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Onsemi FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ MOSFET技術(shù)剖析

lhl545545 ? 2026-03-29 14:35 ? 次閱讀
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Onsemi FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ MOSFET技術(shù)剖析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率器件,其性能的優(yōu)劣直接影響到整個(gè)電路的效率與穩(wěn)定性。今天我們來(lái)深入剖析Onsemi公司的FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ這兩款N溝道MOSFET。

文件下載:FDPF12N60NZ-D.PDF

產(chǎn)品概述

這兩款MOSFET屬于Onsemi的UniFET II系列,基于先進(jìn)的平面條紋和DMOS技術(shù)打造。UniFET II系列在平面MOSFET中擁有最小的導(dǎo)通電阻,同時(shí)具備出色的開關(guān)性能和較高的雪崩能量強(qiáng)度。其內(nèi)部的柵源ESD二極管使得該系列MOSFET能夠承受超過(guò)2 kV的HBM浪涌應(yīng)力。該系列產(chǎn)品適用于開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用,如功率因數(shù)校正(PFC)、平板顯示(FPD)電視電源、ATX電源和電子燈鎮(zhèn)流器等。

產(chǎn)品特性

低導(dǎo)通電阻

在(V{GS}=10 V),(I{D}=6 A)的典型條件下,(R_{DS(on)})為530 mΩ,這有助于降低功率損耗,提高電路效率。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中,低導(dǎo)通電阻能帶來(lái)哪些具體的優(yōu)勢(shì)呢?

低柵極電荷

典型值為26 nC的低柵極電荷,可減少開關(guān)過(guò)程中的能量損耗,提高開關(guān)速度。

低(C_{rss})

典型值為12 pF的(C_{rss}),有利于降低開關(guān)過(guò)程中的米勒效應(yīng),提升開關(guān)性能。

其他特性

  • 100%雪崩測(cè)試,保證了產(chǎn)品的可靠性。
  • 改進(jìn)的dv/dt能力,增強(qiáng)了器件在高速開關(guān)時(shí)的穩(wěn)定性。
  • 增強(qiáng)的ESD能力,提高了器件的抗靜電能力。
  • 符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

產(chǎn)品參數(shù)

最大額定值

符號(hào) 參數(shù) FDP12N60NZ FDPF12N60NZ 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 600 600 V
(V_{GSS}) 柵源電壓 ±30 ±30 V
(I_{D}) 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=25^{circ}C)) 12 12* A
(I_{D}) 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=100^{circ}C)) 7.2 7.2* A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 48 48* A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 565 565 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 12 12 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 24 24 mJ
(dv/dt) MOSFET dv/dt魯棒性 20 20 V/ns
峰值二極管恢復(fù)dv/dt 10 10 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 240 39 W
(P_{D}) 降額系數(shù)((T_{C}>25^{circ}C)) 2.0 0.3 W/°C
(T{J},T{STG}) 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 -55 至 +150 -55 至 +150 °C
(T_{L}) 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8",5秒) 300 300 °C

需要注意的是,漏極電流受最大結(jié)溫限制。

熱特性

符號(hào) 參數(shù) FDP12N60NZ FDPF12N60NZ 單位
(R_{theta JC}) 結(jié)到外殼熱阻(最大) 0.52 3.2 °C/W
(R_{theta JA}) 結(jié)到環(huán)境熱阻(最大) 62.5 62.5 °C/W

電氣特性

在(T{J}=25^{circ}C)的條件下,涵蓋了關(guān)斷特性、導(dǎo)通特性、動(dòng)態(tài)特性、開關(guān)特性和漏源二極管特性等多個(gè)方面。例如,關(guān)斷特性中的漏源擊穿電壓(B{V DSS})為600 V;導(dǎo)通特性中,(V{GS(th)})(柵極閾值電壓)在3 - 5 V之間,(R{DS(on)})(靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻)在典型條件下為0.53 Ω,最大為0.65 Ω。

典型性能特性

導(dǎo)通區(qū)域特性

通過(guò)圖1可以看到不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。這對(duì)于我們理解器件在不同工作條件下的導(dǎo)通性能非常有幫助。大家在實(shí)際應(yīng)用中,如何根據(jù)這個(gè)特性來(lái)選擇合適的工作點(diǎn)呢?

轉(zhuǎn)移特性

圖2展示了在不同溫度下,漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。溫度對(duì)器件的轉(zhuǎn)移特性有顯著影響,在設(shè)計(jì)時(shí)需要充分考慮。

導(dǎo)通電阻變化特性

圖3和圖8分別展示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流、柵源電壓以及溫度的變化關(guān)系。了解這些特性有助于我們?cè)诓煌r下合理使用器件,降低功率損耗。

電容特性

圖5展示了輸入電容(C{iss})、輸出電容(C{oss})和反向傳輸電容(C_{rss})隨漏源電壓的變化關(guān)系。電容特性對(duì)開關(guān)速度和開關(guān)損耗有重要影響。

柵極電荷特性

圖6展示了總柵極電荷隨柵源電壓和漏源電壓的變化關(guān)系。低柵極電荷有利于提高開關(guān)速度和降低開關(guān)損耗。

擊穿電壓變化特性

圖7展示了漏源擊穿電壓隨溫度的變化關(guān)系。在高溫環(huán)境下,擊穿電壓會(huì)發(fā)生一定的變化,設(shè)計(jì)時(shí)需要考慮這一因素。

最大安全工作區(qū)

圖9和圖10展示了兩款器件的最大安全工作區(qū)。在設(shè)計(jì)電路時(shí),必須確保器件的工作點(diǎn)在安全工作區(qū)內(nèi),以避免器件損壞。

最大漏極電流與外殼溫度關(guān)系

圖11展示了最大漏極電流隨外殼溫度的變化關(guān)系。隨著溫度升高,最大漏極電流會(huì)降低,這是由于器件的散熱能力和熱穩(wěn)定性限制。

瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線

圖12和圖13分別展示了兩款器件的瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線。了解瞬態(tài)熱響應(yīng)特性有助于我們?cè)诿}沖工作條件下合理設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)。

應(yīng)用領(lǐng)域

這兩款MOSFET適用于多種領(lǐng)域,如LCD、LED、PDP電視,照明以及不間斷電源等。在這些應(yīng)用中,其高性能的特性能夠充分發(fā)揮作用,提高系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。

封裝信息

FDP12N60NZ采用TO - 220封裝,F(xiàn)DPF12N60NZ采用TO - 220F封裝,均以1000個(gè)/管的方式發(fā)貨。同時(shí),文檔還提供了詳細(xì)的機(jī)械外殼外形和封裝尺寸信息,方便工程師進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)。

Onsemi的FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ MOSFET憑借其出色的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,為電子工程師在設(shè)計(jì)開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器等電路時(shí)提供了可靠的選擇。在實(shí)際應(yīng)用中,我們需要根據(jù)具體的設(shè)計(jì)需求,充分考慮器件的各項(xiàng)特性和參數(shù),以確保電路的性能和可靠性。大家在使用這兩款器件時(shí),遇到過(guò)哪些問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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