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onsemi FQA40N25 N - 通道QFET MOSFET深度解析

我快閉嘴 ? 2026-04-20 14:30 ? 次閱讀
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onsemi FQA40N25 N - 通道QFET MOSFET深度解析

開關(guān)電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用領(lǐng)域,MOSFET 器件的性能起著關(guān)鍵作用。今天,我們來深入探討 onsemi 的 FQA40N25 N - 通道增強型功率 MOSFET,看看它有哪些獨特之處。

文件下載:FQA40N25-D.pdf

產(chǎn)品概述

FQA40N25 采用 onsemi 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)制造。這種先進的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過特別優(yōu)化,旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度。它適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

產(chǎn)品特性

  • 低柵極電荷:典型值為 85 nC,這有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度,從而提升整個電路的效率。
  • 低 Crss:典型值為 70 pF,較小的反向傳輸電容可以降低米勒效應(yīng)的影響,使開關(guān)過程更加穩(wěn)定。
  • 100% 雪崩測試:這意味著該器件在雪崩狀態(tài)下具有較高的可靠性,能夠承受一定的能量沖擊而不損壞。
  • 無鉛器件:符合環(huán)保要求,響應(yīng)了綠色電子的發(fā)展趨勢。

絕對最大額定值

符號 參數(shù) 單位
VDSS 漏源電壓 250 V
ID(TC = 25°C) 連續(xù)漏極電流(25°C) 40 A
ID(TC = 100°C) 連續(xù)漏極電流(100°C) 25 A
IDM 脈沖漏極電流 160 A
VGSS 柵源電壓 ±30 V
EAS 單脈沖雪崩能量 800 mJ
IAR 雪崩電流 40 A
EAR 重復(fù)雪崩能量 28 mJ
dv/dt 峰值二極管恢復(fù) dv/dt 5.5 V/ns
PD(TC = 25°C) 功率耗散(25°C) 280 W
PD(Derate above 25°C) 25°C 以上降額 2.22 W/°C
TJ, TSTG 工作和存儲溫度范圍 -55 至 +150 °C
TL 焊接用最大引腳溫度(距外殼 1/8″,5 秒) 300 °C

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱特性

熱阻(結(jié)到外殼)最大值為 0.24 °C/W。良好的熱特性有助于器件在工作過程中及時散熱,保證其穩(wěn)定性和壽命。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 擊穿電壓溫度系數(shù):0.24
  • 零柵極電壓漏極電流:在 VDS = 250 V,VGS = 0 V 時,最大值為 1 μA;在 VDS = 125 V,TC = 125°C 時,也有相應(yīng)規(guī)定。
  • 柵 - 體正向泄漏電流:在 VGS = 25 V,VDS = 0 V 時,最大值為 100 nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:在 VGS = 10 V,ID = 20 A 時,導(dǎo)通電阻 RDS(on) 最大值為 0.07 Ω。

動態(tài)特性

  • 輸入電容 Ciss:在 VDS = 25 V,VGS = 0 V,f = 1.0 MHz 時,典型值為 3100 pF,最大值為 400 pF。
  • 輸出電容 Coss:典型值為 620 pF,最大值為 800 pF。
  • 反向傳輸電容 Crss:典型值為 3100 pF,最大值為 400 pF。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時間 td(on):典型值為 150 ns。
  • 導(dǎo)通上升時間 tr:有相應(yīng)規(guī)定。
  • 關(guān)斷下降時間 tf:典型值為 165 ns,最大值為 340 ns。
  • 總柵極電荷 Qg:在 VDS = 200 V,ID = 20 A 時,有具體數(shù)值。
  • 柵 - 源電荷 Qgs:有相應(yīng)規(guī)定。

漏源二極管特性和最大額定值

  • VSD:在 VGS = 25 V,IS = 40 A 時,有具體表現(xiàn)。
  • tr:在 dlF/dt = 100 A/μs 時,有相應(yīng)規(guī)定。

典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線為工程師在實際應(yīng)用中評估器件性能提供了重要依據(jù)。

機械外殼和封裝尺寸

FQA40N25 采用 TO - 3P - 3LD / EIAJ SC - 65 封裝,外殼為隔離式 CASE 340BZ。詳細的封裝尺寸信息有助于工程師進行 PCB 設(shè)計和布局。

總結(jié)

onsemi 的 FQA40N25 N - 通道 QFET MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度,在開關(guān)電源、PFC 和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。其豐富的電氣特性和典型特性曲線為工程師提供了全面的參考,便于進行電路設(shè)計和性能評估。不過,在實際應(yīng)用中,工程師仍需根據(jù)具體的工作條件對器件的性能進行驗證,以確保其滿足設(shè)計要求。你在使用類似 MOSFET 器件時,有沒有遇到過什么問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗。

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