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探索 onsemi NTUD3170NZ 雙 N 溝道小信號(hào) MOSFET 的卓越性能

lhl545545 ? 2026-04-19 15:20 ? 次閱讀
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探索 onsemi NTUD3170NZ 雙 N 溝道小信號(hào) MOSFET 的卓越性能

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,對(duì)于高性能、小尺寸的 MOSFET 需求日益增長(zhǎng)。今天,我們就來深入了解 onsemi 推出的 NTUD3170NZ 雙 N 溝道小信號(hào) MOSFET,看看它在實(shí)際應(yīng)用中能帶來怎樣的驚喜。

文件下載:NTUD3170NZ-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTUD3170NZ 是一款雙 N 溝道 MOSFET,采用超小型 1.0 x 1.0 mm SOT - 963 封裝,具備 20 V、220 mA 的規(guī)格。它不僅提供了低導(dǎo)通電阻(RDS(ON))的解決方案,還擁有 1.5 V 的柵極電壓額定值,超薄外形(<0.5 mm)使其能輕松適配如便攜式電子設(shè)備等超薄環(huán)境,并且符合無鉛標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品特性亮點(diǎn)

低導(dǎo)通電阻

該 MOSFET 提供了低 RDS(ON) 解決方案,不同柵極電壓下的導(dǎo)通電阻表現(xiàn)如下:

  • 在 (V{GS}=4.5 V),(I{D}=100 mA) 時(shí),RDS(ON) 典型值為 0.75 Ω,最大值為 1.5 Ω。
  • (V{GS}=2.5 V),(I{D}=50 mA) 時(shí),典型值為 1.0 Ω,最大值為 2.0 Ω。
  • (V{GS}=1.8 V),(I{D}=20 mA) 時(shí),典型值為 1.4 Ω,最大值為 3.0 Ω。
  • (V{GS}=1.5 V),(I{D}=10 mA) 時(shí),典型值為 1.8 Ω,最大值為 4.5 Ω。 低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下功耗更低,能有效提高電路效率,減少發(fā)熱,這對(duì)于對(duì)功耗敏感的便攜式設(shè)備尤為重要。

超薄外形

其超薄外形(<0.5 mm)設(shè)計(jì),使得它可以輕松集成到超薄的電子設(shè)備中,滿足了現(xiàn)代便攜式電子產(chǎn)品對(duì)輕薄化的需求。大家可以思考一下,在設(shè)計(jì)諸如智能手表、無線耳機(jī)等超薄設(shè)備時(shí),這種超薄 MOSFET 是不是能為產(chǎn)品的小型化帶來很大的便利呢?

低電壓驅(qū)動(dòng)

具有 1.5 V 柵極電壓額定值,可在較低電壓下工作,這對(duì)于采用電池供電的便攜式設(shè)備來說,能夠有效降低功耗,延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間。

主要應(yīng)用場(chǎng)景

通用接口開關(guān)

適用于各種通用接口的開關(guān)應(yīng)用,能夠?qū)崿F(xiàn)信號(hào)的快速切換和控制,確保電子設(shè)備之間的穩(wěn)定通信。

超便攜式設(shè)備電源管理

針對(duì)超便攜式設(shè)備的電源管理進(jìn)行了優(yōu)化,可有效控制電源的導(dǎo)通和斷開,提高電源利用效率,延長(zhǎng)設(shè)備的使用時(shí)間。

模擬開關(guān)

在模擬電路中可作為模擬開關(guān)使用,實(shí)現(xiàn)模擬信號(hào)的切換和處理,保證信號(hào)的質(zhì)量和穩(wěn)定性。

產(chǎn)品參數(shù)解讀

最大額定值

參數(shù) 符號(hào) 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 20 V
柵源電壓 (V_{GS}) ±8 V
連續(xù)漏極電流((T_{A}=25^{circ} C) 穩(wěn)態(tài)) (I_{D}) 220 mA
連續(xù)漏極電流((T_{A}=85^{circ} C) 穩(wěn)態(tài)) (I_{D}) 160 mA
脈沖漏極電流((t_{p}=10 s)) (I_{DM}) 800 mA
功率耗散((T_{A}=25^{circ} C) 穩(wěn)態(tài)) (P_{D}) 125 mW
功率耗散((t = 5 s)) (P_{D}) 200 mW
工作結(jié)溫和儲(chǔ)存溫度 (T{J}),(T{STG}) -55 至 150 °C
源極電流(體二極管 (I_{S}) 200 mA
焊接用引腳溫度(距外殼 1/8” 處 10 s) (T_{L}) 260 °C

