C_{rss})等都有相應的典型值和范圍。
  • 開關特性:包括導通延遲時間(t{d(on)})、導通上升時間(t{r})、關斷延遲時間(t{d(off)})和關斷下降時間(t{f})等。
  • 漏源二極管特性:如最大連續(xù)漏源二極管正向電流(I{S})為4.0A,最大脈沖漏源二極管正向電流(I{SM})為16A等。

五、典型性能特性

文檔中還給出了一系列典型性能特性曲線,如導通區(qū)域特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、轉(zhuǎn)移特性、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性等。這些曲線能夠幫助工程師更直觀地了解該MOSFET在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。

六、注意事項

1. 產(chǎn)品使用限制

ON Semiconductor產(chǎn)品不設計、不打算也未獲授權用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設備或類似分類的醫(yī)療設備以及人體植入設備。如果購買或使用該產(chǎn)品用于非預期或未授權的應用,買方需承擔相應責任。

2. 產(chǎn)品狀態(tài)定義

產(chǎn)品狀態(tài)分為不同類型,如提前信息(Formative / In Design)、初步(First Production)、無標識(Full Production)和過時(Not In Production),每種狀態(tài)有其對應的定義和特點,工程師在使用時需注意。

3. 反假冒政策

Fairchild Semiconductor采取了強有力的措施來保護自身和客戶免受假冒零件的侵害,建議客戶直接從Fairchild或其授權經(jīng)銷商處購買產(chǎn)品,以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可追溯性。

在實際的電子設計中,我們需要根據(jù)具體的應用需求,綜合考慮FDD5N60NZ的各項參數(shù)和特性,合理選擇和使用該MOSFET,以實現(xiàn)最佳的電路性能。大家在使用過程中遇到過哪些關于MOSFET的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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