探索FQD19N10L N溝道MOSFET:性能、特性與應(yīng)用
在電子工程師的日常工作中,MOSFET是一個(gè)常見(jiàn)且關(guān)鍵的器件。今天,我們就來(lái)深入探討一款由安森美(onsemi)生產(chǎn)的N溝道增強(qiáng)型功率MOSFET——FQD19N10L。
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一、產(chǎn)品概述
FQD19N10L采用了安森美的專有平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過(guò)特別定制,旨在降低導(dǎo)通電阻,提供出色的開(kāi)關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。它適用于開(kāi)關(guān)模式電源、音頻放大器、直流電機(jī)控制和可變開(kāi)關(guān)電源等多種應(yīng)用。
二、產(chǎn)品特性
(一)電氣特性
- 電壓與電流:該器件的漏源電壓(VDSS)為100V,連續(xù)漏極電流在25°C時(shí)為15.6A,100°C時(shí)為9.8A,脈沖漏極電流可達(dá)62.4A。這使得它能夠在不同的溫度和工作條件下穩(wěn)定工作。
- 導(dǎo)通電阻:在VGS = 10V時(shí),靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻RDS(on)最大為100mΩ,典型值為74mΩ。低導(dǎo)通電阻有助于降低功耗,提高效率。
- 柵極特性:柵極閾值電壓VGS(th)在1.0 - 2.0V之間,總柵極電荷Qg典型值為14nC,低柵極電荷意味著更快的開(kāi)關(guān)速度。
- 電容特性:輸入電容Ciss典型值為670pF,輸出電容Coss典型值為160pF,反向傳輸電容Crss典型值為35pF。這些電容值影響著器件的開(kāi)關(guān)性能。
(二)其他特性
- 雪崩特性:經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,單脈沖雪崩能量EAS為220mJ,雪崩電流IAR為15.6A,重復(fù)雪崩能量EAR為5.0mJ,顯示出良好的雪崩耐受能力。
- 溫度特性:工作和存儲(chǔ)溫度范圍為 - 55°C至 + 150°C,能夠適應(yīng)較為惡劣的環(huán)境條件。
三、絕對(duì)最大額定值
| 絕對(duì)最大額定值是保證器件安全工作的重要參數(shù)。FQD19N10L的一些關(guān)鍵絕對(duì)最大額定值如下: | 參數(shù) | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| VDSS(漏源電壓) | 100 | V | |
| ID(連續(xù)漏極電流,25°C) | 15.6 | A | |
| ID(連續(xù)漏極電流,100°C) | 9.8 | A | |
| IDM(脈沖漏極電流) | 62.4 | A | |
| VGSS(柵源電壓) | ±20 | V | |
| EAS(單脈沖雪崩能量) | 220 | mJ | |
| IAR(雪崩電流) | 15.6 | A | |
| EAR(重復(fù)雪崩能量) | 5.0 | mJ | |
| dv/dt(峰值二極管恢復(fù)dv/dt) | 6.0 | V/ns | |
| PD(功率耗散,TA = 25°C) | 2.5 | W | |
| PD(功率耗散,TC = 25°C) | 50 | W | |
| TJ, TSTG(工作和存儲(chǔ)溫度范圍) | -55至 + 150 | °C | |
| TL(焊接時(shí)最大引腳溫度) | 300 | °C |
需要注意的是,超過(guò)這些額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
四、熱特性
熱特性對(duì)于功率器件來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。FQD19N10L的熱阻參數(shù)如下:
- 結(jié)到外殼的熱阻RJC最大為2.5°C/W。
- 結(jié)到環(huán)境的熱阻,在2盎司銅最小焊盤(pán)時(shí)最大為110°C/W,在1平方英寸2盎司銅焊盤(pán)時(shí)最大為50°C/W。
合理的散熱設(shè)計(jì)可以確保器件在工作時(shí)保持在合適的溫度范圍內(nèi),提高其穩(wěn)定性和壽命。
五、典型特性曲線
數(shù)據(jù)手冊(cè)中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性等。這些曲線可以幫助工程師更好地了解器件在不同工作條件下的性能。例如,通過(guò)導(dǎo)通電阻隨溫度的變化曲線,我們可以預(yù)測(cè)在不同溫度下器件的功耗情況。
六、測(cè)試電路與波形
數(shù)據(jù)手冊(cè)中還給出了多種測(cè)試電路和波形,如柵極電荷測(cè)試電路、電阻性開(kāi)關(guān)測(cè)試電路、無(wú)鉗位電感開(kāi)關(guān)測(cè)試電路和峰值二極管恢復(fù)dv/dt測(cè)試電路等。這些測(cè)試電路和波形可以幫助工程師驗(yàn)證器件的性能,在實(shí)際設(shè)計(jì)中進(jìn)行參考。例如,通過(guò)柵極電荷測(cè)試電路和波形,我們可以準(zhǔn)確測(cè)量器件的柵極電荷特性。
七、封裝與訂購(gòu)信息
FQD19N10L采用DPAK3(TO - 252 3 LD)封裝,卷盤(pán)尺寸為330mm,膠帶寬度為16mm,每卷2500個(gè)。在訂購(gòu)時(shí),需要注意器件代碼、組裝廠代碼、日期代碼和批次追溯代碼等信息。
八、總結(jié)與思考
FQD19N10L是一款性能出色的N溝道MOSFET,具有低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、高雪崩能量強(qiáng)度等優(yōu)點(diǎn),適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合器件的特性和參數(shù)進(jìn)行合理選擇和設(shè)計(jì)。例如,在開(kāi)關(guān)模式電源設(shè)計(jì)中,如何根據(jù)負(fù)載電流和電壓要求選擇合適的MOSFET?如何進(jìn)行散熱設(shè)計(jì)以確保器件的可靠性?這些都是值得我們深入思考的問(wèn)題。
希望通過(guò)本文的介紹,能讓大家對(duì)FQD19N10L有更深入的了解,在實(shí)際工作中更好地應(yīng)用這款器件。如果你在使用過(guò)程中有任何問(wèn)題或經(jīng)驗(yàn),歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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