這些最大額定值限定了 MOSFET 的使用范圍,在設(shè)計(jì)電路時(shí),我們必須確保各個(gè)參數(shù)不超過這些額定值,否則可能會(huì)損壞器件,影響其性能和可靠性。

熱阻額定值

參數(shù) 符號(hào) 最大值 單位
結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài)) 1000 °C/W
結(jié)到環(huán)境熱阻((t = 5 s)) (R_{θJA}) 600 °C/W

熱阻是衡量器件散熱能力的重要指標(biāo),較低的熱阻意味著器件能夠更有效地將熱量散發(fā)出去,從而保證其在正常溫度范圍內(nèi)工作。在實(shí)際應(yīng)用中,我們可以通過合理的散熱設(shè)計(jì)來進(jìn)一步降低熱阻,提高器件的性能和可靠性。

電氣特性

  • 關(guān)斷特性:包括漏源擊穿電壓((V{(BR)DSS}))、零柵壓漏極電流((I{DSS}))、柵源泄漏電流((I{GS}))等參數(shù),這些參數(shù)反映了 MOSFET 在關(guān)斷狀態(tài)下的性能。例如,(V{GS}=0 V),(I{D}=250 mu A) 時(shí),(V{(BR)DSS}) 最小值為 20 V,這保證了在一定條件下器件能夠可靠地關(guān)斷。
  • 導(dǎo)通特性:如柵極閾值電壓((V{GS(TH)}))、漏源導(dǎo)通電阻((R{DS(ON)}))、正向跨導(dǎo)((g{fs}))、源 - 漏二極管電壓((V{SD}))等。這些特性決定了 MOSFET 在導(dǎo)通狀態(tài)下的性能,例如低的 (R_{DS(ON)}) 可以降低導(dǎo)通損耗。
  • 電容特性:輸入電容((C{ISS}))、輸出電容((C{OSS}))、反向傳輸電容((C_{RSS}))等,這些電容會(huì)影響 MOSFET 的開關(guān)速度和動(dòng)態(tài)性能。
  • 開關(guān)特性:包括導(dǎo)通延遲時(shí)間((t{d(ON)}))、上升時(shí)間((t{r}))、關(guān)斷延遲時(shí)間((t{d(OFF)}))、下降時(shí)間((t{f}))等。開關(guān)特性對(duì)于需要快速開關(guān)的應(yīng)用非常重要,例如在開關(guān)電源和高頻電路中。

封裝與引腳信息

NTUD3170NZ 采用 SOT - 963 封裝,引腳排列有多種樣式可供選擇,如 STYLE 9 中,引腳 1 為源極 1,引腳 2 為柵極 1,引腳 3 為漏極 2 等。同時(shí),文檔還提供了詳細(xì)的封裝尺寸信息,包括各個(gè)尺寸的最小值、標(biāo)稱值和最大值,這對(duì)于 PCB 設(shè)計(jì)和布局非常重要。在進(jìn)行 PCB 設(shè)計(jì)時(shí),我們需要根據(jù)這些尺寸信息合理安排 MOSFET 的位置和布線,以確保其正常工作。

總結(jié)

onsemi 的 NTUD3170NZ 雙 N 溝道小信號(hào) MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、超薄外形、低電壓驅(qū)動(dòng)等特性,在通用接口開關(guān)、超便攜式設(shè)備電源管理和模擬開關(guān)等應(yīng)用場(chǎng)景中具有很大的優(yōu)勢(shì)。通過對(duì)其各項(xiàng)參數(shù)的深入了解,我們可以更好地將其應(yīng)用到實(shí)際設(shè)計(jì)中,提高電路的性能和可靠性。在實(shí)際使用過程中,大家可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合這些特性和參數(shù),充分發(fā)揮該 MOSFET 的優(yōu)勢(shì)。同時(shí),也要注意遵循其最大額定值和使用規(guī)范,確保器件的正常運(yùn)行。

希望這篇文章能幫助大家更好地了解 NTUD3170NZ MOSFET,如果你在使用過程中有任何問題或經(jīng)驗(yàn),歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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